掃描電子顯微鏡（SEM）產(chǎn)品及廠家
日本電子掃描電子顯微鏡jcm-700強(qiáng)大的"zeromag"功能，讓您從光學(xué)顯微鏡的觀察方式，輕松的無縫接軌到掃描電鏡的影像觀察。"live analysis"則實(shí)現(xiàn)了sem影像觀察時(shí)實(shí)時(shí)的eds成份分析。
更新時(shí)間:2025-11-04
超聲掃描顯微鏡（sat）是一種利用超聲波為傳播媒介的無損檢測成像設(shè)備，主要利用高頻超聲波，對各類半導(dǎo)體器件、材料進(jìn)行檢測，能夠檢測出樣品內(nèi)部的氣孔、裂紋、夾雜和分層等缺陷，并以圖形的方式直觀展示。在掃描過程中，不會(huì)對樣品造成損傷，不會(huì)影響樣品性能，可有效滿足新能源、半導(dǎo)體、電力電子、熱管理材料、金剛石復(fù)合材料、碳纖維復(fù)合材料等行業(yè)需求。
更新時(shí)間:2025-11-04
日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨(dú)特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進(jìn)行觀察。 tm4000ⅱ優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式，每種模式下電流4檔可調(diào)，并配備4分割背散射探測器，可采集四個(gè)不同方向的圖像信息，對樣品進(jìn)行多種模式成像。具有全新的sem-map導(dǎo)航功能，同時(shí)，電鏡圖片可以報(bào)告形式導(dǎo)出。配備大型樣品倉，可容納大樣品直徑80mm，厚度50mm。
更新時(shí)間:2025-11-03
日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨(dú)特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進(jìn)行觀察。 tm4000ⅱ優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式，每種模式下電流4檔可調(diào)，并配備4分割背散射探測器，可采集四個(gè)不同方向的圖像信息，對樣品進(jìn)行多種模式成像。具有全新的sem-map導(dǎo)航功能，同時(shí)，電鏡圖片可以報(bào)告形式導(dǎo)出。配備大型樣品倉，可容納大樣品直徑80mm，厚度50mm。
更新時(shí)間:2025-11-03
flexsem1000 ii是日立新的落地式小型鎢燈絲掃描電鏡，具有體積小、操作簡單、性能強(qiáng)、擴(kuò)展功能豐富等特點(diǎn)。flexsem1000 ii配備了二次電子探測器和背散射電子探測器，可以觀察樣品的形貌和成分；同時(shí)具有低真空功能，可以直接觀察不導(dǎo)電樣品和含水樣品；配合新增的sem-map光鏡導(dǎo)航和5軸樣品臺(tái)可以快速、高效的完成觀察任務(wù)。
更新時(shí)間:2025-11-03
日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨(dú)特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進(jìn)行觀察。 tm4000ⅱ優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式，每種模式下電流4檔可調(diào)，并配備4分割背散射探測器，可采集四個(gè)不同方向的圖像信息，對樣品進(jìn)行多種模式成像。具有全新的sem-map導(dǎo)航功能，同時(shí)，電鏡圖片可以報(bào)告形式導(dǎo)出。配備大型樣品倉，可容納大樣品直徑80mm，厚度50mm。
更新時(shí)間:2025-11-03
flexsem1000 ii是日立新的落地式小型鎢燈絲掃描電鏡，具有體積小、操作簡單、性能強(qiáng)、擴(kuò)展功能豐富等特點(diǎn)。flexsem1000 ii配備了二次電子探測器和背散射電子探測器，可以觀察樣品的形貌和成分；同時(shí)具有低真空功能，可以直接觀察不導(dǎo)電樣品和含水樣品；配合新增的sem-map光鏡導(dǎo)航和5軸樣品臺(tái)可以快速、高效的完成觀察任務(wù)。
更新時(shí)間:2025-11-03
日立2011年新推出了su9000超高分辨冷場發(fā)射掃描電鏡，達(dá)到掃描電鏡世界最高二次電子分辨率0.4nm和stem分辨率0.34nm。日立su9000采取了全新改進(jìn)的真空系統(tǒng)和電子光學(xué)系統(tǒng)，不僅分辨率性能明顯提升，而且作為一款冷場發(fā)射掃描電鏡甚至不需要傳統(tǒng)意義上的flashing操作，可以高效率的快速獲取樣品超高分辨掃描電鏡圖像。 特點(diǎn)： 1. 新型
更新時(shí)間:2025-11-03
s-3400n掃描電子顯微鏡 s-3400n具有最新開發(fā)的電子光學(xué)系統(tǒng)，強(qiáng)大的自動(dòng)化功能，操作更簡易。 特點(diǎn): 1. s-3400n具有強(qiáng)大的自動(dòng)功能，包括自動(dòng)燈絲飽和、4偏壓、自動(dòng)槍對中、自動(dòng)束流設(shè)定、 自動(dòng)合軸自動(dòng)聚焦和消像散、自動(dòng)亮度對比度等。 2. 在3kv低加速電壓時(shí)
更新時(shí)間:2025-11-03
s-3700n 多功能分析型可變壓掃描電鏡 研究超大，超重，超高樣品的分析型掃描電鏡 ● 最大可載樣品直徑達(dá)300mm ●最大觀察區(qū)域直徑達(dá)203mm ● 在觀察110mm高樣品時(shí)可進(jìn)行能譜分析 ● 樣品室設(shè)置多種接口，可安裝eds、wds、ebsd和cl等多種分析用附件 ● 5軸優(yōu)中心馬達(dá)臺(tái)可以傾
更新時(shí)間:2025-11-03
su3900/su3800 se系列作為fe-sem產(chǎn)品，配置超高分辨率與觀察能力。此系列突破了傳統(tǒng)sem產(chǎn)品受安裝樣品尺寸與重量的限制，通過簡單的操作即可實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)采集。可用于鋼鐵等工業(yè)材料，汽車、航空航天部件等超大、超重樣品的觀察。
更新時(shí)間:2025-11-03
日立高新推出的掃描電鏡su3800/su3900兼具操作性和擴(kuò)展性，結(jié)合眾多的自動(dòng)化功能，可高效發(fā)揮其高性能。su3900標(biāo)配多功能超大樣品倉，可應(yīng)對大型樣品的觀察。
更新時(shí)間:2025-11-02
臺(tái)式掃描電子顯微鏡(sem)全新升。我們以“更高畫質(zhì)、更易于使用、更易于觀察”為理念，開發(fā)出tm4000系列。在此基礎(chǔ)上，我們又推出功能更為多樣的tm4000ⅱ系列。為您提供全新的觀察和分析應(yīng)用。
更新時(shí)間:2025-11-02
寬幅僅為45 cm的緊湊型的設(shè)計(jì)，仍具備4.0 nm的圖像分辨率。全新開發(fā)的用戶界面和電子光學(xué)系統(tǒng)讓您深切體驗(yàn)其高性能。
更新時(shí)間:2025-11-02
zem15臺(tái)式掃描電子顯微鏡采用自主研發(fā)的鎢燈絲電子槍,加速電壓在1-15kv范圍內(nèi)連續(xù)可調(diào),可同時(shí)搭配二次電子探測器,散射電子探測器,zem15臺(tái)式掃描電子顯微鏡秉承操作便捷、快速成像、性能穩(wěn)定的設(shè)計(jì)目標(biāo)，澤攸科技自主研發(fā)了鎢燈絲zem15臺(tái)式掃描電子顯微鏡。zem15臺(tái)式掃描電鏡速度快，信號采集帶寬10m，可以在視頻模式下流暢實(shí)時(shí)的顯示樣品。
更新時(shí)間:2025-11-02
zem18臺(tái)式掃描電鏡信號采集帶寬高達(dá)10m，掃描速度快，視頻模式下實(shí)時(shí)觀察樣品，無重影、拖影，不錯(cuò)過每一個(gè)細(xì)節(jié)。兼容澤攸科技多種原位功能樣品臺(tái)（拉伸臺(tái)、加熱臺(tái)、tec冷臺(tái)等原位測試系統(tǒng)）
更新時(shí)間:2025-11-02
zem20臺(tái)式掃描電微鏡操作簡便，僅需鼠標(biāo)即可完成所有操作，一體式聚光鏡，無需手動(dòng)調(diào)節(jié)光闌。信號采集帶寬高達(dá)10m，掃描速度快，視頻模式下實(shí)時(shí)觀察樣品。豐富的原位拓展功能，可兼容自研原位電鏡附件（拉伸樣品臺(tái)、加熱臺(tái)、tec冷臺(tái)等）。
更新時(shí)間:2025-11-02
zem15原位拉伸-掃描電鏡 采用自主研發(fā)的鎢燈絲電子槍，加速電壓在1-15kv范圍內(nèi)連續(xù)可調(diào)，搭配二次電子探測器、背散射電子探測器、1000n原位拉伸樣品臺(tái)，實(shí)現(xiàn)掃描電鏡內(nèi)的原位拉伸/壓縮/彎曲實(shí)驗(yàn)。
更新時(shí)間:2025-11-02
蔡司 evo系列掃描電子顯微鏡evo系列將高性能的掃描電鏡和直觀的、友好的用戶界面體驗(yàn)結(jié)合在一起， 同時(shí)能夠吸引經(jīng)驗(yàn)豐富的用戶以及新用戶。無論是在生命科學(xué)， 材料科學(xué)， 或例行的工業(yè)質(zhì)量保證和失效分析域，憑借廣泛的可選配置， evo 都可以根據(jù)您的要求量身定制。
更新時(shí)間:2025-11-02
蔡司 sigma系列場發(fā)射掃描電子顯微鏡：用于高品質(zhì)成像與高分析的場發(fā)射掃描電子顯微鏡將高的分析性能與場發(fā)射掃描技術(shù)相結(jié)合，利用成熟的 gemini 電子光學(xué)元件。多種探測器可選：用于顆粒、表面或者納米結(jié)構(gòu)成像。sigma 半自動(dòng)的4步工作流程節(jié)省大量的時(shí)間：設(shè)置成像與分析步驟，提高效率。sigma 300 性價(jià)比高。s
更新時(shí)間:2025-11-02
picofemto透射電鏡原位mems加熱/電學(xué)測量系統(tǒng)，透射電子顯微鏡是提供在較高時(shí)間分辨率下得到原子空間分辨率的實(shí)驗(yàn)手段。
更新時(shí)間:2025-11-02
sigma 300 性價(jià)比高。sigma 500 裝配有一流的背散射幾何探測器，可快速方便地實(shí)現(xiàn)基礎(chǔ)分析。任何時(shí)間，任何樣品均可獲得精準(zhǔn)可重復(fù)的分析結(jié)果。
更新時(shí)間:2025-11-02
sigma 300 性價(jià)比高。sigma 500 裝配有一流的背散射幾何探測器，可快速方便地實(shí)現(xiàn)基礎(chǔ)分析。任何時(shí)間，任何樣品均可獲得精準(zhǔn)可重復(fù)的分析結(jié)果。
更新時(shí)間:2025-11-02
evo系列電鏡是高性能、功能強(qiáng)大的高分辨應(yīng)用型掃描電子顯微鏡。該系列電鏡采用多接口的大樣品室和藝術(shù)的物鏡設(shè)計(jì)，提供高低真空成像功能，可對各種材料表面作分析，并且具有業(yè)界先的x射線分析技術(shù)。
更新時(shí)間:2025-11-02
蔡司電腦斷層掃描測量機(jī)-多探頭測量機(jī)設(shè)備;工業(yè)計(jì)算機(jī)斷層掃描（ct）為您提供了quanxin的洞見，讓您可以快速采集所有內(nèi)部結(jié)構(gòu)的體積。蔡司是快速ct的先驅(qū)，并且能夠在生產(chǎn)周期中對組件進(jìn)行完整的以體積為基礎(chǔ)的檢查。
更新時(shí)間:2025-10-28
德neaspec真空太赫茲波段近場光學(xué)顯微鏡hv-thz-neasnom，該套系統(tǒng)成功地繼承了德國neaspec公司thz-neasnom的設(shè)計(jì)優(yōu)勢，采用專利保護(hù)的雙光路設(shè)計(jì)，完全可以實(shí)現(xiàn)真空環(huán)境下太赫茲波段應(yīng)用的樣品測量。hv-thz-neasnom在實(shí)現(xiàn)30nm高空間分辨率的同時(shí)，由于采用0.1-3thz波段的時(shí)域太赫茲光源（thz-tds），也可以實(shí)現(xiàn)近場太赫茲成像和圖譜的同時(shí)測量。
更新時(shí)間:2025-10-27
德國ksi i-wafer型全自動(dòng)晶圓超聲波缺陷檢測系統(tǒng)，在ksi i-wafer的探測下，晶圓中的孔隙、分層或者雜質(zhì)都能被發(fā)現(xiàn)。尺寸在450mm的多種晶圓也能進(jìn)行檢測
更新時(shí)間:2025-10-27
ksi i-ingot型全自動(dòng)晶錠分析檢測系統(tǒng),適用于對晶錠的無損檢測，有了它，晶錠內(nèi)部的裂縫或雜質(zhì)就能得到快速檢測，晶錠的尺寸可達(dá)450mm，檢測時(shí)間短，也不需要做其它設(shè)定。
更新時(shí)間:2025-10-27
ksi－nano型高分辨率表層缺陷超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)聲學(xué)顯微成像系統(tǒng)和光學(xué)顯微成像系統(tǒng)的完美結(jié)合
更新時(shí)間:2025-10-27
德國zeiss蔡司聚焦離子束掃描電鏡fib/sem crossbeam 350，crossbeam 550
更新時(shí)間:2025-10-27
日本jeol掃描電子顯微鏡 jsm-it200 intouchscope ，是一款更簡潔、更易于使用且性價(jià)比高的掃描電子顯微鏡。使用初學(xué)者易懂的樣品交換導(dǎo)航，可以輕松地從樣品臺(tái)搜索視野并開始觀察sem圖像。zeromag能像光鏡一樣直觀地搜索視野，live analysis*2可以不用特意分析就能實(shí)時(shí)獲取元素分析結(jié)果，smile viewtm lab能綜合編輯觀察和分析報(bào)告等。
更新時(shí)間:2025-10-27
日本jeol掃描電子顯微鏡 jsm-it500hr，采用新開發(fā)的高亮度電子槍和透鏡系統(tǒng)，可以更迅速便捷地提供令人驚嘆的高分辨率圖像、高靈敏度和高空間分辨率；從設(shè)定視野到生成報(bào)告，利用完全集成的軟件大大地提高了作業(yè)速度。
更新時(shí)間:2025-10-27
日本jeol低溫冷凍離子切片儀ib-09060cis，冷卻保持時(shí)間長，有效地抑制了熱損傷。易受熱損傷的樣品，也能方便地制作出薄膜樣品和截面樣品。
更新時(shí)間:2025-10-27
日本jeol 離子切片儀 em-09100is ，用于tem 、stem 、 sem 、 epma 和 auger樣品制備的創(chuàng)新方法 離子切片儀制備薄膜樣品比傳統(tǒng)制備工具快速、簡單。低能量、低角度（0°到6°）的氬離子束通過遮光帶照射樣品，大大降低了離子束對樣品的輻照損壞。即使是柔軟的材料,制備的薄膜質(zhì)量也好，對不同成份的樣品甚至含有多孔合成物也都能夠有效制備。
更新時(shí)間:2025-10-27
日本jeol截面樣品拋光儀ib-19530cp，采用多用途樣品臺(tái)，通過交換各種功能性樣品座實(shí)現(xiàn)了功能的多樣化。根據(jù)需要可以選擇不同的功能性樣品座，不僅能截面刻蝕，還可以進(jìn)行平面刻蝕、離子束濺射鍍膜等。
更新時(shí)間:2025-10-27
日本jeol截面樣品制備裝置ib-19530cp，采用多用途樣品臺(tái)，通過交換各種功能性樣品座實(shí)現(xiàn)了功能的多樣化。根據(jù)需要可以選擇不同的功能性樣品座，不僅能截面刻蝕，還可以進(jìn)行平面刻蝕、離子束濺射鍍膜等。
更新時(shí)間:2025-10-27
日本jeol 截面樣品拋光儀 ib-19520ccp，在加工過程中利用液氮冷卻，能減輕離子束對樣品造成的熱損傷。冷卻持續(xù)時(shí)間長、液氮消耗少的構(gòu)造設(shè)計(jì)。在裝有液氮的情況下，也能將樣品快速冷卻、恢復(fù)到室溫，并且可以拆卸。配有傳送機(jī)構(gòu)，在隔離空氣的環(huán)境下能完成從加工到觀察的全過程。
更新時(shí)間:2025-10-27
日本jeol 軟x射線分析譜儀，通過組合新開發(fā)的衍射光柵和高靈敏度ｘ射線ccd相機(jī)，實(shí)現(xiàn)了高的能量分辨率。 和eds一樣可以并行檢測，并且能以0.3ev(費(fèi)米邊處al-l基準(zhǔn))的高能量分辨率進(jìn)行分析，超過了wds的能量分辨率。
更新時(shí)間:2025-10-27
日本jeol 電子探針顯微分析儀 jxa-ihp100，可以安裝通用性強(qiáng)、使用方便的能譜儀x射線探測器，組合使用wds和eds，能提供無縫、舒適的分析環(huán)境。
更新時(shí)間:2025-10-27
日本jeol 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng) jib-4000，配置了高性能的離子鏡筒(單束fib裝置)。被加速了的鎵離子束經(jīng)聚焦照射樣品后，就能對樣品表面進(jìn)行sim觀察 、研磨，沉積碳和鎢等材料。還可以為tem成像制備薄膜樣品，為觀察樣品內(nèi)部制備截面樣品。通過與sem像比較，sim像能清楚地顯示出歸因于晶體取向不同的電子通道襯度差異，這些都非常適合于評估多層鍍膜的截面及金屬結(jié)構(gòu)。
更新時(shí)間:2025-10-27
日本jeol 雙束加工觀察系統(tǒng) jib-4700f，該設(shè)備的sem鏡筒中采用了超級混合圓錐形物鏡、gb模式和in-lens檢測器系統(tǒng)，在1kv低加速電壓下,實(shí)現(xiàn)了1.6nm的保證分辨率,與最大能獲得300na探針電流的浸沒式肖特基電子槍組合，可以進(jìn)行高分辨率觀察和高速分析。
更新時(shí)間:2025-10-27
日本jeol 能量色散型x射線熒光分析儀 jsx-1000s，采用觸控屏操作、提供更加簡便迅速的元素分析。具備常規(guī)定性、定量分析（fp法・檢量線法）、rohs元素篩選功能等。利用豐富的硬件/軟件選配件、還能進(jìn)行更廣泛的分析。
更新時(shí)間:2025-10-27
jsm-it800shl 是日本電子株式會(huì)社（jeol） 2020 年新推出的場發(fā)射掃描電鏡，它秉承 jeol 熱場發(fā)射掃描電鏡 jsm-7900f 的大束流，高穩(wěn)定性的傳統(tǒng)，同時(shí)將分辨率提高到新的限，全新設(shè)計(jì)的超混合型物鏡，高分辨率的獲得以及磁性樣品的觀察都可以同時(shí)完成，而且標(biāo)配 jeol 新開發(fā)的 neo
更新時(shí)間:2025-10-27
fei nova nano sem 場發(fā)射掃描電子顯微鏡該產(chǎn)品是世界上*款可以對有機(jī)材料、基板、多孔材料、塑料以及高聚物材料等有電荷積累的樣品和/或污染性樣品進(jìn)行超高分辨表征的低真空場發(fā)射掃描電子顯微
更新時(shí)間:2025-10-27
fei inspect系列 掃描電子顯微鏡滿足傳統(tǒng)高分辨率樣品研究所需的一切，簡單易用的 inspecttm 專為滿足研究各類材料以及表征材料結(jié)構(gòu)和成分的主流需求而設(shè)計(jì)，配備高穩(wěn)定分辨率平臺(tái)，可滿足大
更新時(shí)間:2025-10-27
日本電子jsm-7001f具有大型、5軸、全對中馬達(dá)驅(qū)動(dòng)自動(dòng)化樣品臺(tái),還有單動(dòng)作樣品更換氣鎖、它的小束口壓直徑，即使在大電流和低電壓時(shí)，也具有適用于eds、wds、ebsp和cl的理想結(jié)構(gòu)的擴(kuò)充性。樣品室可處理直徑最大為200mm的樣品。
更新時(shí)間:2025-10-27
最新產(chǎn)品
- COM-8(PCI)HH 科技創(chuàng)新工業(yè)技術(shù)發(fā)展(每日/資訊） 2025/11/5 10:29:18
- COM-8(PCI)H NO:7191D 科技創(chuàng)新工業(yè)技術(shù)發(fā)展(每日/資訊） 2025/11/5 10:28:31
- 血糖測試儀OGM-501 2025/11/5 10:28:28
- COM-8(PCI)H No.7191C 科技創(chuàng)新工業(yè)技術(shù)發(fā)展(每日/資訊） 2025/11/5 10:27:58
- ZRS-8G智能溶出試驗(yàn)儀 固體制劑溶劑溶出程度測定儀 2025/11/5 10:27:35
- COM-8 (PCI) H No.7191C 科技創(chuàng)新工業(yè)技術(shù)發(fā)展(每日/資訊） 2025/11/5 10:27:21
- 低功耗氣體探測器@產(chǎn)品優(yōu)勢 2025/11/5 10:26:53
- 異味投訴核查便攜式惡臭監(jiān)測儀 污水廠排污檢查輕便型惡臭檢測設(shè)備 2025/11/5 10:26:53
- 紅外熱輻射治療儀XY-K-GNHW-I 2025/11/5 10:26:49
- 醫(yī)用血管造影X射線系統(tǒng)平臺(tái) 2025/11/5 10:26:32
- COM-4P (PCI)H 科技創(chuàng)新工業(yè)技術(shù)發(fā)展(每日/資訊） 2025/11/5 10:26:30
- 肌肉振動(dòng)治療儀ZQ-DMS-A 2025/11/5 10:25:12
- 半自動(dòng)凝血分析儀 2025/11/5 10:25:06
- 施樂百ZIEHL-ABEGG離心風(fēng)機(jī) RH45M-4DK.4I.1R 變頻器用散熱風(fēng)扇 2025/11/5 10:24:50
- COM-4P (PCI) 科技創(chuàng)新工業(yè)技術(shù)發(fā)展(每日/資訊） 2025/11/5 10:24:30
- 全自動(dòng)凝血分析儀代理 2025/11/5 10:23:50
- 便攜式吸痰器SA100 2025/11/5 10:23:31
- COM-4M(PC), NO.9576B 科技創(chuàng)新工業(yè)技術(shù)發(fā)展(每日/資訊） 2025/11/5 10:23:24
- COM-4M(PC) PCB NO.9576C 科技創(chuàng)新工業(yè)技術(shù)發(fā)展(每日/資訊） 2025/11/5 10:22:45
- 工業(yè)液壓好搭檔！希而科進(jìn)口賀德克hydac過濾器、液壓閥、測量儀器，適配生產(chǎn)需求 2025/11/5 10:22:31
- 半自動(dòng)凝血分析儀供應(yīng)商聯(lián)系方式 2025/11/5 10:22:30
- COM-4M(PC) NO.9576C 科技創(chuàng)新工業(yè)技術(shù)發(fā)展(每日/資訊） 2025/11/5 10:22:13
- 大學(xué)科研便攜式空氣監(jiān)測儀 港口物流園區(qū)檢查便攜式大氣環(huán)境監(jiān)測儀 2025/11/5 10:21:05
- COM-4C-PE 科技創(chuàng)新工業(yè)技術(shù)發(fā)展(每日/資訊） 2025/11/5 10:20:51
- 穿孔水密性試驗(yàn)儀@檢測項(xiàng)目 2025/11/5 10:25:37
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