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比表面及孔徑分布分析儀產品及廠家
BSD-PS多孔金屬顆粒比表面積分析儀
貝士德3h-2000ps型多孔金屬顆粒比表面積分析儀,具有2/4個樣品預處理脫氣站,1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時間:
2025-11-05
該公司產品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-PS多孔陶瓷比表面及孔徑分析儀
貝士德3h-2000ps型多孔陶瓷比表面及孔徑分析儀,具有2/4個樣品預處理脫氣站,1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時間:
2025-11-05
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BSD-PS多孔水泥建材比表面及孔徑分析儀
貝士德3h-2000ps型多孔水泥建材比表面及孔徑分析儀,具有2/4個樣品預處理脫氣站,1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時間:
2025-11-05
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北京貝士德分析儀器研究院
BSD-PS硅微粉比表面及孔徑分析儀
貝士德3h-2000ps型硅微粉比表面及孔徑分析儀,具有2/4個樣品預處理脫氣站,1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時間:
2025-11-05
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BSD-PS硅藻泥材料比表面及孔徑分析儀
貝士德3h-2000ps型硅藻泥材料比表面及孔徑分析儀,具有2/4個樣品預處理脫氣站,1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時間:
2025-11-05
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北京貝士德分析儀器研究院
BSD-PS二氧化硅粉末比表面積分析儀
貝士德3h-2000ps型二氧化硅粉末比表面積分析儀,具有2/4個樣品預處理脫氣站,1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時間:
2025-11-05
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BSD-OM竹炭材料比表面及孔徑分析儀
3h-2000pm2比表面積及孔徑分析儀屬于研究級儀器,可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數據,尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準確測試結果,適用于對研發、實驗要求極高的科研單位和企業用戶。
更新時間:
2025-11-05
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BSD-OM果殼碳材料比表面積分析儀
3h-2000pm2比表面積及孔徑分析儀屬于研究級儀器,可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數據,尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準確測試結果,適用于對研發、實驗要求極高的科研單位和企業用戶。
更新時間:
2025-11-05
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北京貝士德分析儀器研究院
BSD-OM硅基氣凝膠比表面積及孔徑分析儀
3h-2000pm1硅基氣凝膠比表面積及孔徑分析儀屬于研究級儀器,可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數據,尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準確測試結果,可升級為雙站微孔測試功能,適用于對研發、實驗要求極高的科研單位和企業用戶。
更新時間:
2025-11-05
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BSD-OM硫基氣凝膠比表面積及孔徑分析儀
3h-2000pm1硫基氣凝膠比表面積及孔徑分析儀屬于研究級儀器,可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數據,尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準確測試結果,可升級為雙站微孔測試功能,適用于對研發、實驗要求極高的科研單位和企業用戶。
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2025-11-05
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BSD-OM多孔碳材料比表面積及孔徑分析儀
3h-2000pm1多孔碳材料比表面積及孔徑分析儀屬于研究級儀器,可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數據,尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準確測試結果,可升級為雙站微孔測試功能,適用于對研發、實驗要求極高的科研單位和企業用戶。
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2025-11-05
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BSD-OMα-氧化鋁比表面積及孔徑分析儀
3h-2000pm1α-氧化鋁比表面積及孔徑分析儀屬于研究級儀器,可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數據,尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準確測試結果,可升級為雙站微孔測試功能,適用于對研發、實驗要求極高的科研單位和企業用戶。
更新時間:
2025-11-05
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BSD-OM催化劑顆粒比表面積及孔徑分析儀
3h-2000pm1催化劑顆粒比表面積及孔徑分析儀屬于研究級儀器,可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數據,尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準確測試結果,可升級為雙站微孔測試功能,適用于對研發、實驗要求極高的科研單位和企業用戶。
更新時間:
2025-11-05
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BSD-PBPE電池隔膜孔徑分析儀
3h-2000pb pe電池隔膜孔徑分析儀,其基本原理為氣液排驅技術(泡壓法):給膜兩側施加壓力差,克服膜孔道內的浸潤液的表面張力,驅動浸潤液通過孔道,依此獲得膜類材料的通孔孔喉的孔徑數據 ,同時該方法也是astm薄膜測定的標準方法。
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2025-11-05
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BSD-PS二氧化鈦BET比表面積分析儀
貝士德3h-2000ps型比表面及孔徑分析儀,具有2/4個樣品預處理脫氣站,1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
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2025-11-05
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BSD-PS金屬氧化物BET比表面積分析儀
貝士德3h-2000ps型比表面及孔徑分析儀,具有2/4個樣品預處理脫氣站,1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
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2025-11-05
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BSD-PS無機非金屬BET比表面積分析儀
貝士德3h-2000ps型比表面及孔徑分析儀,具有2/4個樣品預處理脫氣站,1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
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2025-11-05
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BSD-PS多孔顆粒BET比表面積分析儀
貝士德3h-2000ps型比表面及孔徑分析儀,具有2/4個樣品預處理脫氣站,1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
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2025-11-05
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BSD-PS多孔吸附材料BET比表面積分析儀
貝士德3h-2000ps型比表面及孔徑分析儀,具有2/4個樣品預處理脫氣站,1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
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2025-11-05
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BSD-PS植物纖維BET比表面積分析儀
貝士德3h-2000ps型比表面及孔徑分析儀,具有2/4個樣品預處理脫氣站,1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時間:
2025-11-05
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BSD-PS車用漆碳酸鈣BET比表面分析儀
貝士德3h-2000ps型比表面積分析儀,具有2/4個樣品預處理脫氣站,1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
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2025-11-05
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BSD-PS活性白土BET比表面分析儀
貝士德3h-2000ps型比表面積及孔徑分析儀,具有2/4個樣品預處理脫氣站,1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
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2025-11-05
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BSD-PS農作物秸稈比表面分析儀
貝士德3h-2000ps型比表面積及孔徑分析儀,具有2/4個樣品預處理脫氣站,1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
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2025-11-05
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BSD-PS介孔碳材料BET分析儀
貝士德3h-2000ps型比表面積及孔徑分析儀,具有2/4個樣品預處理脫氣站,1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
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2025-11-05
該公司產品分類:
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BSD-PS碳酸鈣粉末BET分析儀
貝士德3h-2000ps型比表面積及孔徑分析儀,具有2/4個樣品預處理脫氣站,1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時間:
2025-11-05
該公司產品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-PS秸稈BET比表面分析儀
貝士德3h-2000ps型bet分析儀,具有2/4個樣品預處理脫氣站,1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時間:
2025-11-05
該公司產品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-PS介孔碳材料BET比表面積分析儀
貝士德3h-2000ps型bet分析儀,具有2/4個樣品預處理脫氣站,1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時間:
2025-11-05
該公司產品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-PS中藥材BET比表面及孔徑分析儀
貝士德3h-2000ps型bet分析儀,具有2/4個樣品預處理脫氣站,1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時間:
2025-11-05
該公司產品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-PS特種紙BET分析儀
貝士德3h-2000ps型bet分析儀,具有2/4個樣品預處理脫氣站,1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時間:
2025-11-05
該公司產品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-OM微孔碳BET比表面及孔徑分析儀
3h-2000pm1高性能比表面及孔徑分析儀屬于研究級儀器,可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數據,尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準確測試結果,可升級為雙站微孔測試功能,適用于對研發、實驗要求極高的科研單位和企業用戶。集裝閥門和管路設計,模塊化組裝,保證儀器高真空度和高密封性,是高性能和高穩定性的典型。
更新時間:
2025-11-05
該公司產品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-OM負載型多孔催化劑BET比表面積分析儀
3h-2000pm1高性能比表面分析儀屬于研究級儀器,可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數據,尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準確測試結果,可升級為雙站微孔測試功能,適用于對研發、實驗要求極高的科研單位和企業用戶。集裝閥門和管路設計,模塊化組裝,保證儀器高真空度和高密封性,是高性能和高穩定性的典型。
更新時間:
2025-11-05
該公司產品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-PM2ZIF多孔材料比表面及孔徑分析儀
3h-2000pm2高性能比表面及孔徑分析儀屬于研究級儀器,可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數據,尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準確測試結果,可升級為雙站微孔測試功能,適用于對研發、實驗要求極高的科研單位和企業用戶。集裝閥門和管路設計,模塊化組裝,保證儀器高真空度和高密封性,是高性能和高穩定性的典型產品。
更新時間:
2025-11-05
該公司產品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-PM2多站高性能比表面及孔徑分析儀
3h-2000pm2高性能比表面及孔徑分析儀屬于研究級儀器,可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數據,尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準確測試結果,可升級為雙站微孔測試功能,適用于對研發、實驗要求極高的科研單位和企業用戶。集裝閥門和管路設計,模塊化組裝,保證儀器高真空度和高密封性,是高性能和高穩定性的典型產品。
更新時間:
2025-11-05
該公司產品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-PM2ZSM-5分子篩比表面及孔徑分析儀
3h-2000pm2高性能比表面及孔徑分析儀屬于研究級儀器,可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數據,尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準確測試結果,可升級為雙站微孔測試功能,適用于對研發、實驗要求極高的科研單位和企業用戶。集裝閥門和管路設計,模塊化組裝,保證儀器高真空度和高密封性,是高性能和高穩定性的典型產品。
更新時間:
2025-11-05
該公司產品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-PM2多孔纖維比表面及孔徑分析儀
3h-2000pm2高性能比表面及孔徑分析儀屬于研究級儀器,可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數據,尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準確測試結果,可升級為雙站微孔測試功能,適用于對研發、實驗要求極高的科研單位和企業用戶。集裝閥門和管路設計,模塊化組裝,保證儀器高真空度和高密封性,是高性能和高穩定性的典型產品。
更新時間:
2025-11-05
該公司產品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-PM2氣凝膠BET比表面積分析儀
3h-2000pm2高性能比表面及孔徑分析儀屬于研究級儀器,可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數據,尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準確測試結果,可升級為雙站微孔測試功能,適用于對研發、實驗要求極高的科研單位和企業用戶。集裝閥門和管路設計,模塊化組裝,保證儀器高真空度和高密封性,是高性能和高穩定性的典型產品。
更新時間:
2025-11-05
該公司產品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-PM2硅基氣凝膠BET比表面積分析儀
3h-2000pm2高性能比表面及孔徑分析儀屬于研究級儀器,可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數據,尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準確測試結果,可升級為雙站微孔測試功能,適用于對研發、實驗要求極高的科研單位和企業用戶。集裝閥門和管路設計,模塊化組裝,保證儀器高真空度和高密封性,是高性能和高穩定性的典型產品。
更新時間:
2025-11-05
該公司產品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-OM碳基氣凝膠BET比表面及孔徑分析儀
3h-2000pm高性能比表面及孔徑分析儀屬于研究級儀器,可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數據,尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準確測試結果,可升級為雙站微孔測試功能,適用于對研發、實驗要求極高的科研單位和企業用戶。集裝閥門和管路設計,模塊化組裝,保證儀器高真空度和高密封性,是高性能和高穩定性的典型產品。
更新時間:
2025-11-05
該公司產品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-OM北京貝士德金屬基氣凝膠BET比表面及孔徑分析儀
3h-2000pm高性能比表面及孔徑分析儀屬于研究級儀器,可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數據,尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準確測試結果,可升級為雙站微孔測試功能,適用于對研發、實驗要求極高的科研單位和企業用戶。集裝閥門和管路設計,模塊化組裝,保證儀器高真空度和高密封性,是高性能和高穩定性的典型產品。
更新時間:
2025-11-05
該公司產品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-OM多孔碳材料BET比表面及孔徑分析儀
3h-2000pm高性能比表面及孔徑分析儀屬于研究級儀器,可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數據,尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準確測試結果,可升級為雙站微孔測試功能,適用于對研發、實驗要求極高的科研單位和企業用戶。集裝閥門和管路設計,模塊化組裝,保證儀器高真空度和高密封性,是高性能和高穩定性的典型產品。
更新時間:
2025-11-05
該公司產品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-OM活性炭BET比表面及孔徑分析儀
3h-2000pm高性能比表面及孔徑分析儀屬于研究級儀器,可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數據,尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準確測試結果,可升級為雙站微孔測試功能,適用于對研發、實驗要求極高的科研單位和企業用戶。集裝閥門和管路設計,模塊化組裝,保證儀器高真空度和高密封性,是高性能和高穩定性的典型產品。
更新時間:
2025-11-05
該公司產品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-OM鈦粉催化劑BET比表面及孔徑分析儀
3h-2000pm高性能比表面及孔徑分析儀屬于研究級儀器,可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數據,尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準確測試結果,可升級為雙站微孔測試功能,適用于對研發、實驗要求極高的科研單位和企業用戶。集裝閥門和管路設計,模塊化組裝,保證儀器高真空度和高密封性,是高性能和高穩定性的典型產品。
更新時間:
2025-11-05
該公司產品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-OM微晶碳BET比表面及孔徑分析儀
3h-2000pm高性能比表面及孔徑分析儀屬于研究級儀器,可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數據,尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準確測試結果,可升級為雙站微孔測試功能,適用于對研發、實驗要求極高的科研單位和企業用戶。集裝閥門和管路設計,模塊化組裝,保證儀器高真空度和高密封性,是高性能和高穩定性的典型產品。
更新時間:
2025-11-05
該公司產品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-PS有機粉末BET比表面分析儀
3h-2000ps1型比表面及孔徑分析儀,具有2個樣品預處理脫氣站,1個樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時間:
2025-11-05
該公司產品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-PS2吸附劑BET比表面分析儀
3h-2000ps1型比表面及孔徑分析儀,具有2個樣品預處理脫氣站,1個樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時間:
2025-11-05
該公司產品分類:
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BSD-PS棉絮BET比表面積分析儀
3h-2000ps1型比表面及孔徑分析儀,具有2個樣品預處理脫氣站,1個樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時間:
2025-11-05
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BSD-PS植物秸稈BET比表面積分析儀
3h-2000ps1型比表面及孔徑分析儀,具有2個樣品預處理脫氣站,1個樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時間:
2025-11-05
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BSD-PS貴金屬粉末BET比表面積分析儀
3h-2000ps1型比表面及孔徑分析儀,具有2個樣品預處理脫氣站,1個樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時間:
2025-11-05
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BSD-PS高純氧化鋁BET比表面積分析儀
3h-2000ps1型比表面及孔徑分析儀,具有2個樣品預處理脫氣站,1個樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
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2025-11-05
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BSD-PS精細藥粉BET比表面積分析儀
3h-2000ps1型比表面及孔徑分析儀,具有2個樣品預處理脫氣站,1個樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
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2025-11-05
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