比表面及孔徑分布分析儀產品及廠家
貝士德3h-2000ps型藥物比表面及孔徑分析儀，具有2/4個樣品預處理脫氣站，1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1%。測試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時間:2025-11-05
貝士德3h-2000ps型藥物比表面及孔徑分析儀，具有2/4個樣品預處理脫氣站，1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1%。測試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時間:2025-11-05
貝士德3h-2000ps型比表面及孔徑分析儀，具有2/4個樣品預處理脫氣站，1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1%。測試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時間:2025-11-05
貝士德3h-2000ps型比表面及孔徑分析儀，具有2/4個樣品預處理脫氣站，1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1%。測試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時間:2025-11-05
3h-2000td系列發泡塑料孔隙率測定儀由計算機控制全自動運行的氣體膨脹真密度分析系統，具有多項技術專利，獨創的測試方式，使其應用領域較同類儀器更廣，能準確測定粉體、塊狀固體、漿狀物質、泡沫等多種材料的真密度和孔隙率，適用于廣大研究機構和企事業單位。
更新時間:2025-11-05
3h-2000td系列食用面包孔隙率測定儀由計算機控制全自動運行的氣體膨脹真密度分析系統，具有多項技術專利，獨創的測試方式，使其應用領域較同類儀器更廣，能準確測定粉體、塊狀固體、漿狀物質、泡沫等多種材料的真密度和孔隙率，適用于廣大研究機構和企事業單位。
更新時間:2025-11-05
貝士德3h-2000ps型多孔金屬顆粒比表面積分析儀，具有2/4個樣品預處理脫氣站，1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1%。測試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時間:2025-11-05
貝士德3h-2000ps型多孔陶瓷比表面及孔徑分析儀，具有2/4個樣品預處理脫氣站，1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1%。測試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
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貝士德3h-2000ps型多孔水泥建材比表面及孔徑分析儀，具有2/4個樣品預處理脫氣站，1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1%。測試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
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貝士德3h-2000ps型硅微粉比表面及孔徑分析儀，具有2/4個樣品預處理脫氣站，1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1%。測試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
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貝士德3h-2000ps型硅藻泥材料比表面及孔徑分析儀，具有2/4個樣品預處理脫氣站，1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1%。測試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
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貝士德3h-2000ps型二氧化硅粉末比表面積分析儀，具有2/4個樣品預處理脫氣站，1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1%。測試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
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3h-2000pm2比表面積及孔徑分析儀屬于研究級儀器，可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數據，尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準確測試結果，適用于對研發、實驗要求極高的科研單位和企業用戶。
更新時間:2025-11-05
3h-2000pm2比表面積及孔徑分析儀屬于研究級儀器，可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數據，尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準確測試結果，適用于對研發、實驗要求極高的科研單位和企業用戶。
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3h-2000pm1硅基氣凝膠比表面積及孔徑分析儀屬于研究級儀器，可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數據，尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準確測試結果，可升級為雙站微孔測試功能，適用于對研發、實驗要求極高的科研單位和企業用戶。
更新時間:2025-11-05
3h-2000pm1硫基氣凝膠比表面積及孔徑分析儀屬于研究級儀器，可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數據，尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準確測試結果，可升級為雙站微孔測試功能，適用于對研發、實驗要求極高的科研單位和企業用戶。
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3h-2000pm1多孔碳材料比表面積及孔徑分析儀屬于研究級儀器，可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數據，尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準確測試結果，可升級為雙站微孔測試功能，適用于對研發、實驗要求極高的科研單位和企業用戶。
更新時間:2025-11-05
3h-2000pm1α-氧化鋁比表面積及孔徑分析儀屬于研究級儀器，可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數據，尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準確測試結果，可升級為雙站微孔測試功能，適用于對研發、實驗要求極高的科研單位和企業用戶。
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3h-2000pm1催化劑顆粒比表面積及孔徑分析儀屬于研究級儀器，可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數據，尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準確測試結果，可升級為雙站微孔測試功能，適用于對研發、實驗要求極高的科研單位和企業用戶。
更新時間:2025-11-05
3h-2000pb pe電池隔膜孔徑分析儀，其基本原理為氣液排驅技術（泡壓法）：給膜兩側施加壓力差，克服膜孔道內的浸潤液的表面張力，驅動浸潤液通過孔道，依此獲得膜類材料的通孔孔喉的孔徑數據 ，同時該方法也是astm薄膜測定的標準方法。
更新時間:2025-11-05
貝士德3h-2000ps型比表面及孔徑分析儀，具有2/4個樣品預處理脫氣站，1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1%。測試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
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貝士德3h-2000ps型比表面及孔徑分析儀，具有2/4個樣品預處理脫氣站，1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1%。測試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
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貝士德3h-2000ps型比表面及孔徑分析儀，具有2/4個樣品預處理脫氣站，1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1%。測試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
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貝士德3h-2000ps型比表面及孔徑分析儀，具有2/4個樣品預處理脫氣站，1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1%。測試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
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貝士德3h-2000ps型比表面及孔徑分析儀，具有2/4個樣品預處理脫氣站，1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1%。測試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時間:2025-11-05
貝士德3h-2000ps型比表面及孔徑分析儀，具有2/4個樣品預處理脫氣站，1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1%。測試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時間:2025-11-05
貝士德3h-2000ps型比表面積分析儀，具有2/4個樣品預處理脫氣站，1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1%。測試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時間:2025-11-05
貝士德3h-2000ps型比表面積及孔徑分析儀，具有2/4個樣品預處理脫氣站，1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1%。測試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時間:2025-11-05
貝士德3h-2000ps型比表面積及孔徑分析儀，具有2/4個樣品預處理脫氣站，1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1%。測試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時間:2025-11-05
貝士德3h-2000ps型比表面積及孔徑分析儀，具有2/4個樣品預處理脫氣站，1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1%。測試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時間:2025-11-05
貝士德3h-2000ps型比表面積及孔徑分析儀，具有2/4個樣品預處理脫氣站，1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1%。測試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時間:2025-11-05
貝士德3h-2000ps型bet分析儀，具有2/4個樣品預處理脫氣站，1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1%。測試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時間:2025-11-05
貝士德3h-2000ps型bet分析儀，具有2/4個樣品預處理脫氣站，1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1%。測試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時間:2025-11-05
貝士德3h-2000ps型bet分析儀，具有2/4個樣品預處理脫氣站，1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1%。測試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時間:2025-11-05
貝士德3h-2000ps型bet分析儀，具有2/4個樣品預處理脫氣站，1/2/4個樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1%。測試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時間:2025-11-05
3h-2000pm1高性能比表面及孔徑分析儀屬于研究級儀器，可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數據，尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準確測試結果，可升級為雙站微孔測試功能，適用于對研發、實驗要求極高的科研單位和企業用戶。集裝閥門和管路設計，模塊化組裝，保證儀器高真空度和高密封性，是高性能和高穩定性的典型。
更新時間:2025-11-05
3h-2000pm1高性能比表面分析儀屬于研究級儀器，可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數據，尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準確測試結果，可升級為雙站微孔測試功能，適用于對研發、實驗要求極高的科研單位和企業用戶。集裝閥門和管路設計，模塊化組裝，保證儀器高真空度和高密封性，是高性能和高穩定性的典型。
更新時間:2025-11-05
3h-2000pm2高性能比表面及孔徑分析儀屬于研究級儀器，可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數據，尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準確測試結果，可升級為雙站微孔測試功能，適用于對研發、實驗要求極高的科研單位和企業用戶。集裝閥門和管路設計，模塊化組裝，保證儀器高真空度和高密封性，是高性能和高穩定性的典型產品。
更新時間:2025-11-05
3h-2000pm2高性能比表面及孔徑分析儀屬于研究級儀器，可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數據，尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準確測試結果，可升級為雙站微孔測試功能，適用于對研發、實驗要求極高的科研單位和企業用戶。集裝閥門和管路設計，模塊化組裝，保證儀器高真空度和高密封性，是高性能和高穩定性的典型產品。
更新時間:2025-11-05
3h-2000pm2高性能比表面及孔徑分析儀屬于研究級儀器，可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數據，尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準確測試結果，可升級為雙站微孔測試功能，適用于對研發、實驗要求極高的科研單位和企業用戶。集裝閥門和管路設計，模塊化組裝，保證儀器高真空度和高密封性，是高性能和高穩定性的典型產品。
更新時間:2025-11-05
3h-2000pm2高性能比表面及孔徑分析儀屬于研究級儀器，可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數據，尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準確測試結果，可升級為雙站微孔測試功能，適用于對研發、實驗要求極高的科研單位和企業用戶。集裝閥門和管路設計，模塊化組裝，保證儀器高真空度和高密封性，是高性能和高穩定性的典型產品。
更新時間:2025-11-05
3h-2000pm2高性能比表面及孔徑分析儀屬于研究級儀器，可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數據，尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準確測試結果，可升級為雙站微孔測試功能，適用于對研發、實驗要求極高的科研單位和企業用戶。集裝閥門和管路設計，模塊化組裝，保證儀器高真空度和高密封性，是高性能和高穩定性的典型產品。
更新時間:2025-11-05
3h-2000pm2高性能比表面及孔徑分析儀屬于研究級儀器，可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數據，尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準確測試結果，可升級為雙站微孔測試功能，適用于對研發、實驗要求極高的科研單位和企業用戶。集裝閥門和管路設計，模塊化組裝，保證儀器高真空度和高密封性，是高性能和高穩定性的典型產品。
更新時間:2025-11-05
3h-2000pm高性能比表面及孔徑分析儀屬于研究級儀器，可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數據，尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準確測試結果，可升級為雙站微孔測試功能，適用于對研發、實驗要求極高的科研單位和企業用戶。集裝閥門和管路設計，模塊化組裝，保證儀器高真空度和高密封性，是高性能和高穩定性的典型產品。
更新時間:2025-11-05
3h-2000pm高性能比表面及孔徑分析儀屬于研究級儀器，可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數據，尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準確測試結果，可升級為雙站微孔測試功能，適用于對研發、實驗要求極高的科研單位和企業用戶。集裝閥門和管路設計，模塊化組裝，保證儀器高真空度和高密封性，是高性能和高穩定性的典型產品。
更新時間:2025-11-05
3h-2000pm高性能比表面及孔徑分析儀屬于研究級儀器，可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數據，尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準確測試結果，可升級為雙站微孔測試功能，適用于對研發、實驗要求極高的科研單位和企業用戶。集裝閥門和管路設計，模塊化組裝，保證儀器高真空度和高密封性，是高性能和高穩定性的典型產品。
更新時間:2025-11-05
3h-2000pm高性能比表面及孔徑分析儀屬于研究級儀器，可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數據，尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準確測試結果，可升級為雙站微孔測試功能，適用于對研發、實驗要求極高的科研單位和企業用戶。集裝閥門和管路設計，模塊化組裝，保證儀器高真空度和高密封性，是高性能和高穩定性的典型產品。
更新時間:2025-11-05
3h-2000pm高性能比表面及孔徑分析儀屬于研究級儀器，可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數據，尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準確測試結果，可升級為雙站微孔測試功能，適用于對研發、實驗要求極高的科研單位和企業用戶。集裝閥門和管路設計，模塊化組裝，保證儀器高真空度和高密封性，是高性能和高穩定性的典型產品。
更新時間:2025-11-05
3h-2000pm高性能比表面及孔徑分析儀屬于研究級儀器，可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數據，尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準確測試結果，可升級為雙站微孔測試功能，適用于對研發、實驗要求極高的科研單位和企業用戶。集裝閥門和管路設計，模塊化組裝，保證儀器高真空度和高密封性，是高性能和高穩定性的典型產品。
更新時間:2025-11-05
3h-2000ps1型比表面及孔徑分析儀，具有2個樣品預處理脫氣站，1個樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1%。測試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
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