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      光學(xué)測(cè)量?jī)x產(chǎn)品及廠家

      美國 MMR 霍爾效應(yīng)測(cè)量系統(tǒng)
      美國 mmr 霍爾效應(yīng)測(cè)量系統(tǒng) h5000,用于研究光電材料的電學(xué)特性,利用范德堡測(cè)量技術(shù)測(cè)量材料在不同溫度、磁場(chǎng)下的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數(shù)及載流子類型。整套系統(tǒng)主要包括控制器、樣品室、磁場(chǎng)三部分。
      更新時(shí)間:2025-11-06
      半導(dǎo)體測(cè)試探針臺(tái)
      半導(dǎo)體測(cè)試探針臺(tái)kup007,emp100c,emp100b,emp50s
      更新時(shí)間:2025-11-06
      德國Mecwins 掃描式激光分析儀
      德國mecwins 掃描式激光分析儀scala,它是用激光入射掃描樣品表面,收集反射信號(hào)得到樣品表面的三維形貌和特征。
      更新時(shí)間:2025-11-06
      美國NANOVEA三維表面形貌儀
      美國nanovea三維表面形貌儀hs1000型,是一款高速的三維形貌儀,最高掃描速度可達(dá)1m/s,采用國際領(lǐng)先的白光共聚焦技術(shù),可實(shí)現(xiàn)對(duì)材料表面從納米到毫米量級(jí)的粗糙度測(cè)試,具有測(cè)量精度高,速度快,重復(fù)性好的優(yōu)點(diǎn),該儀器可用于測(cè)量大尺寸樣品或質(zhì)檢現(xiàn)場(chǎng)使用。
      更新時(shí)間:2025-11-06
      德國YXLON 高分辨率X射線檢測(cè)設(shè)備
      德國 yxlon 高分辨率x射線檢測(cè)設(shè)備 y.cougar smt 平板探測(cè)器(標(biāo)配) y.cheetah 高速平板探測(cè)器(標(biāo)配)
      更新時(shí)間:2025-11-06
      美國Royec芯片拾取及放置系統(tǒng)
      美國royec芯片拾取及放置系統(tǒng)die pick & place systems,new !! ap+ 全自動(dòng)芯片分選系統(tǒng)
      更新時(shí)間:2025-11-06
      美國Royec半自動(dòng)型芯片拾取系統(tǒng)
      美國royec半自動(dòng)型芯片拾取系統(tǒng)de35-st ,最小200微米芯片拾取,可選配背面,側(cè)面檢測(cè),可選配芯片轉(zhuǎn)向功能.
      更新時(shí)間:2025-11-06
      美國RTI自動(dòng)特性圖示儀
      美國rti自動(dòng)特性圖示儀 mt century curve tracer,是一個(gè)性價(jià)比較高的曲線追蹤設(shè)備。最多到96個(gè)channel,提供4種型號(hào)可供客戶選擇,mt century curve tracer 與rti其他大型curve trace擁有一樣的可靠性,功率和軟件。像其他rti機(jī)型一樣,mt century系統(tǒng)的設(shè)計(jì)有與950系列的測(cè)試夾具及其它專用夾具連接的接口。
      更新時(shí)間:2025-11-06
      德國Klocke Nanotech  3D納米級(jí)三維測(cè)量?jī)x
      德國klocke nanotech納米級(jí)三維測(cè)量?jī)x3d nanofinger,是一種實(shí)用的納米精度坐標(biāo)和形貌綜合測(cè)量設(shè)備。由臺(tái)架、控制系統(tǒng)、探頭、針尖組成. 可測(cè)量樣品外形尺寸,表面輪廓、粗糙度等,并可與超精密微加工、微組裝系統(tǒng)組合,進(jìn)行在線檢測(cè)、質(zhì)量控制等。
      更新時(shí)間:2025-11-06
      日本A&D粒子計(jì)數(shù)器(粒度計(jì))
      日本a&d粒子計(jì)數(shù)器(粒度計(jì))sv-1a,是使用點(diǎn)監(jiān)測(cè)的低成本替代設(shè)備,計(jì)數(shù)值高達(dá)2,000,000個(gè)粒子/ft.
      更新時(shí)間:2025-11-06
      美國Filmetrics 薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng)
      美國filmetrics 薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng)f20,f30,f40,f50,f60,f3-xxt 系列,臺(tái)式薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng)
      更新時(shí)間:2025-11-06
      美國 SONIX 超聲波掃描顯微鏡
      美國 sonix 超聲波掃描顯微鏡:echo-vs, echo pro™全自動(dòng)超聲波掃瞄顯微鏡,sonix echo vs™ 是專為更高精度要求,更復(fù)雜元器件設(shè)計(jì)的新一代設(shè)備。echo pro™全自動(dòng)超聲波掃瞄顯微鏡,編程自動(dòng)判別缺陷,高產(chǎn)量,無需人員重復(fù)設(shè)置.
      更新時(shí)間:2025-11-06
      德國Bruker傅氏轉(zhuǎn)換紅外光譜儀
      德國bruker傅氏轉(zhuǎn)換紅外光譜儀ftir -利用紅外線光譜經(jīng)傅利葉轉(zhuǎn)換進(jìn)而分析雜質(zhì)濃度的光譜分析儀器。
      更新時(shí)間:2025-11-06
      德國Bruker FT-NIR光譜儀
      德國bruker ft-nir光譜儀tango,mpa,matrix-i.ft-nir光譜儀已經(jīng)在包括制藥,食品,農(nóng)業(yè)和化學(xué)行業(yè)在內(nèi)的所有行業(yè)的質(zhì)量控制應(yīng)用中得到了很好的應(yīng)用。它為耗時(shí)的濕法化學(xué)方法和色譜技術(shù)提供了一種實(shí)用的替代方法。ft-nir無破壞性,不需要樣品制備或危險(xiǎn)化學(xué)品,使其定量和定性分析快速可靠。
      更新時(shí)間:2025-11-06
      德Bruker光學(xué)輪廓儀
      德bruker光學(xué)輪廓儀contorugt-表面量測(cè)系統(tǒng)-供生產(chǎn)qc/qa及研發(fā)研用的非接解觸型光學(xué)輪廓儀
      更新時(shí)間:2025-11-06
      德國Sentech 實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)儀
      sentech ald實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)儀是一種新型的光學(xué)診斷工具,是心靈超高分辨率的單一ald循環(huán)。在不破壞真空的條件下分析薄膜特性(生長(zhǎng)速率,厚度,折射率),在短時(shí)間內(nèi)開發(fā)新工藝、實(shí)時(shí)研究ald循環(huán)中的反應(yīng)機(jī)理是sentech ald實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)儀的主要應(yīng)用。
      更新時(shí)間:2025-11-06
      美國OGP光學(xué)式坐標(biāo)測(cè)量?jī)x
      美國ogp光學(xué)式坐標(biāo)測(cè)量?jī)x zip 250 ,5:1 accucentric 電動(dòng)變焦透鏡,在每次放大變倍時(shí)自動(dòng)校準(zhǔn),可選配接觸式探頭、激光和微型探針。
      更新時(shí)間:2025-11-06
      接觸角測(cè)定儀
      jy—pha接觸角測(cè)定儀,用于液體對(duì)固體的浸潤(rùn)性,通過測(cè)量液體對(duì)固體的接觸角、計(jì)算、測(cè)定液體對(duì)固體的附著力,張力及固體表面能等指標(biāo)。
      更新時(shí)間:2025-11-06
      接觸角測(cè)量?jī)x
      100標(biāo)準(zhǔn)型接觸角測(cè)量?jī)x,采用高性能日本原裝進(jìn)口工業(yè)機(jī)芯,工業(yè)級(jí)連續(xù)變倍顯微鏡,確保圖像的真實(shí)性,獲取最佳的成像效果。
      更新時(shí)間:2025-11-06
      美Associated 耐壓測(cè)試儀​
      美associated 耐壓測(cè)試儀​hypotmax 7710 ,是一款12 kvdc hipot測(cè)試儀,用于為電纜、電線、線束和電氣元件測(cè)試提供高直流輸出電壓。該產(chǎn)品非常易于使用,并為安全有效的測(cè)試提供了各種特性。它有專利smartgfi®操作,它還包括電荷lo®和斜坡嗨®系統(tǒng)。最后,該系統(tǒng)具有遠(yuǎn)程安全聯(lián)鎖和數(shù)控電弧檢測(cè)系統(tǒng)。
      更新時(shí)間:2025-11-06
      美Montana超精細(xì)多功能無液氦低溫光學(xué)恒溫器
      montana 新型超精細(xì)多功能無液氦低溫光學(xué)恒溫器完全擺脫了液氦。完全閉循環(huán)的制冷系統(tǒng)只需要極少量的氦氣即可讓系統(tǒng)達(dá)到極限低溫。系統(tǒng)具有超快降溫、超低震動(dòng)和超高的溫度穩(wěn)定性。全自動(dòng)化的控制軟件,簡(jiǎn)化了用戶的操作流程。
      更新時(shí)間:2025-11-06
      德國Attocube磁共振顯微鏡/低溫強(qiáng)磁場(chǎng)磁共振顯微鏡
      德國attocube磁共振顯微鏡/低溫強(qiáng)磁場(chǎng)磁共振顯微鏡attocsfm,完美集成了由完全無磁性材料制備的高數(shù)值孔徑(na)共聚焦顯微鏡與原子力顯微鏡來滿足odmr實(shí)驗(yàn)的需求。
      更新時(shí)間:2025-11-06
      美國sinton少子壽命測(cè)試儀
      sinton少子壽命測(cè)試儀wct-120,suns-voc,硅片少子壽命測(cè)試系統(tǒng),采用了獨(dú)特的測(cè)量和分析技術(shù),包括準(zhǔn)穩(wěn)定態(tài)光電導(dǎo)(qsspc)測(cè)量方法。可靈敏地反映單、多晶硅片的重金屬污染及陷阱效應(yīng),表面復(fù)合效應(yīng)等缺陷情況。
      更新時(shí)間:2025-11-06
      德國NETZSCH差示掃描量熱儀
      差示掃描量熱儀dsc 300 ,是全面、可靠的dsc儀器系列,表征材料熱性能游刃有余。
      更新時(shí)間:2025-11-06
      德國NETZSCH 閃射法導(dǎo)熱儀
      lfa 467 hyperflash 閃射法導(dǎo)熱儀,自由選擇測(cè)試氣氛,優(yōu)化結(jié)構(gòu)設(shè)置與閃射光源,16位自動(dòng)進(jìn)樣器,高的測(cè)量效率,寬廣的溫度范圍,靈活配備冷卻系統(tǒng),設(shè)計(jì)獨(dú)特,性能優(yōu)異,配備氙燈光源的,高溫測(cè)試系統(tǒng),寬廣的溫度范圍,真空密閉爐體,確保氣氛純凈,防止氧化,內(nèi)置微型管式爐,更高的測(cè)量效率,高數(shù)據(jù)采集速率- 用于薄膜與高導(dǎo)熱材料的解決方案
      更新時(shí)間:2025-11-06
      OAI UV METER
      oai is a world leader in uv liight & energy measurement instrumentation used for reliable accurate calibrated control of the hotolithography processes in the semiconductor
      更新時(shí)間:2025-11-06
      日本理學(xué)X射線衍射儀
      日本理學(xué)x射線衍射儀 tfxrd-300/200, 適用于near-fab application的無損方式xrd·mapping tool有多種光學(xué)元件可選的高精度測(cè)角儀,用于氮化鎵(gan)質(zhì)量管理,可對(duì)應(yīng)大規(guī)格晶圓的x射線衍射分析(xrd)系統(tǒng)
      更新時(shí)間:2025-11-06
      日本理學(xué)X射線衍射儀
      日本理學(xué)x射線衍射儀 tfxrd-300/200, 適用于near-fab application的無損方式xrd·mapping tool有多種光學(xué)元件可選的高精度測(cè)角儀,用于氮化鎵(gan)質(zhì)量管理,可對(duì)應(yīng)大規(guī)格晶圓的x射線衍射分析(xrd)系統(tǒng)
      更新時(shí)間:2025-11-06
      德國ThetaMetrisis  FR-Mini 膜厚測(cè)量?jī)x
      fr-mini 是一款緊湊型裝置,專為大學(xué)教育和研究實(shí)驗(yàn)室設(shè)計(jì),用于快速、準(zhǔn)確和無損地表征各種不同的涂層。使用 fr-mini,用戶還可以在較寬的光譜范圍內(nèi)輕松進(jìn)行反射率和/或透射率測(cè)量。
      更新時(shí)間:2025-11-06
      德國ThetaMetrisis  FR-Pro  膜厚測(cè)量?jī)x
      fr-pro 膜厚測(cè)量?jī)x 用于表征1nm-3mm厚度范圍內(nèi)的 涂層的模塊化和可擴(kuò)展平臺(tái)。
      更新時(shí)間:2025-11-06
      德國TheMetrisis FR-Scanner自動(dòng)化超高速薄膜厚度測(cè)繪
      fr-scanner 是一款緊湊的臺(tái)式測(cè)量工具,全自動(dòng)測(cè)繪涂層的厚度,基底適用于晶圓,掩膜版及其它材料。fr-scanner 可以快速和準(zhǔn)確地測(cè)量薄膜特性,比如厚度,折射系數(shù),均勻性,色度等,真空吸盤可應(yīng)用于任何直徑或其它形狀的樣品。
      更新時(shí)間:2025-11-06
      關(guān)節(jié)測(cè)量臂 Quantum Max FaroArm
      關(guān)節(jié)測(cè)量臂 quantum max faroarm專為探測(cè)或掃描而設(shè)計(jì),比笨重的固定式 cmm 具有更強(qiáng)適應(yīng)性。
      更新時(shí)間:2025-11-06
      計(jì)量級(jí)手持三維掃描儀FreeScan Combo
      計(jì)量級(jí)手持三維掃描儀freescan combo,配備三種掃描模式:高速/精細(xì) /深孔掃描模式,小巧輕便—— 193mm×63mm×53mm、僅重 620g。
      更新時(shí)間:2025-11-06
      無線手持三維掃描儀FreeScan Omni
      無線手持三維掃描儀freescan omni采用第三代無線掃描技術(shù),一臺(tái)設(shè)備即可完成三維掃 描工作,便攜高效,掃描速度高達(dá)835萬點(diǎn)/秒,提升3d測(cè)量工作效率。
      更新時(shí)間:2025-11-06
      線纜厚度分析測(cè)量投影儀,最新電纜外被測(cè)量投影儀價(jià)格,最實(shí)惠機(jī)械測(cè)量投影儀
      線纜厚度分析測(cè)量投影儀,最新電纜外被測(cè)量投影儀價(jià)格,最實(shí)惠機(jī)械測(cè)量投影儀是一種光、機(jī)、電一體化的精密高效光學(xué)計(jì)量?jī)x器。測(cè)量投影儀被廣泛應(yīng)用于機(jī)械、儀表、鐘表、電子、電纜、橡膠、彈簧五金、建材、輕工等各行各業(yè)以及院校、研究所、計(jì)量檢定部門的計(jì)量室、試驗(yàn)室和生產(chǎn)車間。測(cè)量投影儀高效率地檢測(cè)各種形狀復(fù)雜工件的輪廓尺寸和表面形狀。
      更新時(shí)間:2025-11-06
      機(jī)械式輪廓測(cè)量投影儀參數(shù),線纜絕緣厚度測(cè)量投影儀價(jià)格,電纜外被測(cè)量投影儀市場(chǎng)價(jià)格
      機(jī)械式輪廓測(cè)量投影儀參數(shù),線纜絕緣厚度測(cè)量投影儀價(jià)格,電纜外被測(cè)量投影儀市場(chǎng)價(jià)格是一種光、機(jī)、電一體化的精密高效光學(xué)計(jì)量?jī)x器。測(cè)量投影儀被廣泛應(yīng)用于機(jī)械、儀表、鐘表、電子、電纜、橡膠、彈簧五金、建材、輕工等各行各業(yè)以及院校、研究所、計(jì)量檢定部門的計(jì)量室、試驗(yàn)室和生產(chǎn)車間。測(cè)量投影儀高效率地檢測(cè)各種形狀復(fù)雜工件的輪廓尺寸和表面形狀。
      更新時(shí)間:2025-11-06
      安徽電纜測(cè)量投影儀,江蘇輪廓測(cè)量投影儀,工業(yè)測(cè)量投影儀
      工業(yè)測(cè)量投影儀是一種光、機(jī)、電一體化的精密高效光學(xué)計(jì)量?jī)x器。測(cè)量投影儀被廣泛應(yīng)用于機(jī)械、儀表、鐘表、電子、電纜、橡膠、彈簧五金、建材、輕工等各行各業(yè)以及院校、研究所、計(jì)量檢定部門的計(jì)量室、試驗(yàn)室和生產(chǎn)車間。測(cè)量投影儀高效率地檢測(cè)各種形狀復(fù)雜工件的輪廓尺寸和表面形狀。
      更新時(shí)間:2025-11-06
      低倍測(cè)量投影儀,線纜光學(xué)投影儀,數(shù)字式電纜測(cè)量投影儀
      低倍測(cè)量投影儀,線纜光學(xué)投影儀,數(shù)字式電纜測(cè)量投影儀被測(cè)工件y置于工作臺(tái)上,在透射反射照明下,它由物鏡0成放大實(shí)像y′(倒像)并經(jīng)光鏡m1與m2反射于投影屏p的磨沙面上。
      更新時(shí)間:2025-11-06
      輪廓測(cè)量投影儀參數(shù),哪里有測(cè)量線纜絕緣層投影儀,優(yōu)惠的測(cè)量投影儀
      輪廓測(cè)量投影儀參數(shù),哪里有測(cè)量線纜絕緣層投影儀,優(yōu)惠的測(cè)量投影儀是一種光、機(jī)、電一體化的精密高效光學(xué)計(jì)量?jī)x器。測(cè)量投影儀被廣泛應(yīng)用于機(jī)械、儀表、鐘表、電子、電纜、橡膠、彈簧五金、建材、輕工等各行各業(yè)以及院校、研究所、計(jì)量檢定部門的計(jì)量室、試驗(yàn)室和生產(chǎn)車間。測(cè)量投影儀高效率地檢測(cè)各種形狀復(fù)雜工件的輪廓尺寸和表面形狀。
      更新時(shí)間:2025-11-06
      輪廓測(cè)量投影儀批發(fā),電線電纜廠用投影儀,低價(jià)電纜外被測(cè)量投影儀
      輪廓測(cè)量投影儀批發(fā),電線電纜廠用投影儀,低價(jià)電纜外被測(cè)量投影儀是一種光、機(jī)、電一體化的精密高效光學(xué)計(jì)量?jī)x器。測(cè)量投影儀被廣泛應(yīng)用于機(jī)械、儀表、鐘表、電子、電纜、橡膠、彈簧五金、建材、輕工等各行各業(yè)以及院校、研究所、計(jì)量檢定部門的計(jì)量室、試驗(yàn)室和生產(chǎn)車間。測(cè)量投影儀高效率地檢測(cè)各種形狀復(fù)雜工件的輪廓尺寸和表面形狀。
      更新時(shí)間:2025-11-06
      線纜截面測(cè)試投影儀,線纜絕緣護(hù)套測(cè)試儀,線纜檢測(cè)投影儀
      數(shù)碼管顯示處理器介紹1)點(diǎn)、線、圓、角度、距離、矩形和螺紋等圖形元素的測(cè)量、預(yù)置和構(gòu)造2)座標(biāo)擺正和座標(biāo)平移,方便擺正工件,減少調(diào)整時(shí)間3)三軸的顯示值4)rs232輸出功能(可打印)5)多種座標(biāo)顯示方式,極座標(biāo)和直角座標(biāo)、inc座標(biāo)和abs座標(biāo)公制和英制6)對(duì)光柵尺可進(jìn)行線性補(bǔ)償或區(qū)段線性補(bǔ)償7)z軸可接光柵尺或旋轉(zhuǎn)編碼器
      更新時(shí)間:2025-11-06
      電線電纜測(cè)量投影儀,絕緣護(hù)套測(cè)量?jī)x
      電線電纜測(cè)量投影儀,絕緣護(hù)套測(cè)量?jī)x是一種光、機(jī)、電一體化的精密高效光學(xué)計(jì)量?jī)x器,適用于以二坐標(biāo)測(cè)量為目的的一切應(yīng)用領(lǐng)域,機(jī)械、電子、儀表、塑膠等行業(yè)廣泛使用,符合gb/t2951.1《電纜絕緣和護(hù)套材料通用方法》標(biāo)準(zhǔn)要求。
      更新時(shí)間:2025-11-06
      中空玻璃空氣層厚度測(cè)量?jī)x
      ns500中空玻璃空氣層厚度測(cè)量?jī)x測(cè)試原理是利用光學(xué)反射原理,可在玻璃的單側(cè)表面測(cè)量玻璃厚度,尤其適用于通用測(cè)量工具如刻度尺或卡尺等不能或不易操作的測(cè)量場(chǎng)合,如玻璃瓶壁厚和建筑夾層玻璃(中空玻璃)窗厚度的測(cè)量。對(duì)于空氣夾層玻璃的測(cè)量,還可以同時(shí)獲得兩層玻璃及中間空氣層的厚度。
      更新時(shí)間:2025-11-06
      汽車前檔貼膜透光率測(cè)試儀
      ns530a汽車前檔貼膜透光率測(cè)試儀具有三個(gè)獨(dú)立測(cè)試單元分別為紫外,紅外,和可見光,顯示值為紅外透過率值,紫外透過率值和可見光透過率值。
      更新時(shí)間:2025-11-06
      汽車太陽膜透光率測(cè)試儀高精度防爆膜測(cè)試儀建筑膜檢測(cè)儀器
      ns101汽車太陽膜透光率測(cè)試儀高精度防爆膜測(cè)試儀建筑膜檢測(cè)儀器的測(cè)試原理是采用紫外光源,可見光源和紅外光源照射被測(cè)透明物質(zhì),感應(yīng)器分別探測(cè)三種光源的入射光強(qiáng)和透過被測(cè)透明物質(zhì)后的光強(qiáng),透過光強(qiáng)與入射光強(qiáng)的比值即為透過率,用百分?jǐn)?shù)表示。大多數(shù)的太陽膜,可見光標(biāo)注透過率指標(biāo),紅外線和紫外線標(biāo)注阻隔率指標(biāo),阻隔率=100%-透過率。ns101直接測(cè)量和顯示紫外線的阻隔率,紅外線的阻隔率和可見光透過率,
      更新時(shí)間:2025-11-06
      眼鏡鏡片光學(xué)透過率儀
      ns550a眼鏡鏡片光學(xué)透過率儀的測(cè)試原理是采用紫外光源,紅外光源和可見光源照射被測(cè)透明物質(zhì),感應(yīng)器分別探測(cè)三種光源的入射光強(qiáng)和透過被測(cè)透明物質(zhì)后的光強(qiáng),透過光強(qiáng)與入射光強(qiáng)的比值即為透過率,用百分?jǐn)?shù)表示。
      更新時(shí)間:2025-11-06
      多波段透過率測(cè)試儀
      ns365多波段透過率測(cè)試儀的測(cè)試原理是采用紫外光源,紅外光源和可見光源照射被測(cè)透明物質(zhì),感應(yīng)器分別探測(cè)三種光源的入射光強(qiáng)和透過被測(cè)透明物質(zhì)后的光強(qiáng),透過光強(qiáng)與入射光強(qiáng)的比值即為透過率,用百分?jǐn)?shù)表示
      更新時(shí)間:2025-11-06
      中空玻璃測(cè)厚儀
      ns500中空玻璃測(cè)厚儀專用于測(cè)量單層玻璃,夾層玻璃(中空玻璃)和柱型玻璃管等的厚度。尤其適用于普通刻度尺或卡尺不能或不易操作的測(cè)量場(chǎng)合,如玻璃瓶壁厚和建筑夾層玻璃窗厚度的測(cè)量。對(duì)于中空玻璃厚度的測(cè)量,同時(shí)測(cè)得各層玻璃及中間空氣層的厚度。
      更新時(shí)間:2025-11-06
      臺(tái)式透光率儀
      ns550a臺(tái)式透光率儀 測(cè)試原理是采用紫外光源,紅外光源和可見光源照射被測(cè)透明物質(zhì),感應(yīng)器分別探測(cè)三種光源的入射光強(qiáng)和透過被測(cè)透明物質(zhì)后的光強(qiáng),透過光強(qiáng)與入射光強(qiáng)的比值即為透過率,用百分?jǐn)?shù)表示。
      更新時(shí)間:2025-11-06
      高精度透過率測(cè)試儀
      ns12高精度透過率測(cè)試儀的測(cè)試原理是采用紫外光源,紅外光源和可見光源照射被測(cè)透明物質(zhì),感應(yīng)器分別探測(cè)三種光源的入射光強(qiáng)和透過被測(cè)透明物質(zhì)后的光強(qiáng),透過光強(qiáng)與入射光強(qiáng)的比值即為透過率,用百分?jǐn)?shù)表示。
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