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比表面及孔徑分布分析儀產品及廠家
BSD-OM分子篩比表面及孔徑分析儀
3h-2000pm1高性能物理吸附儀屬于研究級儀器,可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數據,尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準確測試結果,可升級為雙站微孔測試功能,適用于對研發、實驗要求極高的科研單位和企業用戶。集裝閥門和管路設計,模塊化組裝,保證儀器高真空度和高密封性,是高性能和高穩定性的典型產品。
更新時間:
2025-11-05
該公司產品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-PSZSM分子篩比表面及孔徑分析儀
3h-2000ps1型比表面及孔徑分析儀,具有2個樣品預處理脫氣站,1個樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國內知名品牌,遠銷海外,獲得多項國內技術專利,技術國際領先。
更新時間:
2025-11-05
該公司產品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-PH可燃氣體高壓吸附儀
3h-2000ph全自動高壓氣體吸附儀屬于研究級儀器,可以滿足多種氣體的高溫高壓吸附脫附測試要求定制,可測試多種材料對不同氣體在不同壓力下的總吸附量,吸附常數等參數,適用于分子篩、煤層氣、儲氫材料等研究高壓氣體吸附性能的科研單位和企業用戶。全不銹鋼氣路系統,采用vcr硬連接,保證儀器高真空度和高密封性,是高性能和高穩定性的典型產品。
更新時間:
2025-11-05
該公司產品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-PS介孔SiO2比表面及孔徑分析儀
3h-2000ps1型比表面及孔徑分析儀,具有2個樣品預處理脫氣站,1個樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國內知名品牌,遠銷海外,獲得多項國內技術專利,技術國際領先。
更新時間:
2025-11-05
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北京貝士德分析儀器研究院
BSD-PS粉末顆粒類藥物比表面及孔徑分析儀
3h-2000ps1型比表面及孔徑分析儀,具有2個樣品預處理脫氣站,1個樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時間:
2025-11-05
該公司產品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-OM碳材料比表面及微孔分析儀
3h-2000pm型多孔碳材料比表面及孔徑分析儀是一款研究級別的儀器,可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數據,尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準確測試結果,可升級為雙站微孔測試功能,適用于對研發、實驗要求極高的科研單位和企業用戶。
更新時間:
2025-11-05
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北京貝士德分析儀器研究院
BSD-PS金屬有機骨架材料比表面及孔徑分析儀
貝士德3h-2000ps型比表面及孔徑分析儀,具有2/4個樣品預處理脫氣站,1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時間:
2025-11-05
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北京貝士德分析儀器研究院
BSD-OMMOFs材料比表面及微孔孔徑分析儀
3h-2000pm型mofs材料比表面及微孔孔徑分析儀是一款研究級別的儀器,可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數據,尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準確測試結果,可升級為雙站微孔測試功能,適用于對研發、實驗要求極高的科研單位和企業用戶。
更新時間:
2025-11-05
該公司產品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-PS44站式多孔骨架材料比表面積分析儀
貝士德3h-2000ps4型介孔mofs比表面及孔徑分析儀,具有4個樣品預處理脫氣站,4個樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時間:
2025-11-05
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北京貝士德分析儀器研究院
BSD-OMZIF材料比表面及微孔分析儀
3h-2000pm2型雙站式mofs比表面及孔徑分析儀是一款研究級別的儀器,可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數據,尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準確測試結果,適用于對研發、實驗要求極高的科研單位和企業用戶。
更新時間:
2025-11-05
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北京貝士德分析儀器研究院
BSD-OMSOF材料比表面積及孔徑分析儀
3h-2000pm1高性能物理吸附儀屬于研究級儀器,可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數據,尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準確測試結果,可升級為雙站微孔測試功能,適用于對研發、實驗要求極高的科研單位和企業用戶。集裝閥門和管路設計,模塊化組裝,保證儀器高真空度和高密封性,是高性能和高穩定性的典型產品。
更新時間:
2025-11-05
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BSD-PM1碳纖維材料比表面積及孔徑分析儀
3h-2000pm型zif材料比表面及微孔分析儀是一款研究級別的儀器,可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數據,尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準確測試結果,適用于對研發、實驗要求極高的科研單位和企業用戶。
更新時間:
2025-11-05
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北京貝士德分析儀器研究院
BSD-OM碳納米管材料比表面及微孔分析儀
3h-2000pm1碳納米管材料比表面及微孔分析儀屬于研究級儀器,可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數據,尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準確測試結果,可升級為雙站微孔測試功能,適用于對研發、實驗要求極高的科研單位和企業用戶。
更新時間:
2025-11-05
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BSD-PS多孔碳化硅材料比表面及孔徑分析儀
貝士德3h-2000ps型介孔材料比表面及孔徑分析儀,具有2/4個樣品預處理脫氣站,1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時間:
2025-11-05
該公司產品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-OM硅基氣凝膠比表面及孔徑分析儀
3h-2000pm1氣凝膠比表面及孔徑分析儀屬于研究級儀器,可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數據,尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準確測試結果,可升級為雙站微孔測試功能,適用于對研發、實驗要求極高的科研單位和企業用戶。
更新時間:
2025-11-05
該公司產品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-PS石油基針狀焦比表面積分析儀
貝士德3h-2000ps型石油基針狀焦比表面積分析儀,具有2/4個樣品預處理脫氣站,1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時間:
2025-11-05
該公司產品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-PS粉末藥品比表面積分析儀
貝士德3h-2000ps型藥品比表面及孔徑分析儀,具有2/4個樣品預處理脫氣站,1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時間:
2025-11-05
該公司產品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-PS蒙脫石散粉末BET比表面積分析儀
貝士德3h-2000ps型藥物比表面及孔徑分析儀,具有2/4個樣品預處理脫氣站,1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時間:
2025-11-05
該公司產品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-PS1蒙脫石散粉末BET比表面積分析儀
貝士德3h-2000ps型藥物比表面及孔徑分析儀,具有2/4個樣品預處理脫氣站,1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時間:
2025-11-05
該公司產品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-PS2粉末硬脂酸鎂比表面積測定儀
貝士德3h-2000ps型比表面及孔徑分析儀,具有2/4個樣品預處理脫氣站,1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時間:
2025-11-05
該公司產品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-PS1凹凸棒土BET比表面積測定儀
貝士德3h-2000ps型比表面及孔徑分析儀,具有2/4個樣品預處理脫氣站,1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時間:
2025-11-05
該公司產品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
3H-2000TD-K發泡塑料孔隙率測定儀
3h-2000td系列發泡塑料孔隙率測定儀由計算機控制全自動運行的氣體膨脹真密度分析系統,具有多項技術專利,獨創的測試方式,使其應用領域較同類儀器更廣,能準確測定粉體、塊狀固體、漿狀物質、泡沫等多種材料的真密度和孔隙率,適用于廣大研究機構和企事業單位。
更新時間:
2025-11-05
該公司產品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
3H-2000TD-K食用面包孔隙率測定儀
3h-2000td系列食用面包孔隙率測定儀由計算機控制全自動運行的氣體膨脹真密度分析系統,具有多項技術專利,獨創的測試方式,使其應用領域較同類儀器更廣,能準確測定粉體、塊狀固體、漿狀物質、泡沫等多種材料的真密度和孔隙率,適用于廣大研究機構和企事業單位。
更新時間:
2025-11-05
該公司產品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-PS多孔金屬顆粒比表面積分析儀
貝士德3h-2000ps型多孔金屬顆粒比表面積分析儀,具有2/4個樣品預處理脫氣站,1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時間:
2025-11-05
該公司產品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-PS多孔陶瓷比表面及孔徑分析儀
貝士德3h-2000ps型多孔陶瓷比表面及孔徑分析儀,具有2/4個樣品預處理脫氣站,1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時間:
2025-11-05
該公司產品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-PS多孔水泥建材比表面及孔徑分析儀
貝士德3h-2000ps型多孔水泥建材比表面及孔徑分析儀,具有2/4個樣品預處理脫氣站,1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時間:
2025-11-05
該公司產品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-PS硅微粉比表面及孔徑分析儀
貝士德3h-2000ps型硅微粉比表面及孔徑分析儀,具有2/4個樣品預處理脫氣站,1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時間:
2025-11-05
該公司產品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-PS硅藻泥材料比表面及孔徑分析儀
貝士德3h-2000ps型硅藻泥材料比表面及孔徑分析儀,具有2/4個樣品預處理脫氣站,1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時間:
2025-11-05
該公司產品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-PS二氧化硅粉末比表面積分析儀
貝士德3h-2000ps型二氧化硅粉末比表面積分析儀,具有2/4個樣品預處理脫氣站,1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時間:
2025-11-05
該公司產品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-OM竹炭材料比表面及孔徑分析儀
3h-2000pm2比表面積及孔徑分析儀屬于研究級儀器,可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數據,尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準確測試結果,適用于對研發、實驗要求極高的科研單位和企業用戶。
更新時間:
2025-11-05
該公司產品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-OM果殼碳材料比表面積分析儀
3h-2000pm2比表面積及孔徑分析儀屬于研究級儀器,可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數據,尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準確測試結果,適用于對研發、實驗要求極高的科研單位和企業用戶。
更新時間:
2025-11-05
該公司產品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-OM硅基氣凝膠比表面積及孔徑分析儀
3h-2000pm1硅基氣凝膠比表面積及孔徑分析儀屬于研究級儀器,可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數據,尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準確測試結果,可升級為雙站微孔測試功能,適用于對研發、實驗要求極高的科研單位和企業用戶。
更新時間:
2025-11-05
該公司產品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-OM硫基氣凝膠比表面積及孔徑分析儀
3h-2000pm1硫基氣凝膠比表面積及孔徑分析儀屬于研究級儀器,可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數據,尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準確測試結果,可升級為雙站微孔測試功能,適用于對研發、實驗要求極高的科研單位和企業用戶。
更新時間:
2025-11-05
該公司產品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-OM多孔碳材料比表面積及孔徑分析儀
3h-2000pm1多孔碳材料比表面積及孔徑分析儀屬于研究級儀器,可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數據,尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準確測試結果,可升級為雙站微孔測試功能,適用于對研發、實驗要求極高的科研單位和企業用戶。
更新時間:
2025-11-05
該公司產品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-OMα-氧化鋁比表面積及孔徑分析儀
3h-2000pm1α-氧化鋁比表面積及孔徑分析儀屬于研究級儀器,可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數據,尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準確測試結果,可升級為雙站微孔測試功能,適用于對研發、實驗要求極高的科研單位和企業用戶。
更新時間:
2025-11-05
該公司產品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-OM催化劑顆粒比表面積及孔徑分析儀
3h-2000pm1催化劑顆粒比表面積及孔徑分析儀屬于研究級儀器,可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數據,尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準確測試結果,可升級為雙站微孔測試功能,適用于對研發、實驗要求極高的科研單位和企業用戶。
更新時間:
2025-11-05
該公司產品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-PBPE電池隔膜孔徑分析儀
3h-2000pb pe電池隔膜孔徑分析儀,其基本原理為氣液排驅技術(泡壓法):給膜兩側施加壓力差,克服膜孔道內的浸潤液的表面張力,驅動浸潤液通過孔道,依此獲得膜類材料的通孔孔喉的孔徑數據 ,同時該方法也是astm薄膜測定的標準方法。
更新時間:
2025-11-05
該公司產品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-PS二氧化鈦BET比表面積分析儀
貝士德3h-2000ps型比表面及孔徑分析儀,具有2/4個樣品預處理脫氣站,1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時間:
2025-11-05
該公司產品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-PS金屬氧化物BET比表面積分析儀
貝士德3h-2000ps型比表面及孔徑分析儀,具有2/4個樣品預處理脫氣站,1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時間:
2025-11-05
該公司產品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-PS無機非金屬BET比表面積分析儀
貝士德3h-2000ps型比表面及孔徑分析儀,具有2/4個樣品預處理脫氣站,1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時間:
2025-11-05
該公司產品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-PS多孔顆粒BET比表面積分析儀
貝士德3h-2000ps型比表面及孔徑分析儀,具有2/4個樣品預處理脫氣站,1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時間:
2025-11-05
該公司產品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-PS多孔吸附材料BET比表面積分析儀
貝士德3h-2000ps型比表面及孔徑分析儀,具有2/4個樣品預處理脫氣站,1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時間:
2025-11-05
該公司產品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-PS植物纖維BET比表面積分析儀
貝士德3h-2000ps型比表面及孔徑分析儀,具有2/4個樣品預處理脫氣站,1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時間:
2025-11-05
該公司產品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-PS車用漆碳酸鈣BET比表面分析儀
貝士德3h-2000ps型比表面積分析儀,具有2/4個樣品預處理脫氣站,1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時間:
2025-11-05
該公司產品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-PS活性白土BET比表面分析儀
貝士德3h-2000ps型比表面積及孔徑分析儀,具有2/4個樣品預處理脫氣站,1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時間:
2025-11-05
該公司產品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-PS農作物秸稈比表面分析儀
貝士德3h-2000ps型比表面積及孔徑分析儀,具有2/4個樣品預處理脫氣站,1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時間:
2025-11-05
該公司產品分類:
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BSD-PS介孔碳材料BET分析儀
貝士德3h-2000ps型比表面積及孔徑分析儀,具有2/4個樣品預處理脫氣站,1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時間:
2025-11-05
該公司產品分類:
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BSD-PS碳酸鈣粉末BET分析儀
貝士德3h-2000ps型比表面積及孔徑分析儀,具有2/4個樣品預處理脫氣站,1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時間:
2025-11-05
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北京貝士德分析儀器研究院
BSD-PS秸稈BET比表面分析儀
貝士德3h-2000ps型bet分析儀,具有2/4個樣品預處理脫氣站,1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時間:
2025-11-05
該公司產品分類:
北京貝士德分析儀器研究院
BSD-PS介孔碳材料BET比表面積分析儀
貝士德3h-2000ps型bet分析儀,具有2/4個樣品預處理脫氣站,1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1%。測試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
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2025-11-05
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