原子力顯微鏡（AFM）產品及廠家
sem 與 afm 是亞納米樣品分析中應用廣泛且互補的兩大技術。將 afm 集成至 sem 中可融合兩者的優勢，實現超高效工作流程，完成傳統 afm 和 sem 難以或無法實現的限性能和復雜樣品分析。
更新時間:2025-11-04
全新發布的 afm-in-phenom xl 結合了掃描電子顯微鏡 (sem) 和原子力顯微鏡 (afm) 的優勢，實現了在同一系統中對樣品進行多模態（sem 及 afm 形貌、元素、機械、電學、磁學）關聯分析。
更新時間:2025-11-04
原子力顯微鏡工作站afm5000ⅱ采用全新的圖標用戶界面，標準配備參數自動設置功能(realtune ii)，即使是剛剛接觸spm的初學者或者遇到全新的樣品時，也能快速獲得準確的測量數據。
更新時間:2025-11-02
全自動型原子力顯微鏡 afm5500m是操作性和測量精度大幅提高，配備4英寸自動馬達臺的全自動型原子力顯微鏡。設備在懸臂更換，激光對中，測試參數設置等環節上提供全自動操作平臺。新開發的高精度掃描器和低噪音3軸感應器使測量精度大幅提高。并且，通過sem-afm共享坐標樣品臺可輕松實現同一視野的相互觀察・分析。
更新時間:2025-11-02
通用型原子力顯微鏡afm5100n除了激光檢測方式之外，全新的自檢測懸臂，在保證高分辨表面形貌觀察的同時大大簡化了afm懸臂操作，是您實驗室的不二之選。
更新時間:2025-11-02
afm5300e是一款環境型原子力顯微鏡，它的環境控制單元可以使樣品在大氣中、真空中、溶液中等環境中進行測量。afm5300e還具有高低溫控制功能，可以檢測溫度對樣品表面形貌和物理特性的影響。
更新時間:2025-11-02
梅特勒-托利多 dsc1+顯微鏡, hp dsc1+顯微鏡 顯微鏡系統，熱分析儀圖像信息與dsc曲線互為補充，可更全面準確地解析樣品在升降溫過程中的轉變。
更新時間:2025-11-02
原子力顯微鏡（atomic force microscopy）是種以物理學原理為基礎，通過掃描探針與樣品表面原子相互作用而成像的新型表面分析儀器。般原子力顯微鏡利用探針對樣品掃描，探針固定在對探針與樣品表面作用力極敏感的微懸臂上。懸臂受力偏折會引起由激光源發出的激光束經懸臂反射后發生位移。檢測器接受反射光，后接受信號經過計算機系統采集、處理、形成樣品表面形貌圖像。
更新時間:2025-11-02
日本ribm hs-afm超高速視頻級原子力顯微鏡，突破了 “掃描成像速慢”的限制，掃描速度最高可達 20 frame/s，并且有 4 種掃描臺可供選擇。樣品無需特殊固定染色，不影響生物分子的活性，尤其適用于生物大分子互作動態觀測。液體環境下直接檢測，超快速動態成像，分辨率為納米水平。
更新時間:2025-10-27
百及納米parcannano 高速原子力顯微鏡afm（快捷型），是公司開發的一款顛覆性的新型afm系統。它使用主動式智能針尖，集傳感器、驅動器和可功能化的針尖于一身，實現自激發和自傳感，無需復雜的激光校準，是取代現有afm激光傳感的巨大改進。該系統可在大氣、液態及真空環境下實現對微納米結構的高速、高效表征，成像精度達到0.2納米的限精度。
更新時間:2025-10-27
imension fastscan? 原子力顯微鏡 (afm)在不損失dimension® icon®超高的分辨率和卓越的儀器性能前提下，zui大限度的提高了成像速度。這項突破性的技術創新，從根本上解決了afm成像速度慢的難題，大大縮短了各技術水平的afm用戶獲得數據的時間。為提高afm使用效率和檢測性能，bruker開發了這套快速掃描系統，不降低分辨率，不增加操作復雜性，不影響儀器使用成本的前提下，幫助用戶實現了利用dimension快速掃描系統，即快速得到高分辨高質量afm圖像的愿望。當您對樣品進行掃描時，無論設置實驗參數為掃描速度 > 125hz，還是在大氣下或者溶液中1秒獲得一張afm圖像，都能得到優異的高分辨圖像。快速掃描這一變革性的技術創新重新定義了afm儀器的操作和功能。
更新時間:2025-10-27
布魯克公司的bioscope resolve?生物原子力顯微鏡與倒置光學顯微鏡聯用，實現了zui高分辨的原子力顯微鏡成像和zui完整的細胞力學性質測量。 bioscope resolve采用了布魯克公司獨有的peakforce tapping技術，使研究者能夠獲得zui高分辨率的生物成像和在每一像素點上皮牛級(pn)的力學測量和力譜分析。該系統對光學圖像和原子力顯微鏡數據的實時整合，使以往不可能獲得的數據成為了可能。包括物理結構，生化相互作用和力學特性在內的多重信息，為生命科學的深入研究提供了獨特的技術平臺。布魯克公司的peakforce tapping技術可以為生物學家帶來以下獨特的功能集成：針對zui軟的生物樣品實現zui高的分辨率成像，zui定量的力學性質成像和zui簡便的操作。
更新時間:2025-10-27
dimension icon 原子力顯微鏡(afm）的性能、功能及附件等方面具有全新表現，在聚合物、半導體、能源、數據存儲及材料領域的納米研究中將會得到廣泛應用。dimension icon是dimension系列產品中的zui新款設備,它基于世界上應用最廣泛的afm平臺，集合了數十年的技術創新、行業內ling先的應用定制及客戶反饋等于一身。這個系統經過從上到下的設計，在易用性、高分辨率及快速成像等方面有突出表現。
更新時間:2025-10-27
spm-9700ht型原子力顯微鏡在基本觀察功能的基礎上融入了更強的測量功能，具備了卓越的信號處理能力，加上最先進的vbdf功能，數字處理能力比同類產品提高40%，可得到更高分辨率、更高質量的觀察圖像。
更新時間:2025-10-27
納米檢測顯微鏡 lext ols4500大大縮短了獲取影像時間的同時保護了探針，并且不用擔心觀測目標的丟失。另外，這種一體的革新設計可以實現對同一對象的多手段原位觀測，從而提高了對觀測結果分析解釋的準確性和可信度！
更新時間:2025-10-27
spm-8100fm型高分辨原子力顯微鏡極大提高了信號的靈敏度，是第一款可以在大氣環境下獲得與真空環境中同樣超高分辨率表面觀察圖像的產品，無論樣品種類（薄膜、晶體、半導體、有機材料），還是不同環境（大氣環境及溶液環境）。
更新時間:2025-10-27
afm5300e是一款環境型原子力顯微鏡，它的環境控制單元可以使樣品在大氣中、真空中、溶液中等環境中進行測量。afm5300e還具有高低溫控制功能，可以檢測溫度對樣品表面形貌和物理特性的影響。
更新時間:2025-10-27
afm5100n除了激光檢測方式之外，全新的「自檢測懸臂」，在保證高分辨表面形貌觀察的同時，大大簡化了afm懸臂操作。
更新時間:2025-10-27
通常的懸臂是非常渺小而且很難操作，內部裝有傳感器的「自檢測懸臂」比普通的afm探針要大得多，容易拿取，安裝非常簡單方便。
更新時間:2025-10-27
afm5300e是一款環境型原子力顯微鏡，它的環境控制單元可以使樣品在大氣中、真空中、溶液中等環境中進行測量。afm5300e還具有高低溫控制功能，可以檢測溫度對樣品表面形貌和物理特性的影響
更新時間:2025-10-27
afm5500m是操作性和測量精度大幅提高，配備4英寸自動馬達臺的全自動型原子力顯微鏡。設備在懸臂更換，激光對中，測試參數設置等環節上提供全自動操作平臺。新開發的高精度掃描器和低噪音3軸感應器使測量精度大幅提高。并且，通過sem-afm共享坐標樣品臺可輕松實現同一視野的相互觀察分析。
更新時間:2025-10-27
日立高新全新的原子力顯微鏡—afm5500m1.配備有4英寸電動樣品臺，樣品臺移動范圍xy±50 mm ,最大樣品尺寸φ100×20mm，最大承重2kg 2.可自動更換探針，并自動調節激光光路3.通過realtuneⅱ可自動調節測試參數4.最新平面掃描器( xy閉環＋z位移傳感器)，最大掃描范圍200μm× 200μm×15μm
更新時間:2025-10-27
2016年，日立高新全新的原子力顯微鏡—afm5500m，此產品精確的測試水準，優異的自動化體驗為人類納米尺度的探索與研究提供了完美的解決方案。
更新時間:2025-10-27
afm 5300e是一款真正的環境可控型原子力顯微鏡，可通過簡單的操作來選擇高真空環境、空氣環境、液體環境、濕度環境、特種氣體環境以及變溫環境等不同環境。在高真空環境下，不僅可以防止樣品表面水膜的形成，提高樣品掃描分辨率和表面物理性能測試測量的準確性；也可以通過q值控制來提高afm的掃描靈敏度，進而提升圖像的分辨率。真空環境還可以避免某些樣品的氧化，也為
更新時間:2025-10-27
afm 5100n 是配備有懸臂梁自感功能的智能型便攜式原子力顯微鏡，它打破了以往只依賴于光杠桿進行懸臂梁位移反饋的傳統檢測方法，其操作簡便，只需將探針安裝好即可進行掃描成像，無需再對光杠桿進行任何調節。同時5100n還配有智能掃描模式，根據樣品起伏狀況自動對掃描參數進行優化設計，測量時只需點擊開始按鈕即可自動完成所有測量工作。
更新時間:2025-10-27
bioscope sz 在非破壞性的光學顯微方法基礎上融入hybrid xyz scanner，能夠提供納米（水平方向）或埃（垂直方向）級的分辨率，與電子顯微鏡（em）相當，比常規光學顯微鏡放大倍率高兩個數量級，而樣品制備、安裝以及光學性能則與常規光學顯微鏡相差無幾；旌闲蛒yz掃描器將z傳感器的噪音水平降低6倍，提供精確的x/y控制用于分子操縱以及高精確度的三軸向閉環控制用于分子"牽引"技術。
更新時間:2025-10-27
· 高分辨率成像和定量的材料性能成像。· 提供多模塊功能的multimode· 發表論文afm· 峰值力模式實現
更新時間:2025-10-27
dimension fastscan 原子力顯微鏡 (afm)在不損失dimension® icon®分辨率的儀器性能前提下，大限度的成像速度。這項技術，解決了afm成像速度慢的難題，大大縮短了各技術水平的afm用戶獲得數據的時間。
更新時間:2025-10-27
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更新時間:2025-10-27
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更新時間:2025-10-27
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更新時間:2025-10-27
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更新時間:2025-10-27
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更新時間:2025-10-27
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更新時間:2025-10-27
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更新時間:2025-10-27
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更新時間:2025-10-27
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更新時間:2025-10-27
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更新時間:2025-10-27
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更新時間:2025-10-27
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更新時間:2025-10-27
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更新時間:2025-10-27
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更新時間:2025-10-27
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更新時間:2025-10-27
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更新時間:2025-10-27
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