比表面及孔徑分布分析儀產(chǎn)品及廠家
貝士德3h-2000ps型硅藻泥材料比表面及孔徑分析儀，具有2/4個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，1/2/4個(gè)樣品分析站。測試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時(shí)間:2025-11-05
貝士德3h-2000ps型二氧化硅粉末比表面積分析儀，具有2/4個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，1/2/4個(gè)樣品分析站。測試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時(shí)間:2025-11-05
3h-2000pm2比表面積及孔徑分析儀屬于研究級儀器，可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測試結(jié)果，適用于對研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時(shí)間:2025-11-05
3h-2000pm2比表面積及孔徑分析儀屬于研究級儀器，可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測試結(jié)果，適用于對研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時(shí)間:2025-11-05
3h-2000pm1硅基氣凝膠比表面積及孔徑分析儀屬于研究級儀器，可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測試結(jié)果，可升級為雙站微孔測試功能，適用于對研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時(shí)間:2025-11-05
3h-2000pm1硫基氣凝膠比表面積及孔徑分析儀屬于研究級儀器，可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測試結(jié)果，可升級為雙站微孔測試功能，適用于對研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時(shí)間:2025-11-05
3h-2000pm1多孔碳材料比表面積及孔徑分析儀屬于研究級儀器，可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測試結(jié)果，可升級為雙站微孔測試功能，適用于對研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時(shí)間:2025-11-05
3h-2000pm1α-氧化鋁比表面積及孔徑分析儀屬于研究級儀器，可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測試結(jié)果，可升級為雙站微孔測試功能，適用于對研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時(shí)間:2025-11-05
3h-2000pm1催化劑顆粒比表面積及孔徑分析儀屬于研究級儀器，可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測試結(jié)果，可升級為雙站微孔測試功能，適用于對研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時(shí)間:2025-11-05
3h-2000pb pe電池隔膜孔徑分析儀，其基本原理為氣液排驅(qū)技術(shù)（泡壓法）：給膜兩側(cè)施加壓力差，克服膜孔道內(nèi)的浸潤液的表面張力，驅(qū)動(dòng)浸潤液通過孔道，依此獲得膜類材料的通孔孔喉的孔徑數(shù)據(jù) ，同時(shí)該方法也是astm薄膜測定的標(biāo)準(zhǔn)方法。
更新時(shí)間:2025-11-05
貝士德3h-2000ps型比表面及孔徑分析儀，具有2/4個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，1/2/4個(gè)樣品分析站。測試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時(shí)間:2025-11-05
貝士德3h-2000ps型比表面及孔徑分析儀，具有2/4個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，1/2/4個(gè)樣品分析站。測試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時(shí)間:2025-11-05
貝士德3h-2000ps型比表面及孔徑分析儀，具有2/4個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，1/2/4個(gè)樣品分析站。測試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
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貝士德3h-2000ps型比表面及孔徑分析儀，具有2/4個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，1/2/4個(gè)樣品分析站。測試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
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貝士德3h-2000ps型比表面及孔徑分析儀，具有2/4個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，1/2/4個(gè)樣品分析站。測試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
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貝士德3h-2000ps型比表面及孔徑分析儀，具有2/4個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，1/2/4個(gè)樣品分析站。測試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
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貝士德3h-2000ps型比表面積分析儀，具有2/4個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，1/2/4個(gè)樣品分析站。測試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時(shí)間:2025-11-05
貝士德3h-2000ps型比表面積及孔徑分析儀，具有2/4個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，1/2/4個(gè)樣品分析站。測試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時(shí)間:2025-11-05
貝士德3h-2000ps型比表面積及孔徑分析儀，具有2/4個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，1/2/4個(gè)樣品分析站。測試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時(shí)間:2025-11-05
貝士德3h-2000ps型比表面積及孔徑分析儀，具有2/4個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，1/2/4個(gè)樣品分析站。測試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時(shí)間:2025-11-05
貝士德3h-2000ps型比表面積及孔徑分析儀，具有2/4個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，1/2/4個(gè)樣品分析站。測試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時(shí)間:2025-11-05
貝士德3h-2000ps型bet分析儀，具有2/4個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，1/2/4個(gè)樣品分析站。測試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時(shí)間:2025-11-05
貝士德3h-2000ps型bet分析儀，具有2/4個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，1/2/4個(gè)樣品分析站。測試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時(shí)間:2025-11-05
貝士德3h-2000ps型bet分析儀，具有2/4個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，1/2/4個(gè)樣品分析站。測試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時(shí)間:2025-11-05
貝士德3h-2000ps型bet分析儀，具有2/4個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，1/2/4個(gè)樣品分析站。測試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時(shí)間:2025-11-05
3h-2000pm1高性能比表面及孔徑分析儀屬于研究級儀器，可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測試結(jié)果，可升級為雙站微孔測試功能，適用于對研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。集裝閥門和管路設(shè)計(jì)，模塊化組裝，保證儀器高真空度和高密封性，是高性能和高穩(wěn)定性的典型。
更新時(shí)間:2025-11-05
3h-2000pm1高性能比表面分析儀屬于研究級儀器，可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測試結(jié)果，可升級為雙站微孔測試功能，適用于對研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。集裝閥門和管路設(shè)計(jì)，模塊化組裝，保證儀器高真空度和高密封性，是高性能和高穩(wěn)定性的典型。
更新時(shí)間:2025-11-05
3h-2000pm2高性能比表面及孔徑分析儀屬于研究級儀器，可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測試結(jié)果，可升級為雙站微孔測試功能，適用于對研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。集裝閥門和管路設(shè)計(jì)，模塊化組裝，保證儀器高真空度和高密封性，是高性能和高穩(wěn)定性的典型產(chǎn)品。
更新時(shí)間:2025-11-05
3h-2000pm2高性能比表面及孔徑分析儀屬于研究級儀器，可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測試結(jié)果，可升級為雙站微孔測試功能，適用于對研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。集裝閥門和管路設(shè)計(jì)，模塊化組裝，保證儀器高真空度和高密封性，是高性能和高穩(wěn)定性的典型產(chǎn)品。
更新時(shí)間:2025-11-05
3h-2000pm2高性能比表面及孔徑分析儀屬于研究級儀器，可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測試結(jié)果，可升級為雙站微孔測試功能，適用于對研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。集裝閥門和管路設(shè)計(jì)，模塊化組裝，保證儀器高真空度和高密封性，是高性能和高穩(wěn)定性的典型產(chǎn)品。
更新時(shí)間:2025-11-05
3h-2000pm2高性能比表面及孔徑分析儀屬于研究級儀器，可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測試結(jié)果，可升級為雙站微孔測試功能，適用于對研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。集裝閥門和管路設(shè)計(jì)，模塊化組裝，保證儀器高真空度和高密封性，是高性能和高穩(wěn)定性的典型產(chǎn)品。
更新時(shí)間:2025-11-05
3h-2000pm2高性能比表面及孔徑分析儀屬于研究級儀器，可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測試結(jié)果，可升級為雙站微孔測試功能，適用于對研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。集裝閥門和管路設(shè)計(jì)，模塊化組裝，保證儀器高真空度和高密封性，是高性能和高穩(wěn)定性的典型產(chǎn)品。
更新時(shí)間:2025-11-05
3h-2000pm2高性能比表面及孔徑分析儀屬于研究級儀器，可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測試結(jié)果，可升級為雙站微孔測試功能，適用于對研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。集裝閥門和管路設(shè)計(jì)，模塊化組裝，保證儀器高真空度和高密封性，是高性能和高穩(wěn)定性的典型產(chǎn)品。
更新時(shí)間:2025-11-05
3h-2000pm高性能比表面及孔徑分析儀屬于研究級儀器，可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測試結(jié)果，可升級為雙站微孔測試功能，適用于對研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。集裝閥門和管路設(shè)計(jì)，模塊化組裝，保證儀器高真空度和高密封性，是高性能和高穩(wěn)定性的典型產(chǎn)品。
更新時(shí)間:2025-11-05
3h-2000pm高性能比表面及孔徑分析儀屬于研究級儀器，可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測試結(jié)果，可升級為雙站微孔測試功能，適用于對研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。集裝閥門和管路設(shè)計(jì)，模塊化組裝，保證儀器高真空度和高密封性，是高性能和高穩(wěn)定性的典型產(chǎn)品。
更新時(shí)間:2025-11-05
3h-2000pm高性能比表面及孔徑分析儀屬于研究級儀器，可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測試結(jié)果，可升級為雙站微孔測試功能，適用于對研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。集裝閥門和管路設(shè)計(jì)，模塊化組裝，保證儀器高真空度和高密封性，是高性能和高穩(wěn)定性的典型產(chǎn)品。
更新時(shí)間:2025-11-05
3h-2000pm高性能比表面及孔徑分析儀屬于研究級儀器，可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測試結(jié)果，可升級為雙站微孔測試功能，適用于對研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。集裝閥門和管路設(shè)計(jì)，模塊化組裝，保證儀器高真空度和高密封性，是高性能和高穩(wěn)定性的典型產(chǎn)品。
更新時(shí)間:2025-11-05
3h-2000pm高性能比表面及孔徑分析儀屬于研究級儀器，可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測試結(jié)果，可升級為雙站微孔測試功能，適用于對研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。集裝閥門和管路設(shè)計(jì)，模塊化組裝，保證儀器高真空度和高密封性，是高性能和高穩(wěn)定性的典型產(chǎn)品。
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3h-2000pm高性能比表面及孔徑分析儀屬于研究級儀器，可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測試結(jié)果，可升級為雙站微孔測試功能，適用于對研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。集裝閥門和管路設(shè)計(jì)，模塊化組裝，保證儀器高真空度和高密封性，是高性能和高穩(wěn)定性的典型產(chǎn)品。
更新時(shí)間:2025-11-05
3h-2000ps1型比表面及孔徑分析儀，具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，1個(gè)樣品分析站。測試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時(shí)間:2025-11-05
3h-2000ps1型比表面及孔徑分析儀，具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，1個(gè)樣品分析站。測試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
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3h-2000ps1型比表面及孔徑分析儀，具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，1個(gè)樣品分析站。測試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時(shí)間:2025-11-05
3h-2000ps1型比表面及孔徑分析儀，具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，1個(gè)樣品分析站。測試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
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3h-2000ps1型比表面及孔徑分析儀，具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，1個(gè)樣品分析站。測試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時(shí)間:2025-11-05
3h-2000ps1型比表面及孔徑分析儀，具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，1個(gè)樣品分析站。測試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時(shí)間:2025-11-05
3h-2000ps1型比表面及孔徑分析儀，具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，1個(gè)樣品分析站。測試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
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3h-2000ps1型比表面及孔徑分析儀，具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，1個(gè)樣品分析站。測試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
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3h-2000ph全自動(dòng)高壓氣體吸附儀屬于研究級儀器，可以滿足多種氣體的高溫高壓吸附脫附測試要求定制，可測試多種材料對不同氣體在不同壓力下的總吸附量，吸附常數(shù)等參數(shù)，適用于分子篩、煤層氣、儲氫材料等研究高壓氣體吸附性能的科研單位和企業(yè)用戶。全不銹鋼氣路系統(tǒng)，采用vcr硬連接，保證儀器高真空度和高密封性，是高性能和高穩(wěn)定性的典型產(chǎn)品。
更新時(shí)間:2025-11-05
3h-2000ph全自動(dòng)高壓氣體吸附儀屬于研究級儀器，可以滿足多種氣體的高溫高壓吸附脫附測試要求定制，可測試多種材料對不同氣體在不同壓力下的總吸附量，吸附常數(shù)等參數(shù)，適用于分子篩、煤層氣、儲氫材料等研究高壓氣體吸附性能的科研單位和企業(yè)用戶。全不銹鋼氣路系統(tǒng)，采用vcr硬連接，保證儀器高真空度和高密封性，是高性能和高穩(wěn)定性的典型產(chǎn)品。
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3h-2000ph全自動(dòng)高壓氣體吸附儀屬于研究級儀器，可以滿足多種氣體的高溫高壓吸附脫附測試要求定制，可測試多種材料對不同氣體在不同壓力下的總吸附量，吸附常數(shù)等參數(shù)，適用于分子篩、煤層氣、儲氫材料等研究高壓氣體吸附性能的科研單位和企業(yè)用戶。全不銹鋼氣路系統(tǒng)，采用vcr硬連接，保證儀器高真空度和高密封性，是高性能和高穩(wěn)定性的典型產(chǎn)品。
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