恒溫循環(huán)器產(chǎn)品及廠家
東莞市偉煌試驗(yàn)設(shè)備有限公司企業(yè)信息是業(yè)從事實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn)設(shè)備研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的系統(tǒng)服務(wù)制造商，在香港設(shè)立香港偉煌科技有限公司，在中國大陸設(shè)立東莞市偉煌試驗(yàn)設(shè)備有限公司，并在多地設(shè)立服務(wù)網(wǎng)點(diǎn)，公司研發(fā)產(chǎn)品技術(shù)優(yōu)良，設(shè)備先進(jìn)，檢測手段齊全，已成功申請多項(xiàng)國家利，公司擁有優(yōu)秀的技術(shù)人才和管理人才，使公司產(chǎn)品獲得廣大新老客戶的支持和信賴。
更新時(shí)間:2025-11-04
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東莞市偉煌試驗(yàn)設(shè)備有限公司企業(yè)信息是業(yè)從事實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn)設(shè)備研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的系統(tǒng)服務(wù)制造商，在香港設(shè)立香港偉煌科技有限公司，在中國大陸設(shè)立東莞市偉煌試驗(yàn)設(shè)備有限公司，并在多地設(shè)立服務(wù)網(wǎng)點(diǎn)，公司研發(fā)產(chǎn)品技術(shù)優(yōu)良，設(shè)備先進(jìn)，檢測手段齊全，已成功申請多項(xiàng)國家利，公司擁有優(yōu)秀的技術(shù)人才和管理人才，使公司產(chǎn)品獲得廣大新老客戶的支持和信賴。
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高低溫?zé)崃髟囼?yàn)機(jī)實(shí)力廠家本設(shè)備適用于各類半導(dǎo)體芯片、閃存flash/emmc、pcb 電路板ic、光通訊（如收發(fā)器 transceiver 高低溫測試、sfp 光模塊高低溫測試等）、電子行業(yè)等進(jìn)行ic 特性分析、高低溫循環(huán)測試、溫度沖擊測試、失效分析等可靠性試驗(yàn)
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高低溫?zé)崃髟囼?yàn)機(jī)實(shí)力品牌商實(shí)力廠家本設(shè)備適用于各類半導(dǎo)體芯片、閃存flash/emmc、pcb 電路板ic、光通訊（如收發(fā)器 transceiver 高低溫測試、sfp 光模塊高低溫測試等）、電子行業(yè)等進(jìn)行ic 特性分析、高低溫循環(huán)測試、溫度沖擊測試、失效分析等可靠性試驗(yàn)
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高低溫?zé)崃髟囼?yàn)機(jī)最新報(bào)道本設(shè)備適用于各類半導(dǎo)體芯片、閃存flash/emmc、pcb 電路板ic、光通訊（如收發(fā)器 transceiver 高低溫測試、sfp 光模塊高低溫測試等）、電子行業(yè)等進(jìn)行ic 特性分析、高低溫循環(huán)測試、溫度沖擊測試、失效分析等可靠性試驗(yàn)
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高低溫?zé)崃髟囼?yàn)機(jī)新產(chǎn)品介紹本設(shè)備適用于各類半導(dǎo)體芯片、閃存flash/emmc、pcb 電路板ic、光通訊（如收發(fā)器 transceiver 高低溫測試、sfp 光模塊高低溫測試等）、電子行業(yè)等進(jìn)行ic 特性分析、高低溫循環(huán)測試、溫度沖擊測試、失效分析等可靠性試驗(yàn)
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東莞高低溫?zé)崃髟囼?yàn)機(jī)新產(chǎn)品介紹本設(shè)備適用于各類半導(dǎo)體芯片、閃存flash/emmc、pcb 電路板ic、光通訊（如收發(fā)器 transceiver 高低溫測試、sfp 光模塊高低溫測試等）、電子行業(yè)等進(jìn)行ic 特性分析、高低溫循環(huán)測試、溫度沖擊測試、失效分析等可靠性試驗(yàn)
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深圳高低溫?zé)崃髟囼?yàn)機(jī)新產(chǎn)品介紹本設(shè)備適用于各類半導(dǎo)體芯片、閃存flash/emmc、pcb 電路板ic、光通訊（如收發(fā)器 transceiver 高低溫測試、sfp 光模塊高低溫測試等）、電子行業(yè)等進(jìn)行ic 特性分析、高低溫循環(huán)測試、溫度沖擊測試、失效分析等可靠性試驗(yàn)
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高低溫?zé)崃鳑_擊試驗(yàn)機(jī)特點(diǎn)介紹本設(shè)備適用于各類半導(dǎo)體芯片、閃存flash/emmc、pcb 電路板ic、光通訊（如收發(fā)器 transceiver 高低溫測試、sfp 光模塊高低溫測試等）、電子行業(yè)等進(jìn)行ic 特性分析、高低溫循環(huán)測試、溫度沖擊測試、失效分析等可靠性試驗(yàn)
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高低溫?zé)崃鳑_擊試驗(yàn)機(jī)介紹介紹本設(shè)備適用于各類半導(dǎo)體芯片、閃存flash/emmc、pcb 電路板ic、光通訊（如收發(fā)器 transceiver 高低溫測試、sfp 光模塊高低溫測試等）、電子行業(yè)等進(jìn)行ic 特性分析、高低溫循環(huán)測試、溫度沖擊測試、失效分析等可靠性試驗(yàn)
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高低溫?zé)崃鳑_擊試驗(yàn)機(jī)偉煌直銷介紹本設(shè)備適用于各類半導(dǎo)體芯片、閃存flash/emmc、pcb 電路板ic、光通訊（如收發(fā)器 transceiver 高低溫測試、sfp 光模塊高低溫測試等）、電子行業(yè)等進(jìn)行ic 特性分析、高低溫循環(huán)測試、溫度沖擊測試、失效分析等可靠性試驗(yàn)
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高低溫?zé)崃鳑_擊試驗(yàn)機(jī)生產(chǎn)商介紹本設(shè)備適用于各類半導(dǎo)體芯片、閃存flash/emmc、pcb 電路板ic、光通訊（如收發(fā)器 transceiver 高低溫測試、sfp 光模塊高低溫測試等）、電子行業(yè)等進(jìn)行ic 特性分析、高低溫循環(huán)測試、溫度沖擊測試、失效分析等可靠性試驗(yàn)
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高低溫?zé)崃鳑_擊試驗(yàn)機(jī)說明書介紹本設(shè)備適用于各類半導(dǎo)體芯片、閃存flash/emmc、pcb 電路板ic、光通訊（如收發(fā)器 transceiver 高低溫測試、sfp 光模塊高低溫測試等）、電子行業(yè)等進(jìn)行ic 特性分析、高低溫循環(huán)測試、溫度沖擊測試、失效分析等可靠性試驗(yàn)
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高低溫?zé)崃鳑_擊試驗(yàn)機(jī)維修介紹本設(shè)備適用于各類半導(dǎo)體芯片、閃存flash/emmc、pcb 電路板ic、光通訊（如收發(fā)器 transceiver 高低溫測試、sfp 光模塊高低溫測試等）、電子行業(yè)等進(jìn)行ic 特性分析、高低溫循環(huán)測試、溫度沖擊測試、失效分析等可靠性試驗(yàn)
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whtst-150l-65-3w冷熱沖擊試驗(yàn)箱工作流程@企業(yè)動態(tài)whtst-150l-65-3w冷熱沖擊試驗(yàn)箱用來測試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料以及各式產(chǎn)品，在瞬間下經(jīng)高溫或低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，藉以在*短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化及物理傷害。適用的對象包括金屬、塑膠、橡膠、電子等，可作為其產(chǎn)品改進(jìn)的依據(jù)或參考。
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whtst-150l-65-3w冷熱沖擊試驗(yàn)箱工作流程@新聞快訊whtst-150l-65-3w冷熱沖擊試驗(yàn)箱用來測試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料以及各式產(chǎn)品，在瞬間下經(jīng)高溫或低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，藉以在*短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化及物理傷害。適用的對象包括金屬、塑膠、橡膠、電子等，可作為其產(chǎn)品改進(jìn)的依據(jù)或參考。
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w-uv3紫外光加速老化試驗(yàn)箱廠家及價(jià)格@采購資訊w-uv3紫外光加速老化試驗(yàn)箱用于豐非金屬材料、有機(jī)材料（如：涂料、油漆、橡膠、塑膠及其制品），經(jīng)在陽光、濕度、溫度、凝露等氣候條件的變化下檢驗(yàn)有關(guān)產(chǎn)品及材料老化現(xiàn)象程度。在短時(shí)間內(nèi)得到變色，退色等情況。
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w-uv3紫外光加速老化試驗(yàn)箱選購注意事項(xiàng)@選購指南w-uv3紫外光加速老化試驗(yàn)箱用于豐非金屬材料、有機(jī)材料（如：涂料、油漆、橡膠、塑膠及其制品），經(jīng)在陽光、濕度、溫度、凝露等氣候條件的變化下檢驗(yàn)有關(guān)產(chǎn)品及材料老化現(xiàn)象程度。在短時(shí)間內(nèi)得到變色，退色等情況。
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whtst-80l-40-3w冷熱沖擊試驗(yàn)箱廠家@新聞快訊whtst-80l-40-3w冷熱沖擊試驗(yàn)箱用來測試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料以及各式產(chǎn)品，在瞬間下經(jīng)高溫或低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，藉以在*短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化及物理傷害。適用的對象包括金屬、塑膠、橡膠、電子等，可作為其產(chǎn)品改進(jìn)的依據(jù)或參考。
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whtst-80l-40-3w冷熱沖擊試驗(yàn)箱廠家@采購資訊whtst-80l-40-3w冷熱沖擊試驗(yàn)箱用來測試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料以及各式產(chǎn)品，在瞬間下經(jīng)高溫或低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，藉以在*短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化及物理傷害。適用的對象包括金屬、塑膠、橡膠、電子等，可作為其產(chǎn)品改進(jìn)的依據(jù)或參考。
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whtst-150l-65-3w冷熱沖擊試驗(yàn)箱價(jià)格@企業(yè)資訊whtst-150l-65-3w冷熱沖擊試驗(yàn)箱用來測試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料以及各式產(chǎn)品，在瞬間下經(jīng)高溫或低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，藉以在*短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化及物理傷害。適用的對象包括金屬、塑膠、橡膠、電子等，可作為其產(chǎn)品改進(jìn)的依據(jù)或參考。
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whtst-150l-65-3w冷熱沖擊試驗(yàn)箱價(jià)格@市場報(bào)道whtst-150l-65-3w冷熱沖擊試驗(yàn)箱用來測試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料以及各式產(chǎn)品，在瞬間下經(jīng)高溫或低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，藉以在*短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化及物理傷害。適用的對象包括金屬、塑膠、橡膠、電子等，可作為其產(chǎn)品改進(jìn)的依據(jù)或參考。
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whtst-50l-40-3w冷熱沖擊試驗(yàn)箱曲線圖@公司動態(tài)whtst-80l-40-3w冷熱沖擊試驗(yàn)箱用來測試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料以及各式產(chǎn)品，在瞬間下經(jīng)高溫或低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，藉以在*短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化及物理傷害。適用的對象包括金屬、塑膠、橡膠、電子等，可作為其產(chǎn)品改進(jìn)的依據(jù)或參考。
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whtst-50l-40-3w冷熱沖擊試驗(yàn)箱曲線圖@企業(yè)資訊whtst-80l-40-3w冷熱沖擊試驗(yàn)箱用來測試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料以及各式產(chǎn)品，在瞬間下經(jīng)高溫或低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，藉以在*短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化及物理傷害。適用的對象包括金屬、塑膠、橡膠、電子等，可作為其產(chǎn)品改進(jìn)的依據(jù)或參考。
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whth-1000l-40-oyo恒溫恒濕試驗(yàn)箱操作指導(dǎo)說明書@資料中心whth-1000l-40-oyo恒溫恒濕試驗(yàn)箱可以zhunque模擬低溫、高溫、高溫高濕、低溫低濕等復(fù)雜的自然狀環(huán)境。廣泛適應(yīng)于電子、電器、、塑料、五金、化工、航空、航天、學(xué)院、打印機(jī)耗材、汽車等行業(yè)。
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whth-1000l-40-oyo恒溫恒濕試驗(yàn)箱操作指導(dǎo)說明書@技術(shù)資料whth-1000l-40-oyo恒溫恒濕試驗(yàn)箱可以zhunque模擬低溫、高溫、高溫高濕、低溫低濕等復(fù)雜的自然狀環(huán)境。廣泛適應(yīng)于電子、電器、、塑料、五金、化工、航空、航天、學(xué)院、打印機(jī)耗材、汽車等行業(yè)。
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whtst-80l-40-3w冷熱沖擊試驗(yàn)箱原理@新聞快訊whtst-80l-40-3w冷熱沖擊試驗(yàn)箱用來測試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料以及各式產(chǎn)品，在瞬間下經(jīng)高溫或低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，藉以在*短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化及物理傷害。適用的對象包括金屬、塑膠、橡膠、電子等，可作為其產(chǎn)品改進(jìn)的依據(jù)或參考。
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whtst-80l-40-3w冷熱沖擊試驗(yàn)箱原理@技術(shù)說明whtst-80l-40-3w冷熱沖擊試驗(yàn)箱用來測試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料以及各式產(chǎn)品，在瞬間下經(jīng)高溫或低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，藉以在*短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化及物理傷害。適用的對象包括金屬、塑膠、橡膠、電子等，可作為其產(chǎn)品改進(jìn)的依據(jù)或參考。
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whtst-50l-40-3w深圳冷熱沖擊試驗(yàn)箱產(chǎn)品說明書@資料中心whtst-80l-40-3w冷熱沖擊試驗(yàn)箱用來測試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料以及各式產(chǎn)品，在瞬間下經(jīng)高溫或低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，藉以在*短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化及物理傷害。適用的對象包括金屬、塑膠、橡膠、電子等，可作為其產(chǎn)品改進(jìn)的依據(jù)或參考。
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whtst-50l-40-3w深圳冷熱沖擊試驗(yàn)箱價(jià)格@市場報(bào)道whtst-80l-40-3w冷熱沖擊試驗(yàn)箱用來測試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料以及各式產(chǎn)品，在瞬間下經(jīng)高溫或低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，藉以在*短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化及物理傷害。適用的對象包括金屬、塑膠、橡膠、電子等，可作為其產(chǎn)品改進(jìn)的依據(jù)或參考。
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w-xd-225-t深圳氙燈老化試驗(yàn)箱使用說明書@資料中心w-xd-225-t氙燈老化試驗(yàn)箱可用于新材料的選擇、改變現(xiàn)有材料或評估材料組成變化后耐用性的變化試驗(yàn)，可以很好的模擬在不同環(huán)境條件下，材料暴露在陽光下所產(chǎn)生的變化。
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w-xd-225-t深圳氙燈老化試驗(yàn)箱價(jià)格@采購資訊w-xd-225-t氙燈老化試驗(yàn)箱可用于新材料的選擇、改變現(xiàn)有材料或評估材料組成變化后耐用性的變化試驗(yàn)，可以很好的模擬在不同環(huán)境條件下，材料暴露在陽光下所產(chǎn)生的變化。
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w-xd1-80-t氙燈老化試驗(yàn)箱出租@市場快訊w-xd1-80-t氙燈老化試驗(yàn)箱可用于新材料的選擇、改變現(xiàn)有材料或評估材料組成變化后耐用性的變化試驗(yàn)，可以很好的模擬在不同環(huán)境條件下，材料暴露在陽光下所產(chǎn)生的變化。
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w-xd1-80-t氙燈老化試驗(yàn)箱出租@新聞快訊w-xd1-80-t氙燈老化試驗(yàn)箱可用于新材料的選擇、改變現(xiàn)有材料或評估材料組成變化后耐用性的變化試驗(yàn)，可以很好的模擬在不同環(huán)境條件下，材料暴露在陽光下所產(chǎn)生的變化。
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whts-1865偉煌品牌熱流儀@新聞快訊whts-1865熱流儀適用于各類半導(dǎo)體芯片、閃存flash/emmc、pcb 電路板ic、光通訊（如收發(fā)器 transceiver 高低溫測試、sfp 光模塊高低溫測試等）、電子行業(yè)等進(jìn)行ic 特性分析、高低溫循環(huán)測試、溫度沖擊測試、失效分析等kekao性試驗(yàn)。
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whts-1865偉煌品牌熱流儀產(chǎn)品操作說明@企業(yè)資訊whts-1865熱流儀適用于各類半導(dǎo)體芯片、閃存flash/emmc、pcb 電路板ic、光通訊（如收發(fā)器 transceiver 高低溫測試、sfp 光模塊高低溫測試等）、電子行業(yè)等進(jìn)行ic 特性分析、高低溫循環(huán)測試、溫度沖擊測試、失效分析等kekao性試驗(yàn)。
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whts-1855熱流儀操作說明@資料中心whts-1855熱流儀適用于各類半導(dǎo)體芯片、閃存flash/emmc、pcb 電路板ic、光通訊（如收發(fā)器 transceiver 高低溫測試、sfp 光模塊高低溫測試等）、電子行業(yè)等進(jìn)行ic 特性分析、高低溫循環(huán)測試、溫度沖擊測試、失效分析等kekao性試驗(yàn)。
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whts-1855熱流儀操作說明@2021年產(chǎn)品說明書whts-1855熱流儀適用于各類半導(dǎo)體芯片、閃存flash/emmc、pcb 電路板ic、光通訊（如收發(fā)器 transceiver 高低溫測試、sfp 光模塊高低溫測試等）、電子行業(yè)等進(jìn)行ic 特性分析、高低溫循環(huán)測試、溫度沖擊測試、失效分析等kekao性試驗(yàn)。
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whts-1865熱流儀型號@儀器資料whts-1865熱流儀適用于各類半導(dǎo)體芯片、閃存flash/emmc、pcb 電路板ic、光通訊（如收發(fā)器 transceiver 高低溫測試、sfp 光模塊高低溫測試等）、電子行業(yè)等進(jìn)行ic 特性分析、高低溫循環(huán)測試、溫度沖擊測試、失效分析等kekao性試驗(yàn)。
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whts-1865熱流儀型號@市場報(bào)道whts-1865熱流儀適用于各類半導(dǎo)體芯片、閃存flash/emmc、pcb 電路板ic、光通訊（如收發(fā)器 transceiver 高低溫測試、sfp 光模塊高低溫測試等）、電子行業(yè)等進(jìn)行ic 特性分析、高低溫循環(huán)測試、溫度沖擊測試、失效分析等kekao性試驗(yàn)。
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whts-1855熱流儀價(jià)格@企業(yè)資訊whts-1855熱流儀適用于各類半導(dǎo)體芯片、閃存flash/emmc、pcb 電路板ic、光通訊（如收發(fā)器 transceiver 高低溫測試、sfp 光模塊高低溫測試等）、電子行業(yè)等進(jìn)行ic 特性分析、高低溫循環(huán)測試、溫度沖擊測試、失效分析等kekao性試驗(yàn)。
更新時(shí)間:2025-11-04
whts-1855熱流儀價(jià)格@新聞快報(bào)whts-1855熱流儀適用于各類半導(dǎo)體芯片、閃存flash/emmc、pcb 電路板ic、光通訊（如收發(fā)器 transceiver 高低溫測試、sfp 光模塊高低溫測試等）、電子行業(yè)等進(jìn)行ic 特性分析、高低溫循環(huán)測試、溫度沖擊測試、失效分析等kekao性試驗(yàn)。
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whts-1865熱流儀資訊@企業(yè)動態(tài)whts-1865熱流儀適用于各類半導(dǎo)體芯片、閃存flash/emmc、pcb 電路板ic、光通訊（如收發(fā)器 transceiver 高低溫測試、sfp 光模塊高低溫測試等）、電子行業(yè)等進(jìn)行ic 特性分析、高低溫循環(huán)測試、溫度沖擊測試、失效分析等kekao性試驗(yàn)。
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whts-1865熱流儀資訊@資料中心whts-1865熱流儀適用于各類半導(dǎo)體芯片、閃存flash/emmc、pcb 電路板ic、光通訊（如收發(fā)器 transceiver 高低溫測試、sfp 光模塊高低溫測試等）、電子行業(yè)等進(jìn)行ic 特性分析、高低溫循環(huán)測試、溫度沖擊測試、失效分析等kekao性試驗(yàn)。
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whtst-150l-65-3w佛山冷熱沖擊試驗(yàn)箱價(jià)格@企業(yè)資訊whtst-150l-65-3w冷熱沖擊試驗(yàn)箱用來測試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料以及各式產(chǎn)品，在瞬間下經(jīng)高溫或低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，藉以在*短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化及物理傷害。適用的對象包括金屬、塑膠、橡膠、電子等，可作為其產(chǎn)品改進(jìn)的依據(jù)或參考。
更新時(shí)間:2025-11-04
whtst-150l-65-3w佛山冷熱沖擊試驗(yàn)箱廠家@采購資訊whtst-150l-65-3w冷熱沖擊試驗(yàn)箱用來測試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料以及各式產(chǎn)品，在瞬間下經(jīng)高溫或低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，藉以在*短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化及物理傷害。適用的對象包括金屬、塑膠、橡膠、電子等，可作為其產(chǎn)品改進(jìn)的依據(jù)或參考。
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whtst-80l-40-3w冷熱沖擊試驗(yàn)箱出租@新聞快訊whtst-80l-40-3w冷熱沖擊試驗(yàn)箱用來測試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料以及各式產(chǎn)品，在瞬間下經(jīng)高溫或低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，藉以在*短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化及物理傷害。適用的對象包括金屬、塑膠、橡膠、電子等，可作為其產(chǎn)品改進(jìn)的依據(jù)或參考。
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whtst-80l-40-3w冷熱沖擊試驗(yàn)箱出租@市場快訊whtst-80l-40-3w冷熱沖擊試驗(yàn)箱用來測試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料以及各式產(chǎn)品，在瞬間下經(jīng)高溫或低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，藉以在*短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化及物理傷害。適用的對象包括金屬、塑膠、橡膠、電子等，可作為其產(chǎn)品改進(jìn)的依據(jù)或參考。
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