AA-1800H多功能石墨爐原子吸收光譜儀
采用國際最新的技術和國內知名高校的專家聯手研發完成，擁有幾十年光譜儀器的研發和應用經驗。
該產品包括火焰、石墨爐及氫化物發生系統，可配置多種附件，靈活的配置方案可滿足不同層次客戶的需求。
可進行復雜的樣品分析，多種分析方法可自動切換，做到無人全自動分析。
AA-1800H多功能石墨爐原子吸收光譜儀技術參數
石墨爐系統 加熱方式 : 縱向加熱 控溫方式 : 縱向光學溫控監測石墨管內壁溫度 溫度范圍 : 室溫至3000℃ 程序控溫 : 全自動控溫達20階，爐內富集濃縮達20次 特征量 : 0.5×10-12g（Cd） 檢出限 : 0.4×10-12g（Cd） 精密度 : RSD≤3% 冷卻水 : 可選擇冷卻水循環系統 安全性 : 石墨管損壞、水流量、氣壓等報警；水溫過熱保護
石墨爐自動進樣器 （選配） 樣品盤 : 70位樣品杯，6位試劑杯 進樣體積 : 1-100μl,? 最小增量 : 0.1 μl, 進樣體積重復性 : 體積在10mL-100mL的時候，優于1% 重復進樣次數 : 高達99次 清洗及廢液容器容積 : 各500mL
AA-1800H多功能石墨爐原子吸收光譜儀詳細參數報價，請參閱：http://www.njzh17.com/product_308_776.html
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公司業務范圍：氣體分析、光譜儀器、光學儀器、元素分析、色譜分析、電化學分析等分析儀器；離心機、培養箱、搖床、玻璃反應釜等實驗室基礎設備；實驗室各類化玻試劑；實驗室配件耗材；承接儀器維修服務
SPECTRO MIDEX熒光光譜儀
SPECTRO MIDEX 采用空冷、低能量X射線管和高分辨率的檢測系統，集準直、聚焦、樣品激發于一體，是功能強大的金屬分析儀SPECTRO MIDEX適合分析體積很小的稀有金屬或面積較小的樣品。樣品室配有易于調節的樣品臺。通過20倍變焦攝像機可精確地確定測量位置。儀器配有計算機和專業化的軟件，使操作極為簡便。測量點直徑為0.7mm,樣品的總測量時間不超過100秒。在測定稀有金屬合金中的金含量時,樣品的測量精度為0.15%。
SPECTRO MIDEX 也可滿足快速分析的需要，在2分鐘內可完成從鋁到鈾的所有數十種元素的分析。在珠寶行業、檢測機構、海關商檢、電子電器工業以及汽車材材工業等領域，經常需要對樣品進行非破壞性的元素分析或快速分析，同時對分析面積及靈敏度也可能有苛刻的要求，如RoHS檢測、ELV檢測、貴金屬成分分析等。
- 電子行業電子元器件RoHS指令的快速檢測
- 金屬、汽車、航空領域超大及微小部件的成分檢測
- 珠寶首飾及貴金屬合金的分析
- 司法檢定分析
- 其它微區分析和較大樣品表面的元素分布分析
SPECTRO MIDEX 采用空冷、低能量X射線管和高分辨率的檢測系統，集準直、聚焦、樣品激發于一體，是功能強大的金屬分析儀SPECTRO MIDEX適合分析體積很小的稀有金屬或面積較小的樣品。樣品室配有易于調節的樣品臺。通過20倍變焦攝像機可精確地確定測量位置。儀器配有計算機和專業化的軟件，使操作極為簡便。測量點直徑為0.7mm,樣品的總測量時間不超過100秒。在測定稀有金屬合金中的金含量時,樣品的測量精度為0.15%。
SPECTRO MIDEX 也可滿足快速分析的需要，在2分鐘內可完成從鋁到鈾的所有數十種元素的分析。在珠寶行業、檢測機構、海關商檢、電子電器工業以及汽車材材工業等領域，經常需要對樣品進行非破壞性的元素分析或快速分析，同時對分析面積及靈敏度也可能有苛刻的要求，如RoHS檢測、ELV檢測、貴金屬成分分析等。
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SPECTRO MIDEX 采用空冷、低能量X射線管和高分辨率的檢測系統，集準直、聚焦、樣品激發于一體，是功能強大的金屬分析儀SPECTRO MIDEX適合分析體積很小的稀有金屬或面積較小的樣品。樣品室配有易于調節的樣品臺。通過20倍變焦攝像機可精確地確定測量位置。儀器配有計算機和專業化的軟件，使操作極為簡便。測量點直徑為0.7mm,樣品的總測量時間不超過100秒。在測定稀有金屬合金中的金含量時,樣品的測量精度為0.15%。
SPECTRO MIDEX 也可滿足快速分析的需要，在2分鐘內可完成從鋁到鈾的所有數十種元素的分析。在珠寶行業、檢測機構、海關商檢、電子電器工業以及汽車材材工業等領域，經常需要對樣品進行非破壞性的元素分析或快速分析，同時對分析面積及靈敏度也可能有苛刻的要求，如RoHS檢測、ELV檢測、貴金屬成分分析等。
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SPECTRO MIDEX 采用空冷、低能量X射線管和高分辨率的檢測系統，集準直、聚焦、樣品激發于一體，是功能強大的金屬分析儀SPECTRO MIDEX適合分析體積很小的稀有金屬或面積較小的樣品。樣品室配有易于調節的樣品臺。通過20倍變焦攝像機可精確地確定測量位置。儀器配有計算機和專業化的軟件，使操作極為簡便。測量點直徑為0.7mm,樣品的總測量時間不超過100秒。在測定稀有金屬合金中的金含量時,樣品的測量精度為0.15%。
SPECTRO MIDEX 也可滿足快速分析的需要，在2分鐘內可完成從鋁到鈾的所有數十種元素的分析。在珠寶行業、檢測機構、海關商檢、電子電器工業以及汽車材材工業等領域，經常需要對樣品進行非破壞性的元素分析或快速分析，同時對分析面積及靈敏度也可能有苛刻的要求，如RoHS檢測、ELV檢測、貴金屬成分分析等。
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TY-ABR100華南玻璃光彈性系數檢測儀器總代理
深圳供應365NM 518NM 595NM 640NM 790NM對應玻璃光彈系數測試儀
光彈系數測試儀可以測量樣品的光彈性常數.通過精密測量由負荷引起的雙折射，可以精確地“自動”測量光彈性常數.如果從外部附加到彈性體上，則與負荷的大小成比例地樣品內部產生各向異性，表現出雙折射性.這個比例常數被稱為光彈性常數.光彈性常數具有材料固有的值.另外，晶體的情況下，對于晶軸的方向顯示出不同的光彈性常數.下圖中，根據“圓盤的壓縮法”的測量示例如圖所示，根據您的要求，任何負荷方法都可以對應。另外，通過應用ABR校準功能，可以消除樣品中存在的初始雙折射（制造時的殘余應力等），分離負荷產生的雙折射來測量因此，特別是對小的光彈性常數樣品的測量非常有效。
光彈系數測定裝置全自動光彈系數測定裝置TY-10A(高解析度、高速型)雙折射系數的線性解析度高達0.01nm；可同時測量延遲軸和主軸兩個方向；基于光學相位差的雙折射系數顯示；一秒采樣時間；應用：液晶顯示屏膜；聚合物膜的取向；DVD和CD光學系統組件；由于薄膜和基材之間熱膨脹系數不同引起的應力；某些透明材料的內部殘余應力，如光學玻璃和塑料；某些透明材料的熱應力；光彈性系數；全自動光彈系數測定裝置TY-22(自動測量線性和周向雙折射系數，高速型)
光學特性光彈性常數，雙折射
力學特性彈性模量（楊氏模量），破壞強度
通過這些測量，可以分析彈性領域的形態，以及延展特性和取向特性。
光彈系數測定裝置特點：1）可同時或獨立測量線性和周向雙折射系數；2）無需樣品旋轉，即可測量主軸和延遲軸的線性雙折射系數、圓周雙折射系數的旋轉角；3）一秒采樣時間；4）可選樣品旋轉臺；5）二維或三維顯示雙折射系數的線性解析度高達0.01nm；6）可全自動操作；主要規格
變形模式：拉伸和壓縮測量
樣品尺寸：拉伸試驗用：10x 80 mm
：壓縮測試用：Φ20mm，thin 15mm
厚度：0.3–最多可支持15mm
驅動方式：通過步進馬達同時驅動左右螺絲
拉伸壓縮距離：100mm Max.
載荷傳感器：額定50N（可更換200N1000N）
恒溫層溫度控制：室溫～200℃
溫度控制精度：±1℃應用：1）液晶顯示屏(TN, STN)的雙折射分布；2）液晶顯示屏(TN, STN)的雙折射系數與電壓的關系；3）電－光學器件(如：Pockel效應、Faraday旋轉、Kerr旋轉等)；4）光學晶體研究；5）聚合物膜研究；全自動光彈系數測定裝置TY-30(超高速型)特點：1）可以實現雙折射系數的高速測量：100微秒；2）維護成本極低；3）二維或三維顯示；4）可選樣品旋轉臺；5）操作方便；應用：1）在靜態和高速旋轉速度下進行光學儲存器件表征；2）動態雙折射研究(如液晶、高分子)；3）對某些透明材料的熱沖擊；4）動態光彈性系數；5）光學相位調制器
RLE-SA02光纖光譜儀應用綜合實驗
| 產 品 說 明 | |||
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JB-750光電直讀光譜儀
【杰博】JB-750光電直讀光譜儀/價格/電話/廠家/型號/無錫杰博電器科技有限公司
手機：13301515116 電話： 83211953 聯系人：沈先生公司介紹
無錫杰博電器科技有限公司地處長三角經濟繁榮區的江蘇省無錫市，擁有知識產權，以高速分析儀器研制、生產、市場營銷、售后服務為一體的現代化高科技企業，擁有一支精誠團結的高素質隊伍。
公司以滿足客戶需求為己任，憑借堅實雄厚的技術力量，認真嚴謹的科研態度，穩健的發展戰略，成功打造出一支高質高效的科研團隊，薈萃了精密儀器、電子工程、材料、計算機、分析化學、機械制造等的佼佼者。從事分析實驗儀器的研制開發、生產和銷售。 經過細致的市場調研，我們吸收眾家之長，潛心研制開發了新一代的光電直讀光譜儀和系列紅外碳硫分析儀，產品技術領先，性能優越，得到了廣大用戶的一致好評。產品被廣泛應用于冶金、機械、煤炭、焦炭、商檢、科研、化工等行業的材料檢測。
公司先后通過了ISO9001：2008質量管理體系認證、ISO14001：2004環境管理體系認證和ISO18001:2008職業健康安全管理體系。這標志著杰博產品再一次獲得了進入國際市場的綠色通行證，為杰博生產高品質、環保產品提供了有力保障。
擁有一支高素質的售后服務隊伍，公司擁有自營進出口權，產品先后出口到東南亞、中東、非洲、南美等三十多個國家和地區。
產品簡介
我公司生產的光電直讀光譜儀是分析黑色金屬及有色金屬成份的快速定量分析儀器。本儀器廣泛應用于冶金、機械及其他工業部門，進行冶煉爐前的在線分析以及中心實驗室的產品檢驗，是控制產品質量的有效手段之一。
產品細節
產品特點
1、750mm焦距光柵設計，帕型-龍格裝置，高真空，分辨率高、靈敏度高等特點；由于機刻光柵可以產生較高級次的光譜，所以選線更具靈活性，從而避免光譜干擾。
2、儀器結構設計合理，電子系統采用國際標準機籠，高集成化電路設計，故障率低。
3、分析速度快、重復性好、穩定性好。
4、采用高穩定的數字光源，激發頻率在100—1000Hz之間變化，分析不同的樣品，可選擇不同的激發參數，可達到最佳的分析效果。
5、采用高集成化的采集和控制系統，自動化程度高。
6、采用進口的光電倍增管，具有暗電流小、信噪比高、使用壽命長等特點。。
7、分析掃描過程可同時對所有元素進行掃描，掃描過程簡單，可快速分析出每個元素相對于基體元素的偏差。
8、激發樣品過程中，無需對激發臺進行水冷卻，可連續分析樣品也能達到較好的數據。
9、測控系統采用單板機測量與控制，與上位計算機進行數據交換，提高了運行速度。
10、通過計算機軟件來調整每個通道的光電倍增管負高壓，通道負高壓分8檔調整，從而大大地提高通道的利用率和分析譜線的最佳線性范圍在分析不同材質中的采用，減少了通道的采用數量，降低了成本。
11、可用于多種基體分析：Fe、Co、Cu、Ni、Al、Pb、Mg、Zn、Sn等。
12、采用純中文Windows系統下的操作軟件，操作簡單易懂。
13、計算機軟件建有數據庫系統，方便了測量數據的查詢與打印，也可通過網絡遠程傳輸數據，方便快捷。
14、各項系統獨立供電，組成單元，使用方便，維護簡單。
15、采用光學部分恒溫措施，保證了儀器的正常運行，從而降低了對環境的要求。
16、采用高精度直線電機進行入縫掃描，速度快，精確度高。
17、采用整體出射狹縫，方面增加通道。
參數規格
| 1、激發光源： | ⑴供電電壓：50Hz、220V±1% |
| ⑵輸入功率：1.0KVA | |
| ⑶充電電容：預燃7.5μF，曝光1.5μF | |
| ⑷峰值電流：預燃120A，曝光30A | |
| ⑸主回路峰壓：300VDC(采用自動調整峰壓) | |
| ⑹引燃電路：脈沖幅度：+15KV | |
| 輔助間隙：采用隧道二極管 | |
| 放電頻率：數字光源100Hz－－1000Hz | |
| 2、激發臺 | ⑴樣品臺分析間隙：4mm |
| ⑵充氬氣樣品架，無需水冷卻 | |
| ⑶分析時間間隔：一般不到1分鐘 | |
| 3、分光儀 | ⑴分析波段范圍：160~650nm |
| ⑵光柵：曲率半徑 750mm | |
| 刻劃密度：2400線/mm | |
| 刻劃面積：30×50mm2 | |
| 閃耀波長（一級）：300nm | |
| 線色散：0.55nm/mm | |
| ⑶入射狹縫寬度：20μm | |
| ⑷出射狹縫寬度：50μm、75μm | |
| ⑸光電倍增管：直徑28mm,10級側窗管，熔融石英或玻璃外殼 | |
| ⑹允許最多通道：24個（可擴張到48個通道） | |
| ⑺分光儀局部恒溫：38℃±0.2℃ | |
| 4、測控系統 | ⑴測控系統：采用單板機測量和控制，與上位計算機進行數據交換 |
| ⑵測量方式：分段積分 | |
| 積分電容容量：0.047μF | |
| 重現性：RSD≤0.2% | |
| ⑶光電倍增管高壓電源： | |
| 電壓：-1000V | |
| 穩定度：8小時優于0.5% | |
| 高壓調節：從-550V到-1000V變化，分8（0-7）檔調整 | |
| 高壓設置：用戶通過計算機軟件改變 | |
| 5、外形尺寸： | ⑴主機：長1120mm×寬750mm×高920mm |
| ⑵重量：凈重約266Kg |
標準配置項目
| 配置名稱 | 數量 |
| JB-750型火花直讀光譜儀主機 | 1臺 |
| 計算機、標準鍵盤、鼠標、19寸彩色液晶顯示器 | 1套 |
| HP打印機 | 1臺 |
隨機備件
| 名稱 | 規格型號 | 數量 | 名稱 | 規格型號 | 數量 |
| 操作應用軟件 | 電子版 | 1個 | 工具 |
| 1套 |
| 說明書 | 密封圈 |
| 1套 | ||
| 保險管 | 15 | 2個 | 電極刷 |
| 1只 |
| 鎢電極 | W1 | 1個 | 不銹鋼管 | 6mm | 2.5米 |
| 極距規 | 4.0mm | 1個 | 氧氣減壓閥 |
| 1個 |
用戶可選配項目
| 選配件名稱 | 數量 | 備注 |
| 高精度磁飽和穩壓電源（3KVA，鐵塔或奧其絲） | 1臺 |
|
| 小型空調 | 1臺 | 必備 |
| 氬氣凈化器（氬氣不純時需要） | 1臺 |
|
| 磨樣機或砂輪機（黑色金屬專用） | 1臺 | 必備 |
| 高純氬氣（純度＞99.996%） | 1瓶 | 必備 |
| 小型車床（有色金屬專用） | 1臺 |
|
| 制樣機 | 1臺 |
|
| 小樣品激發臺 | 1臺 |
|
| 增設≥200um波長元素檢測通道 | X個 |
|
| 增設170-190um波長元素檢測通道 | X個 |
|
| 增設分析程序 | X套 |
|
| 增設基體 | X個 |
|
| 光譜標準樣品(對應材料) | X塊 |
|
電話： 傳真：
網址：www.wxjiebo.com www.jbgpy.com www.jbgpy.net http://jiebotech.b2b.hc360.com/
XR-306能量色散X熒光光譜儀
當能量高于原子內層電子結合能的高能X射線與原子發生碰撞時，驅逐一個內層電子而出現一個空穴，使整個原子體系處于不穩定的激發態，激發態原子壽命約為 10-12-10-14s，然后自發地由能量高的狀態躍遷到能量低的狀態。這個過程稱為馳豫過程。馳豫過程既可以是非輻射躍遷，也可以是輻射躍遷。當較外層的電子躍遷到空穴時，所釋放的能量隨即在原子內部被吸收而逐出較外層的另一個次級光電子，此稱為俄歇效應，亦稱次級光電效應或無輻射效應，所逐出的次級光電子稱為俄歇電子。它的能量是特征的，與入射輻射的能量無關。當較外層的電子躍入內層空穴所釋放的能量不在原子內被吸收，而是以輻射形式放出，便產生X 射線熒光，其能量等于兩能級之間的能量差。因此，X射線熒光的能量或波長是特征性的，與元素有一一對應的關系。
K層電子被逐出后,其空穴可以被外層中任一電子所填充，從而可產生一系列的譜線，稱為K系譜線：由L層躍遷到K層輻射的X射線叫Kα射線,由M層躍遷到K層輻射的X射線叫Kβ射線……。同樣,L層電子被逐出可以產生L系輻射。如果入射的X 射線使某元素的K層電子激發成光電子后L層電子躍遷到K層，此時就有能量ΔE釋放出來，且ΔE=EK-EL，這個能量是以X射線形式釋放，產生的就是Kα 射線，同樣還可以產生Kβ射線 ，L系射線等。莫斯萊(H.G.Moseley) 發現，熒光X射線的波長λ與元素的原子序數Z有關，其數學關系如下：
λ=K(Z-s)-2
這就是莫斯萊定律，式中K和S是常數，因此,只要測出熒光X射線的波長,就可以知道元素的種類,這就是熒光X射線定性分析的基礎。此外,熒光X射線的強度與相應元素的含量有一定的關系，據此，可以進行元素定量分析。
（二）XR-306能量色散X熒光光譜儀特點
1.無需制樣即可直接測量.
2. 所有元素可以同時測量,且短短幾分鐘即可完成分析,可以應付大批量待測樣品.
3. 檢出限低,可以滿足WEEE和ROHS指令要求.
4. 無損分析. 分析樣品不被破壞，分析快速，，便于自動化。
5. 沒有人為誤差,誰操作都得到一樣的結果.
6. 操作簡單,可以單鍵完成操作.
7.分析的元素范圍廣，從Na到U均可測定；
8.熒光X射線譜線簡單，相互干擾少，樣品不必分離，分析方法比較簡便；
9.分析濃度范圍較寬,從常量到微量都可分析。重元素的檢測限可達ppm量級，
10、連續測試重復性極強，測試數據穩定
（三）能量色散光譜分析儀與波長色散光譜分析儀的區別
能量色散分析儀只有一個探測器，它對測量Ｘ射線能量范圍是不受限制的，而且這個探測器能同時測量到所有能量的Ｘ射線。也就是說只要激發樣品的Ｘ射線的能量和強度能滿足激發所測樣品的條件，對一組分析的元素都能同時測量出來。一般有以下三種基本類型的探測器可用于測量Ｘ射線：密封式或流氣式充氣探測器、閃爍探測器、半導體探測器。
能量色散的條件是當樣品被激發后產生的Ｘ射線通過窗口進入探測器探測器把Ｘ射線能量轉換成電荷脈沖，每個Ｘ射線光子在探測器中生成的電荷與該光子的能量成正比。該電荷被轉換成電壓脈沖，當這些電壓脈沖經充分放大后，被送入脈沖處理器，脈沖處理器把這些代表著各個元素的模擬信號再轉換成為數字信號，由計算機進行分類，分別存入多道分析器（ＭＣＡ）的相應通道內，一般使用１０２４－２０４８道ＭＣＡ。這些通道覆蓋了分析的整個能量范圍。
波長色散分析儀是用多個衍射晶體分開待測樣品中各元素的波長，由此對元素進行測量。晶體被安裝在適當位置，以滿足布拉格定律的要求。 Ｘ射線熒光分析和其它光譜分析一樣，也是一種相對分析。這就是說，要有一套參考標樣，這些參考標樣能夠在可能感興趣的范圍內覆蓋所測元素。首先對這些標樣進行測量，記錄欲分析元素的強度，建立濃度（含量）、強度（ＣＰＳ）校準曲線，存入處理數據的計算機，供以后分析同一類型未知樣品時使用。 最簡單的校準線是直線，強度與濃度的依賴關系反映儀器的靈敏度。
另外由于校準線要在很長一段時間內使用，所以應對儀器的漂移作出調整，盡管這種漂移不大，但它確實存在。這可以通過對每個分析元素選用高、低兩個參考點來實現。制備若干被稱作ＳＵＳ（調整樣）的特殊樣品，它們含有適量的分析元素，有很好的穩定性。利用它們可以求出高、低強度值。
產品規格：
名 稱 | X熒光光譜儀 |
型 號 | XR-306 |
分析原理 | 能量色散X射線熒光分析法 |
分析元素 | Na ～U任意元素, 鉛（Pb）、鎘(Cd)、汞（Hg）、六價鉻（Cr6+）、多溴聯苯（PBB）和多溴聯苯醚（PBDE）中的溴。 |
技術指標 | 檢出下限(Cd/Pd)：Cd/Cr/Hg/Br≦2 ppm, Pb≦5 ppm 樣品形狀：任意大小，任意不規則形狀 樣品類型：塑膠/金屬/薄膜/粉末/液體 X射線管：靶材/Mo 管電壓/5～50 kV 管電流/最大1～1000 μA 照射直徑：2、5、8mm 探測器：Si(PIN)半導體高靈敏度探測器 濾光片：八種新型濾光片自動選擇 樣品定位：微動載物平臺（選配） 樣品觀察：30倍彩色CCD攝像機 微區分析：X光聚焦微區分析系統（選配）軟件 定量分析：理論Alpha系數法(NBS-GSC法) 數據處理：IMB PC/AT/內存/256 MB 以上/硬盤/40 GB 以上 系統：Windows XP正版 功率：1.1kW 重量：40Kg 外形尺寸：550(W)×450(D)×450(H)mm |
標準配置 | 標準配置：Si(PIN)半導體高靈敏度探測器(<150eV) X光光管(壽命>15000小時) 高壓電源（RSD<0.25%） 大樣品倉 高精密攝像機(130萬像素) Alpha系數法(NBS-GSC法)定量軟件 計算機(P4品牌機) 打印機（愛普生彩色噴墨打印機） 測試用樣品杯2個，測試用塑料薄膜數張 標 樣：歐盟EC681一片、銀校正標樣一片。 1KVA UPS不間斷電源 儀器工作臺 |
工作條件 | 工作溫度：10-30℃ 相對濕度：≤70% 電源：AC 220 V±10 %、50/60 Hz |
EDX1800Bx熒光光譜儀臺式智能有害元素檢測儀
ATR FTIR PROBE探頭式傅里葉變換衰減全反射紅外光譜儀
ATR FTIR PROBE探頭式傅里葉變換衰減全反射紅外光譜儀
晶格碼獨有的探頭式傅里葉變換衰減全反射紅外光譜儀是利用紅外線光譜經傅立葉變換進而能夠分析樣品濃度的在線光譜分析儀。該產品的光纖探頭將FTIR變成了一個真正的原位測量儀器，讓您實現之前無法達成的常規FTIR分析。利用我們獨特的光纜設計，可以將FTIR用于一個傳統的實驗室規模的反應容器，或是自動化的實驗室反應器中。
系統所配備的光纖探頭采用專利技術，將紅外發射光纖束與一個全反射晶體相結合，對液體和半液體樣品進行分析，或者是將紅外發射光纖束和專門的透射或反射式探頭結合在一起，對氣體、液體和固體樣品進行分析。
實時反應監控軟件
- 具有實時3D顯示和趨勢線功能
- 完全匹配和控制光譜儀
- 全功能光譜軟件，包括3D繪圖、曲線擬合等常用功能，以及許多其他附加功能。
技術指標
- 光譜范圍：5000 cm-1~900 cm-1
- 探測溫度范圍：根據客戶需求定制
- 探管直徑：詳見下表各種探頭的參數配置
- 探頭長度：根據客戶需求定制
- 壓力：根據客戶需求定制1~＞200 bar
- 材料：耐腐蝕不銹鋼、哈氏合金;對于不同的使用環境，可以用不同的探頭材料
性能特征
- 獨特的光纜設計，可在常規實驗室規模的反應器中或ALR（自動化實驗室反應器）內使用
- 該系統的一個獨特之處是可用的液體透射式探頭，其可變化光程從幾微米到約6毫米。多種探頭可選（高/低溫，高壓）
- 探頭材料和長度可根據客戶要求定制
- 耐腐蝕探頭可在惡劣的環境中工作
光纖光譜儀
產品優勢
u 寬的光譜測量范圍185-1100nm
u 專用的測量紫外、可見、近紅外和紅外波段的光譜儀
u 高品質光譜分辨率，最高可達0.03nm
u 可同時完成光譜波長與強度分布測量，吸光度測量，色品坐標和顏色測量
u 精巧的外觀設計，設計均采用通用標準接口
u 豐富的可選配件，光源、光纖、CCD探頭
u 無需外接電源，USB直接供電，工作穩定
軟件優勢
l 采用USB接口，全面支持Win7系統
l 軟件自動識別、連接功能，通訊方便，能同時連接多臺光譜儀器
l 集成多種光譜分析模塊（光譜波長、強度分布測量、吸光度測量、色品坐標、
顏色測量等）
l 提供多種樣品光譜（標準光源光譜/太陽光光譜/氘燈光譜/汞燈光譜/各類
LED光譜/高低色溫節能燈光譜；各種玻璃片的吸光度光譜）
l 方便快捷的數據處理功能（將光譜數據與圖像導入到Excel、TXT文件中，
同時可保存為*.pdf *.bmp等文件）
l 便捷的智能曝光時間功能
l 具有光譜錄像功能
| 型號 | AULTT-P2000 | AULTT-P3000 | AULTT-P4000 |
| 有效波長范圍 | 350-1000nm | 200-800nm | 185-1100nm |
| 應用 | 可見波段測量 | 紫外波段測量 | 紫外、可見、紅外測量 |
| 最高分辨率 | 0.03nm | 0.03nm | 0.03nm |
| 波長重復誤差 | < 0.3nm | < 0.3nm | < 0.3nm |
| 探測器（CCD） | 2048單元線陣硅CCD | 3648單元線陣硅CCD | 3648單元線陣硅CCD |
| 狹縫寬度 | 30μm | 30μm | 30μm |
| 光柵 | 600線@450nm | 600線@250nm | 600線@250nm |
UX-300X熒光光譜儀
深圳市華唯計量技術開發有限（UniqueMetricalTechnology Development Co. ，Ltd. Shenzhen ）是中國最大的，專業制造、生產和銷售X熒光分析儀器的高新技術企業聯盟成員。擁有國內的X熒光分析技術領域的專家隊伍（國家X熒光光譜儀“七五”“九五”攻關項目絕大部分核心成員），是集產品設計、開發、制造、銷售及服務為一體的科技實體，在X熒光分析儀項目上，產品包括波長色散X熒光分析儀和能量色散X熒光分析儀兩大系列。同時，公司與國內外相關領域的專業研究院所保持著密切的合作關系，實時追蹤國際X熒光分析領域最前沿的理論和技術，也是目前中國專業化生產波長色散X熒光分析儀的企業聯盟成員。 UX系列能量色散X熒光分析儀、 BX系列波長色散X熒光分析儀是我們總結我國多年來研制該類型儀器的經驗和教訓, 并吸收國際技術基礎上，深入進行產業化研發形成的高科技產品，各項技術性能指標均已達到國際同類產品水平。
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