比表面及孔徑分布分析儀產(chǎn)品及廠家
3h-2000ps4型比表面及孔徑分析儀，具有4個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，4個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍：比表面0.01m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類(lèi)型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌，遠(yuǎn)銷(xiāo)海外，獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專(zhuān)利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
更新時(shí)間:2025-11-05
3h-2000ps4型比表面及孔徑測(cè)試儀，具有4個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，4個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍：比表面0.01m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類(lèi)型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌，遠(yuǎn)銷(xiāo)海外，獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專(zhuān)利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
更新時(shí)間:2025-11-05
3h-2000ps4型比表面及孔徑測(cè)定儀，具有4個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，4個(gè)樣品分析站。測(cè)定精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)定范圍：比表面0.01m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類(lèi)型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌，遠(yuǎn)銷(xiāo)海外，獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專(zhuān)利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
更新時(shí)間:2025-11-05
3h-2000ps4型比表面及孔徑檢測(cè)儀，具有4個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，4個(gè)樣品分析站。測(cè)定精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)定范圍：比表面0.01m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類(lèi)型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌，遠(yuǎn)銷(xiāo)海外，獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專(zhuān)利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
更新時(shí)間:2025-11-05
3h-2000ps4型比表面及孔徑測(cè)量?jī)x，具有4個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，4個(gè)樣品分析站。測(cè)定精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)定范圍：比表面0.01m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類(lèi)型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌，遠(yuǎn)銷(xiāo)海外，獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專(zhuān)利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
更新時(shí)間:2025-11-05
3h-2000ps2型催化劑比表面積和孔徑分析儀，具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍：比表面0.01m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類(lèi)型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌，遠(yuǎn)銷(xiāo)海外，獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專(zhuān)利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先
更新時(shí)間:2025-11-05
3h-2000ps2型催化劑比表面積和孔徑測(cè)試儀，具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍：比表面0.01m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類(lèi)型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌，遠(yuǎn)銷(xiāo)海外，獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專(zhuān)利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
更新時(shí)間:2025-11-05
3h-2000ps2型催化劑比表面及孔徑分析儀，具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍：比表面0.01m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類(lèi)型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌，遠(yuǎn)銷(xiāo)海外，獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專(zhuān)利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
更新時(shí)間:2025-11-05
3h-2000ps2型納米材料比表面及孔徑分析儀，具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍：比表面0.01m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類(lèi)型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌，遠(yuǎn)銷(xiāo)海外，獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專(zhuān)利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
更新時(shí)間:2025-11-05
3h-2000ps2型納米材料比表面及孔徑分析儀，具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍：比表面0.01m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類(lèi)型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌，遠(yuǎn)銷(xiāo)海外，獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專(zhuān)利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
更新時(shí)間:2025-11-05
泡壓法膜材料孔徑分析儀應(yīng)用范圍濾膜、織物、纖維、紙張、陶瓷、燒結(jié)金屬等材料的貫通孔的孔徑分布及滲透率測(cè)試。
更新時(shí)間:2025-11-05
3h-2000pm1高性能比表面及微孔分析儀屬于研究級(jí)儀器，可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果，適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時(shí)間:2025-11-05
3h-2000pm2高性能比表面及微孔分析儀屬于研究級(jí)儀器，可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果，適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時(shí)間:2025-11-05
超高壓容量法氣體吸附儀產(chǎn)品特點(diǎn): 容量法高溫高壓吸附、脫附等溫線；低溫吸附、脫附等溫線，比表面及孔徑分析；測(cè)試氣體：ch4，n2，h2，co2，co，ar，kr等；1個(gè)分析站，1個(gè)p0站，2個(gè)脫氣處理站，共4個(gè)站位；壓力范圍：從高真空到最高200bar；配備進(jìn)口高真空絕壓0-1000torr和最高壓力絕壓0-200bar雙壓力傳感器；$r
更新時(shí)間:2025-11-05
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：3h-2000pm1高性能物理吸附儀屬于研究級(jí)儀器，可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果，可升級(jí)為雙站微孔測(cè)試功能，適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。集裝閥門(mén)和管路設(shè)計(jì)，模塊化組裝，保證儀器高真空度和高密封性，是高性能和高穩(wěn)定性的典型產(chǎn)品。
更新時(shí)間:2025-11-05
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：3h-2000phd高壓氣體吸附及常壓解吸速度分析儀屬于研究級(jí)儀器，不僅可以滿足多種氣體的高壓吸附脫附測(cè)試要求，可測(cè)試多種材料對(duì)不同氣體在不同壓力下的總吸附量，吸附常數(shù)等參數(shù)，還具有全自動(dòng)測(cè)試解吸附速和解吸氣體總量的功能，適用于分子篩、煤層氣、儲(chǔ)氫材料等研究高壓氣體吸附性能的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時(shí)間:2025-11-05
3h-2000ps4型比表面及孔徑分析儀，具有4個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，4個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測(cè)試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類(lèi)型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時(shí)間:2025-11-05
電池三元材料bet快速分析儀基于動(dòng)態(tài)法原理，采用he和n2混合氣流經(jīng)固體樣品表面，在液氮溫度下進(jìn)行吸附，內(nèi)置高靈敏度熱導(dǎo)池檢測(cè)器，檢測(cè)吸附前后氮?dú)鉂舛茸兓軌蚩焖俑咝y(cè)試多個(gè)樣品。尤其適合生產(chǎn)上產(chǎn)品質(zhì)量管控。
更新時(shí)間:2025-11-05
3h-2000ps6型六站式比表面及孔徑分析儀，具有6個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，6個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測(cè)試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類(lèi)型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌，遠(yuǎn)銷(xiāo)海外，獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專(zhuān)利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
更新時(shí)間:2025-11-05
3h-2000pm1高性能物理吸附儀屬于研究級(jí)儀器，可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果，可升級(jí)為雙站微孔測(cè)試功能，適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。集裝閥門(mén)和管路設(shè)計(jì)，模塊化組裝，保證儀器高真空度和高密封性，是高性能和高穩(wěn)定性的典型產(chǎn)品。
更新時(shí)間:2025-11-05
3h-2000ps1型比表面及孔徑分析儀，具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，1個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測(cè)試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類(lèi)型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌，遠(yuǎn)銷(xiāo)海外，獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專(zhuān)利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
更新時(shí)間:2025-11-05
3h-2000ph全自動(dòng)高壓氣體吸附儀屬于研究級(jí)儀器，可以滿足多種氣體的高溫高壓吸附脫附測(cè)試要求定制，可測(cè)試多種材料對(duì)不同氣體在不同壓力下的總吸附量，吸附常數(shù)等參數(shù)，適用于分子篩、煤層氣、儲(chǔ)氫材料等研究高壓氣體吸附性能的科研單位和企業(yè)用戶。全不銹鋼氣路系統(tǒng)，采用vcr硬連接，保證儀器高真空度和高密封性，是高性能和高穩(wěn)定性的典型產(chǎn)品。
更新時(shí)間:2025-11-05
3h-2000ps1型比表面及孔徑分析儀，具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，1個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測(cè)試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類(lèi)型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌，遠(yuǎn)銷(xiāo)海外，獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專(zhuān)利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
更新時(shí)間:2025-11-05
3h-2000ps1型比表面及孔徑分析儀，具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，1個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測(cè)試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類(lèi)型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時(shí)間:2025-11-05
3h-2000pm型多孔碳材料比表面及孔徑分析儀是一款研究級(jí)別的儀器，可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果，可升級(jí)為雙站微孔測(cè)試功能，適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時(shí)間:2025-11-05
貝士德3h-2000ps型比表面及孔徑分析儀，具有2/4個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，1/2/4個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測(cè)試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類(lèi)型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時(shí)間:2025-11-05
3h-2000pm型mofs材料比表面及微孔孔徑分析儀是一款研究級(jí)別的儀器，可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果，可升級(jí)為雙站微孔測(cè)試功能，適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時(shí)間:2025-11-05
貝士德3h-2000ps4型介孔mofs比表面及孔徑分析儀，具有4個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，4個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測(cè)試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類(lèi)型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時(shí)間:2025-11-05
3h-2000pm2型雙站式mofs比表面及孔徑分析儀是一款研究級(jí)別的儀器，可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果，適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時(shí)間:2025-11-05
3h-2000pm1高性能物理吸附儀屬于研究級(jí)儀器，可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果，可升級(jí)為雙站微孔測(cè)試功能，適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。集裝閥門(mén)和管路設(shè)計(jì)，模塊化組裝，保證儀器高真空度和高密封性，是高性能和高穩(wěn)定性的典型產(chǎn)品。
更新時(shí)間:2025-11-05
3h-2000pm型zif材料比表面及微孔分析儀是一款研究級(jí)別的儀器，可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果，適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時(shí)間:2025-11-05
3h-2000pm1碳納米管材料比表面及微孔分析儀屬于研究級(jí)儀器，可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果，可升級(jí)為雙站微孔測(cè)試功能，適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時(shí)間:2025-11-05
貝士德3h-2000ps型介孔材料比表面及孔徑分析儀，具有2/4個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，1/2/4個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測(cè)試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類(lèi)型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時(shí)間:2025-11-05
3h-2000pm1氣凝膠比表面及孔徑分析儀屬于研究級(jí)儀器，可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果，可升級(jí)為雙站微孔測(cè)試功能，適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時(shí)間:2025-11-05
貝士德3h-2000ps型石油基針狀焦比表面積分析儀，具有2/4個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，1/2/4個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測(cè)試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類(lèi)型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時(shí)間:2025-11-05
貝士德3h-2000ps型藥品比表面及孔徑分析儀，具有2/4個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，1/2/4個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測(cè)試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類(lèi)型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時(shí)間:2025-11-05
貝士德3h-2000ps型藥物比表面及孔徑分析儀，具有2/4個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，1/2/4個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測(cè)試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類(lèi)型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時(shí)間:2025-11-05
貝士德3h-2000ps型藥物比表面及孔徑分析儀，具有2/4個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，1/2/4個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測(cè)試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類(lèi)型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時(shí)間:2025-11-05
貝士德3h-2000ps型比表面及孔徑分析儀，具有2/4個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，1/2/4個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測(cè)試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類(lèi)型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時(shí)間:2025-11-05
貝士德3h-2000ps型比表面及孔徑分析儀，具有2/4個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，1/2/4個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測(cè)試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類(lèi)型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
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3h-2000td系列發(fā)泡塑料孔隙率測(cè)定儀由計(jì)算機(jī)控制全自動(dòng)運(yùn)行的氣體膨脹真密度分析系統(tǒng)，具有多項(xiàng)技術(shù)專(zhuān)利，獨(dú)創(chuàng)的測(cè)試方式，使其應(yīng)用領(lǐng)域較同類(lèi)儀器更廣，能準(zhǔn)確測(cè)定粉體、塊狀固體、漿狀物質(zhì)、泡沫等多種材料的真密度和孔隙率，適用于廣大研究機(jī)構(gòu)和企事業(yè)單位。
更新時(shí)間:2025-11-05
3h-2000td系列食用面包孔隙率測(cè)定儀由計(jì)算機(jī)控制全自動(dòng)運(yùn)行的氣體膨脹真密度分析系統(tǒng)，具有多項(xiàng)技術(shù)專(zhuān)利，獨(dú)創(chuàng)的測(cè)試方式，使其應(yīng)用領(lǐng)域較同類(lèi)儀器更廣，能準(zhǔn)確測(cè)定粉體、塊狀固體、漿狀物質(zhì)、泡沫等多種材料的真密度和孔隙率，適用于廣大研究機(jī)構(gòu)和企事業(yè)單位。
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貝士德3h-2000ps型多孔金屬顆粒比表面積分析儀，具有2/4個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，1/2/4個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測(cè)試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類(lèi)型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
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貝士德3h-2000ps型多孔陶瓷比表面及孔徑分析儀，具有2/4個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，1/2/4個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測(cè)試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類(lèi)型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
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貝士德3h-2000ps型多孔水泥建材比表面及孔徑分析儀，具有2/4個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，1/2/4個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測(cè)試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類(lèi)型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
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貝士德3h-2000ps型硅微粉比表面及孔徑分析儀，具有2/4個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，1/2/4個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測(cè)試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類(lèi)型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
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貝士德3h-2000ps型硅藻泥材料比表面及孔徑分析儀，具有2/4個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，1/2/4個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測(cè)試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類(lèi)型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
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貝士德3h-2000ps型二氧化硅粉末比表面積分析儀，具有2/4個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，1/2/4個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1%。測(cè)試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類(lèi)型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
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3h-2000pm2比表面積及孔徑分析儀屬于研究級(jí)儀器，可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果，適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時(shí)間:2025-11-05
3h-2000pm2比表面積及孔徑分析儀屬于研究級(jí)儀器，可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果，適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。
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