比表面及孔徑分布分析儀產(chǎn)品及廠家
3h-2000ps1型比表面及孔徑分析儀，具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，1個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測(cè)試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌，遠(yuǎn)銷海外，獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
更新時(shí)間:2025-11-05
3h-2000ps1型比表面及孔徑分析儀，具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，1個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測(cè)試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時(shí)間:2025-11-05
3h-2000pm型多孔碳材料比表面及孔徑分析儀是一款研究級(jí)別的儀器，可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果，可升級(jí)為雙站微孔測(cè)試功能，適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時(shí)間:2025-11-05
貝士德3h-2000ps型比表面及孔徑分析儀，具有2/4個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，1/2/4個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測(cè)試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時(shí)間:2025-11-05
3h-2000pm型mofs材料比表面及微孔孔徑分析儀是一款研究級(jí)別的儀器，可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果，可升級(jí)為雙站微孔測(cè)試功能，適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時(shí)間:2025-11-05
貝士德3h-2000ps4型介孔mofs比表面及孔徑分析儀，具有4個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，4個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測(cè)試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時(shí)間:2025-11-05
3h-2000pm2型雙站式mofs比表面及孔徑分析儀是一款研究級(jí)別的儀器，可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果，適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時(shí)間:2025-11-05
3h-2000pm1高性能物理吸附儀屬于研究級(jí)儀器，可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果，可升級(jí)為雙站微孔測(cè)試功能，適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。集裝閥門和管路設(shè)計(jì)，模塊化組裝，保證儀器高真空度和高密封性，是高性能和高穩(wěn)定性的典型產(chǎn)品。
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3h-2000pm型zif材料比表面及微孔分析儀是一款研究級(jí)別的儀器，可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果，適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時(shí)間:2025-11-05
3h-2000pm1碳納米管材料比表面及微孔分析儀屬于研究級(jí)儀器，可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果，可升級(jí)為雙站微孔測(cè)試功能，適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時(shí)間:2025-11-05
貝士德3h-2000ps型介孔材料比表面及孔徑分析儀，具有2/4個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，1/2/4個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測(cè)試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
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3h-2000pm1氣凝膠比表面及孔徑分析儀屬于研究級(jí)儀器，可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果，可升級(jí)為雙站微孔測(cè)試功能，適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時(shí)間:2025-11-05
貝士德3h-2000ps型石油基針狀焦比表面積分析儀，具有2/4個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，1/2/4個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測(cè)試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
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貝士德3h-2000ps型藥品比表面及孔徑分析儀，具有2/4個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，1/2/4個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測(cè)試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
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貝士德3h-2000ps型藥物比表面及孔徑分析儀，具有2/4個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，1/2/4個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測(cè)試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時(shí)間:2025-11-05
貝士德3h-2000ps型藥物比表面及孔徑分析儀，具有2/4個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，1/2/4個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測(cè)試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時(shí)間:2025-11-05
貝士德3h-2000ps型比表面及孔徑分析儀，具有2/4個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，1/2/4個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測(cè)試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時(shí)間:2025-11-05
貝士德3h-2000ps型比表面及孔徑分析儀，具有2/4個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，1/2/4個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測(cè)試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時(shí)間:2025-11-05
3h-2000td系列發(fā)泡塑料孔隙率測(cè)定儀由計(jì)算機(jī)控制全自動(dòng)運(yùn)行的氣體膨脹真密度分析系統(tǒng)，具有多項(xiàng)技術(shù)專利，獨(dú)創(chuàng)的測(cè)試方式，使其應(yīng)用領(lǐng)域較同類儀器更廣，能準(zhǔn)確測(cè)定粉體、塊狀固體、漿狀物質(zhì)、泡沫等多種材料的真密度和孔隙率，適用于廣大研究機(jī)構(gòu)和企事業(yè)單位。
更新時(shí)間:2025-11-05
3h-2000td系列食用面包孔隙率測(cè)定儀由計(jì)算機(jī)控制全自動(dòng)運(yùn)行的氣體膨脹真密度分析系統(tǒng)，具有多項(xiàng)技術(shù)專利，獨(dú)創(chuàng)的測(cè)試方式，使其應(yīng)用領(lǐng)域較同類儀器更廣，能準(zhǔn)確測(cè)定粉體、塊狀固體、漿狀物質(zhì)、泡沫等多種材料的真密度和孔隙率，適用于廣大研究機(jī)構(gòu)和企事業(yè)單位。
更新時(shí)間:2025-11-05
貝士德3h-2000ps型多孔金屬顆粒比表面積分析儀，具有2/4個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，1/2/4個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測(cè)試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時(shí)間:2025-11-05
貝士德3h-2000ps型多孔陶瓷比表面及孔徑分析儀，具有2/4個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，1/2/4個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測(cè)試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時(shí)間:2025-11-05
貝士德3h-2000ps型多孔水泥建材比表面及孔徑分析儀，具有2/4個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，1/2/4個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測(cè)試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時(shí)間:2025-11-05
貝士德3h-2000ps型硅微粉比表面及孔徑分析儀，具有2/4個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，1/2/4個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測(cè)試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時(shí)間:2025-11-05
貝士德3h-2000ps型硅藻泥材料比表面及孔徑分析儀，具有2/4個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，1/2/4個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測(cè)試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
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貝士德3h-2000ps型二氧化硅粉末比表面積分析儀，具有2/4個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，1/2/4個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測(cè)試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時(shí)間:2025-11-05
3h-2000pm2比表面積及孔徑分析儀屬于研究級(jí)儀器，可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果，適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時(shí)間:2025-11-05
3h-2000pm2比表面積及孔徑分析儀屬于研究級(jí)儀器，可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果，適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時(shí)間:2025-11-05
3h-2000pm1硅基氣凝膠比表面積及孔徑分析儀屬于研究級(jí)儀器，可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果，可升級(jí)為雙站微孔測(cè)試功能，適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時(shí)間:2025-11-05
3h-2000pm1硫基氣凝膠比表面積及孔徑分析儀屬于研究級(jí)儀器，可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果，可升級(jí)為雙站微孔測(cè)試功能，適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時(shí)間:2025-11-05
3h-2000pm1多孔碳材料比表面積及孔徑分析儀屬于研究級(jí)儀器，可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果，可升級(jí)為雙站微孔測(cè)試功能，適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時(shí)間:2025-11-05
3h-2000pm1α-氧化鋁比表面積及孔徑分析儀屬于研究級(jí)儀器，可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果，可升級(jí)為雙站微孔測(cè)試功能，適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時(shí)間:2025-11-05
3h-2000pm1催化劑顆粒比表面積及孔徑分析儀屬于研究級(jí)儀器，可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果，可升級(jí)為雙站微孔測(cè)試功能，適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時(shí)間:2025-11-05
3h-2000pb pe電池隔膜孔徑分析儀，其基本原理為氣液排驅(qū)技術(shù)（泡壓法）：給膜兩側(cè)施加壓力差，克服膜孔道內(nèi)的浸潤(rùn)液的表面張力，驅(qū)動(dòng)浸潤(rùn)液通過(guò)孔道，依此獲得膜類材料的通孔孔喉的孔徑數(shù)據(jù) ，同時(shí)該方法也是astm薄膜測(cè)定的標(biāo)準(zhǔn)方法。
更新時(shí)間:2025-11-05
貝士德3h-2000ps型比表面及孔徑分析儀，具有2/4個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，1/2/4個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測(cè)試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時(shí)間:2025-11-05
貝士德3h-2000ps型比表面及孔徑分析儀，具有2/4個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，1/2/4個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測(cè)試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時(shí)間:2025-11-05
貝士德3h-2000ps型比表面及孔徑分析儀，具有2/4個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，1/2/4個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測(cè)試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時(shí)間:2025-11-05
貝士德3h-2000ps型比表面及孔徑分析儀，具有2/4個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，1/2/4個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測(cè)試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時(shí)間:2025-11-05
貝士德3h-2000ps型比表面及孔徑分析儀，具有2/4個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，1/2/4個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測(cè)試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時(shí)間:2025-11-05
貝士德3h-2000ps型比表面及孔徑分析儀，具有2/4個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，1/2/4個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測(cè)試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時(shí)間:2025-11-05
貝士德3h-2000ps型比表面積分析儀，具有2/4個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，1/2/4個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測(cè)試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時(shí)間:2025-11-05
貝士德3h-2000ps型比表面積及孔徑分析儀，具有2/4個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，1/2/4個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測(cè)試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時(shí)間:2025-11-05
貝士德3h-2000ps型比表面積及孔徑分析儀，具有2/4個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，1/2/4個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測(cè)試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時(shí)間:2025-11-05
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貝士德3h-2000ps型bet分析儀，具有2/4個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，1/2/4個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測(cè)試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
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3h-2000pm1高性能比表面及孔徑分析儀屬于研究級(jí)儀器，可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果，可升級(jí)為雙站微孔測(cè)試功能，適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。集裝閥門和管路設(shè)計(jì)，模塊化組裝，保證儀器高真空度和高密封性，是高性能和高穩(wěn)定性的典型。
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