用途：測量顯微鏡是光學計量儀器之一種，它的結構簡單，操作方便，適用范圍極廣，主要用途如下：1.直角坐標中測定長度，例如測定孔距，基面距離，刻線距離，刻線寬度，鍵槽寬度，狹縫寬度，通孔外圓直徑等等。2.轉動度盤測定角度，例如對刻度盤，樣板，量規，鉆孔模板及幾何形狀復雜的零件進行角度測量。3.用作觀察顯微鏡，以比較法檢查工作表面光潔度，鑒定冶金工業的礦石標本。檢定印刷照相制板，檢驗紡織纖維等等。測量工作臺讀數裝置主要規格：1.x軸移動測量范圍： 50mm2、y軸移動測量范圍： 13mm3、測微器分度值： 0.01mm4、測量臺轉動范圍：不限5、測量臺刻度盤分度范圍：0°～360°6、測量臺刻度盤之分度值： 1°7、測量臺刻度盤游標讀數示值： 6＇測量精度：儀器示值誤差:±（5+L/15）微米儀器示值誤差：包括測量誤差與儀器系統誤差。注：測量地點溫度變化（20°±3°）CL－－－－被測件長度（mm）儀器之主要尺寸：測量臺與物鏡間之最大距離： 80mm測量工作臺直徑： 120mm儀器外形尺寸：高325×長262×寬220mm儀器重量級： 約10.6Kg顯微鏡的目鏡管同棱鏡成為一體繞垂軸旋轉，顯微鏡可由調焦手輪進行上下調焦. 

IDS-108工業測量顯微鏡

測量顯微鏡廣泛應用于半導體,電子工業進行晶體，集成電路的檢驗和精確測量。配備有冷光源光纖反射照明，成像和觀察系統，偏光裝置。

● 無限遠光學系統,管鏡焦距200mm

● 鉸鏈式三目鏡筒,30°傾斜，瞳距55-75mm

● 高眼點、視場目鏡WF10X/22

● 五孔物鏡轉換器

● 長工作距離平場復消色差物鏡

Plan Apo 2X/0.055 W.D. 34.6mm 分辨率5μm,

Plan Apo 5X/0.14   W.D. 45mm 分辨率2μm,

Plan Apo 10X/0.28  W.D. 34mm 分辨率1μm,

Plan Apo 20X/0.29 W.D. 30.8mm 分辨率1μm

Plan Apo 50X/0.42 W.D. 20.5mm 分辨率0.7μm

● 調焦系統同軸粗微調焦機構,微動格值0.002mm

● 載物臺  6″x8″雙層活動平臺,移動行程153x204mm

● 三維測量系統  

分辨率： 1μm

測量精度:  ±（2+L/200）μm

重復定位精度:  2μm

照明系統  Illumination  System

●     冷光源光纖反射照明器：12V150W，特別明亮清晰

●     選配：

完善和的測量軟件

－－－－－－－－完整的幾何量測（如:點,線,圓,弧,角度等）

－－－－－－－－坐標系的設定，擺正,旋轉

－－－－－－－－顯示方式多樣化；語言的轉換，公英制單位的轉換,角度的轉換

295 mm(W)×429.4 mm(D)規格的緊湊機體不僅凝聚了多種功能，還實現了節省空間的小型化設計。

可以根據用途從4種規格的載物臺中選擇所需型號。50×50 mm、100×50 mm、100×100 mm三種載物臺采用了粗調／細調同軸的旋轉手柄；150×100 mm載物臺則采用了離合器釋放機構，使高速移動和細微的位置調整成為可能。

粗調／細調同軸的旋轉手柄

高精度和耐用性

剛性對于測量儀器的精度保持是重要的，為了長時間維持儀器的精度不變，奧林巴斯開發出了堅固、不變形的高度剛性機體和載物臺。在導軌上采用了能得到高直度的線性引導機構，還內置了獨創的光柵尺，確保了儀器精度的可靠性。

光柵尺的精度直接影響測量顯微鏡的精度。奧林巴斯采用獨創的高精度光柵尺讀取系統將光學信息轉化為電信息來準確測量。此外，奧林巴斯還根據阿貝定理（需要測量的長度和標尺，在其測量方向上并排成條直線時，誤差小）確定標尺的內置位置，大程度的減少了誤差。

國際標準的溯源體系

為了實現高精度的產品質量，從制造到裝配的每個階段，奧林巴斯都配備了日本國內流的生產環境。在管理嚴格的恒溫工廠中，技能嫻熟的員工精密加工仔細挑選的原材料，精心打造每件產品。此外，從零部件到成品，所有的生產步驟都實行了嚴格的溯源體系管理。

注重操作性的機體設計

快速完成Z軸測量的電動調焦機構

采用了電動調焦機構，大幅度提高了調焦和測量高度、深度時的操作性能。使用Z控制器可以輕松切換粗調和4個級別的微調（800、400、200、50 μm），在很大程度上減輕了工作疲勞。

1.電動調焦按鈕(上下移動)

2.自動對焦按鈕

3.設置按鈕，用于設置上限和下限

4.停止自動對焦按鈕

5.Z軸重設按鈕

6.調焦手柄

7.數據輸出按鈕

8.粗調/微調轉換按鈕

配置在易觀察位置上的計數器

計數器與顯微鏡機體體化，它的顯示器部分與觀察員的視線幾乎等高，易于觀察。稍微移動視線就可以確認測量值，便于集中精神觀察樣品、調節樣品位置。

提高邊緣檢測能力、外觀檢查能力的UIS2光學系統和LED照明

采用了有著高分辨率和高對比度的UIS2光學系統，以及能真實的再現樣品色彩、并且色調不受照明亮度影響的LED照明。這種設計大幅度提高了邊緣的可見性和測量能力、外觀檢查能力。此外，LED照明不會出現燈光閃爍不定和亮度變化，能減輕長時間工作時的眼部疲勞。

考慮了人眼分辨能力的米字線，使位置調節變得簡單

在測量顯微鏡中如何正確的對準測量物體和米字線是很重要的。直線校準時，與使用根直線相比，使用米字線和虛線能得出更為正確的結果。奧林巴斯分析了人眼的這種特性和人眼的分辨能力，在焦面板上加入米字線和虛線，提高了對準的精度。

重復性好的調焦系統

易于追加的高精度自動調焦系統

搭載了單次對焦和跟蹤對焦兩種模式。需要謹慎而細密的操作才能完成的目視測量高度和深度，通過靈活運用操作模式可以實現自動化。這樣，不僅消除了因個人差異產生的偏差，還能夠手不離開XY手柄完成觀察，大幅度提高了Z軸測量的效率。而且，因為屬于中間鏡筒類型，所以能夠購買后續訂安裝。

【鍵對焦模式】 

在粗略對焦狀態下進行自動調焦，能在瞬間將焦點對準視場中心。

【追蹤對焦模式】 

在追蹤焦點位置的同時，始終保持對準焦點的狀態。測量時不需要重新調焦，提高了工作效率。

【技術參數】：

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廠家直銷測量顯微鏡/測量顯微鏡型號產品介紹： 一、用途：       測量顯微鏡是光學計量儀器之一種，它的結構簡單，操作方便，適用范圍極  廣，主要用途如下： 1.直角座標中測定長度，例如測定孔距，基面距離，刻線距離，刻線寬度，鍵槽  寬度，狹縫寬度，通孔圓直徑等等。 2.轉動度盤測定角度，例如對刻度盤，樣板、量規，鉆孔模板及幾何形狀復雜的零  件進行角度測量。 3.用作觀察顯微鏡，以比較檢查工作表面光潔度，鑒定冶金工業的礦石標本。檢定  印刷照相制版，檢驗紡織纖維等.

二、規格型號： 15J    15JA   15JE

  三、測量工作臺讀數裝置主要規格:    x軸移動測量范圍： 50毫米 y軸移動測量范圍： 13毫米 數顯分辯率： 0.001毫米 測量臺轉動范圍： 不限 測量臺刻度盤分度范圍：　0° - 360° 測量臺刻度盤之分度值： 1° 測量臺刻度盤游標讀數示值： 6＇ 照明方式：反射光（自然光）測量精度：儀器值誤差（5+L/15）微米 儀器示值誤差：包括測量誤差與儀器系統誤差。    注：測量地點溫度變化（20 ± 3）C；L—被測件長度（毫米） 儀器之主要尺寸： 測量臺與物鏡間之最大距離：80毫米 測量工作臺直徑： 120毫米 儀器外形尺寸：　 高325*長262*寬220毫米 儀器重量級： 約10.6公斤 顯微鏡的目鏡管同棱鏡成為一體繞垂軸旋轉，顯微鏡可由調焦手輪進行上下調

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規格參數：