X射線衍射儀產品及廠家
x射線衍射分析方法可實現無損的物相定性和定量分析,而且利用衍射峰位,衍射峰強度,衍射峰線形等信息可以進行材料晶體結構的表征,如:點陣常數的精密測定,晶粒尺寸和微觀應變計算,宏觀殘余應力測定,結晶度計算等;x射線衍射分析方法是材料微觀結構表征最常規和最有效的方法之一。
更新時間:2025-10-27
ｘ射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進行物質的定性分析、晶格常數確定和應力測定等，可通過峰面積計算進行定量分析， 可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結晶度/精密ｘ射線結構解析等各種分析。
更新時間:2025-10-27
島津ｘ射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進行物質的定性分析、晶格常數確定和應力測定等。并且，可通過峰面積計算進行定量分析。，可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結晶度/精密ｘ射線結構解析等各種分析。0755-3150
更新時間:2025-10-27
ｘ射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進行物質的定性分析、晶格常數確定和應力測定等，可通過峰面積計算進行定量分析。，可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結晶度/精密ｘ射線結構解析等各種分析。
更新時間:2025-10-27
ｘ射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進行物質的定性分析、晶格常數確定和應力測定等。并且，可通過峰面積計算進行定量分析。 可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結晶度/精密ｘ射線結構解析等各種分析。0755-3150
更新時間:2025-10-27
x射線衍射世界的革新產品，重新定義了多功能x射線衍射儀的概念。新型的 empyrean 銳影是首款全自動多功能衍射儀，無需任何人工干預即可進行廣泛的測量。
更新時間:2025-10-27
全球領先的 x 射線分析儀器和軟件供應商帕納科宣布推出全新的 aeris 臺式 x 射線粉末衍射儀(xrd)。這款新系統的主要優點是易于使用并可為客戶帶來諸多好處，能夠快速、精確地提供被測材料的物相信息。
更新時間:2025-10-27
empyrean銳影x射線衍射系統是荷蘭帕納科公司繼x’pert 專家系統后，十年一劍，推出的全新x射線衍射儀，是唯一可滿足當前4大類x-射線分析要求的平臺，即衍射、散射、反射和ct影像x射線分析平臺，樣品可以是粉末，薄膜，納米材料，塊狀材料。
更新時間:2025-10-27
x´pert pro mrd/xl是高級半導體材料的標準裝備，用于： 高級材料科學和納米技術，半導體材料研究和生產質量控制，可以適用各種應用，尤其適合薄膜分析，
更新時間:2025-10-27
cubix3 x射線衍射儀是帕納科公司(原飛利浦分析儀器)最開發出的專門用于工業領域產品開發，質量控制的x射線衍射儀。廣泛應用于鋁行業，石油化工行業，鋼鐵行業等工業領域。
更新時間:2025-10-27
d2 phaser是德國布魯克axs公司最新推出的桌面型多晶x射線衍射儀，通過bragg-brentano幾何，可以獲得高質量的衍射數據，用于定性、定量分析。
更新時間:2025-10-27
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