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      元器件測(cè)試產(chǎn)品及廠家

      結(jié)電容測(cè)試儀
      華科智源結(jié)電容測(cè)試儀,可以測(cè)試mos管,igbt,sic器件的柵電阻和柵電容,包含ciss 輸入電容 coss 輸出電容 crss 反向電容,rg等參數(shù),可以單點(diǎn)測(cè)試,也可以?huà)呙铚y(cè)試曲線;
      更新時(shí)間:2025-11-05
      cv曲線測(cè)試儀
      華科智源結(jié)電容測(cè)試儀,可以測(cè)試mos管,igbt,sic器件的柵電阻和柵電容,包含ciss 輸入電容 coss 輸出電容 crss 反向電容,rg等參數(shù),可以單點(diǎn)測(cè)試,也可以?huà)呙铚y(cè)試曲線;
      更新時(shí)間:2025-11-05
      柵電阻/電容測(cè)試儀
      華科智源結(jié)電容測(cè)試儀,可以測(cè)試mos管,igbt,sic器件的柵電阻和柵電容,包含ciss 輸入電容 coss 輸出電容 crss 反向電容,rg等參數(shù),可以單點(diǎn)測(cè)試,也可以?huà)呙铚y(cè)試曲線;
      更新時(shí)間:2025-11-05
      晶體管圖示儀
      設(shè)備擴(kuò)展性強(qiáng),通過(guò)選件可以提高電壓、電流和測(cè)試品種范圍。在pc窗口提示下輸入被測(cè)器件的測(cè)試條件點(diǎn)擊即可完成測(cè)試任務(wù)。系統(tǒng)采用帶有開(kāi)爾文感應(yīng)結(jié)構(gòu)的測(cè)試插座,自動(dòng)補(bǔ)償由于系統(tǒng)內(nèi)部及測(cè)試電纜長(zhǎng)度引起的任何壓降,保證測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確可靠。
      更新時(shí)間:2025-11-05
      分立器件測(cè)試儀
      設(shè)備擴(kuò)展性強(qiáng),通過(guò)選件可以提高電壓、電流和測(cè)試品種范圍。在pc窗口提示下輸入被測(cè)器件的測(cè)試條件點(diǎn)擊即可完成測(cè)試任務(wù)。系統(tǒng)采用帶有開(kāi)爾文感應(yīng)結(jié)構(gòu)的測(cè)試插座,自動(dòng)補(bǔ)償由于系統(tǒng)內(nèi)部及測(cè)試電纜長(zhǎng)度引起的任何壓降,保證測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確可靠。
      更新時(shí)間:2025-11-05
      IGBT靜態(tài)參數(shù)測(cè)試儀
      華科智源功率器件測(cè)試儀,測(cè)試二管 、igbt,mos管,sic器件靜態(tài)參數(shù),并生產(chǎn)器件傳輸曲線和轉(zhuǎn)移曲線,測(cè)試1600a,5000v以下的各種功率器件,廣泛應(yīng)用于器件設(shè)計(jì),封裝測(cè)試,軌道交通,電動(dòng)汽車(chē) ,風(fēng)力發(fā)電,變頻器,焊機(jī)等行業(yè)的igbt來(lái)料選型和失效分析。
      更新時(shí)間:2025-11-05
      動(dòng)態(tài)H3TRB測(cè)試服務(wù)/設(shè)備
      華科智源基于多年可靠性測(cè)試經(jīng)驗(yàn)所研發(fā)的功率器件動(dòng)態(tài)可靠性測(cè)試系統(tǒng)psl-dh3trb適用于sic-mosfet 單管和模塊的動(dòng)態(tài)可靠性測(cè)試。通過(guò)自主設(shè)計(jì)的驅(qū)動(dòng)電源/驅(qū)動(dòng)電路/測(cè)試工裝等關(guān)鍵零部件,獲得市場(chǎng)上化的開(kāi)關(guān)速度與開(kāi)關(guān)頻率,其測(cè)試效果已獲得世界知名廠商認(rèn)可。
      更新時(shí)間:2025-11-05
      首件檢測(cè)儀 華科智源 首件檢測(cè)儀價(jià)格 首件檢測(cè)儀廠家 華科智源
      華科智源專(zhuān)業(yè)提供首件檢測(cè)儀,首件檢測(cè)儀請(qǐng)選擇專(zhuān)業(yè)的華科智源團(tuán)隊(duì),提升一倍的效率,是必不可少的工具。對(duì)于smt工廠而言,除了貼片機(jī)之外的輔助設(shè)備,華科智源的首件檢測(cè)儀是效果最好的。回溯功能,自動(dòng)防呆,都是產(chǎn)品的亮點(diǎn)。
      更新時(shí)間:2025-11-05
      IGBT動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)及IGBT動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試儀 華科智源
      華科智源大功率igbt測(cè)試系統(tǒng)設(shè)備主要針對(duì)igbt及mos管的動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試儀,適用于芯片設(shè)計(jì),產(chǎn)線封裝測(cè)試及新能源汽車(chē),風(fēng)力發(fā)電,地鐵交通等領(lǐng)域的大功率器件及模塊測(cè)試,設(shè)備模塊化程度高,測(cè)試穩(wěn)定性及測(cè)試精度在客戶(hù)端已經(jīng)廣泛使用。可以根據(jù)就用戶(hù)需求進(jìn)行定制。
      更新時(shí)間:2025-11-05
      IGBT靜態(tài)參數(shù)測(cè)試儀 華科智源 HUSTEC-1200A-MT 檢修用IGBT測(cè)試儀
      華科智源hustec-1200a-mt電參數(shù)測(cè)試儀可用于多種封裝形式的 igbt測(cè)試,還可以測(cè)量大功率二極管 、igbt模塊,大功率 igbt、大功率雙極型晶體管,mos管等器件的 v-i 特性測(cè)試,測(cè)試1200a,5000v以下的各種功率器件,廣泛應(yīng)用于軌道交通,電動(dòng)汽車(chē) ,風(fēng)力發(fā)電,變頻器,焊機(jī)行業(yè)的igbt來(lái)料選型和失效分析,設(shè)備還可以用于變頻器,風(fēng)電,軌道交通,電焊機(jī)在線檢修。
      更新時(shí)間:2025-11-05
      半導(dǎo)體功率器件靜態(tài)參數(shù)測(cè)試儀
      華科智源功率器件測(cè)試儀,測(cè)試二管 、igbt,mos管,sic器件靜態(tài)參數(shù),并生產(chǎn)器件傳輸曲線和轉(zhuǎn)移曲線,測(cè)試1600a,5000v以下的各種功率器件,廣泛應(yīng)用于器件設(shè)計(jì),封裝測(cè)試,軌道交通,電動(dòng)汽車(chē) ,風(fēng)力發(fā)電,變頻器,焊機(jī)等行業(yè)的igbt來(lái)料選型和失效分析。
      更新時(shí)間:2025-11-05
      霍爾效應(yīng)測(cè)試儀—高低溫磁場(chǎng)型變溫測(cè)試設(shè)備
      霍爾效應(yīng)測(cè)試儀—高低溫磁場(chǎng)型變溫測(cè)試設(shè)備本儀器系統(tǒng)由:電磁鐵、電磁鐵電源、*精度恒流源高精度電壓表、高斯計(jì)、霍爾效應(yīng)樣品支架、標(biāo)準(zhǔn)樣品、高低溫杜瓦,控溫儀,系統(tǒng)軟件。
      更新時(shí)間:2025-11-05
      熱流儀、冷熱循環(huán)沖擊測(cè)試機(jī)
      熱流儀、冷熱循環(huán)沖擊測(cè)試機(jī)廣泛應(yīng)用于通信、半導(dǎo)體、芯片、傳感器、微電子等域。在短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)樣品因高低溫冷熱沖擊所引起的化學(xué)變化和物理傷害,減少測(cè)試與驗(yàn)證時(shí)間,快速提高產(chǎn)品研發(fā)和生產(chǎn)效率。
      更新時(shí)間:2025-11-05
      QJ36數(shù)字電橋,數(shù)字導(dǎo)體電阻測(cè)試儀
      qj36數(shù)字電橋,數(shù)字導(dǎo)體電阻測(cè)試儀具有價(jià)格低廉、測(cè)量精度高、性能穩(wěn)、使用方便等特點(diǎn),它適用于測(cè)量各種電線、電纜的電阻值、各類(lèi)線圈、電動(dòng)機(jī)、變壓器繞組的電阻,特別是具有自校功能,提高儀器的精度,省去了操作人員的送檢時(shí)間。因此該儀器廣泛應(yīng)用工廠、科研單位的工作場(chǎng)地和實(shí)驗(yàn)室。
      更新時(shí)間:2025-11-05
      USB2.0測(cè)試平臺(tái),測(cè)試服務(wù),硬件測(cè)試,一致性測(cè)試 USB3.0信號(hào)質(zhì)量測(cè)試 USB3.0眼圖測(cè)試 USB3.0一致性
      usb3.0、usb2.0一致性測(cè)試、lfps測(cè)試、lfps測(cè)試、眼圖與抖動(dòng)測(cè)試、ssc測(cè)試
      更新時(shí)間:2025-11-05
      信號(hào)完整性測(cè)試SI 電源完整性測(cè)試P HDMI接口一致性測(cè)試 USB3.0一致性測(cè)試 以太一致性測(cè)試
      spi測(cè)試,硬件測(cè)試服務(wù),信號(hào)完整性測(cè)試,電源完整性測(cè)試
      更新時(shí)間:2025-11-05
      元器件模型提取
      元器件模型提取是指在電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化(eda)中,從實(shí)際的元器件(如電阻、電容、晶體管等)或電路中提取其電氣特性并建立相應(yīng)的數(shù)學(xué)模型的過(guò)程。這一過(guò)程通常用于電路仿真,以便在設(shè)計(jì)階段能夠更準(zhǔn)確地預(yù)測(cè)電路的性能。
      更新時(shí)間:2025-11-05
      協(xié)會(huì) PCIE5.0 一致性測(cè)試 夾具 OCP3.0 Gen5 CBB
      淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷(xiāo)售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
      更新時(shí)間:2025-11-05
      協(xié)會(huì) PCIE5.0 一致性測(cè)試 夾具 OCP3.0 Gen5 CLB
      淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷(xiāo)售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
      更新時(shí)間:2025-11-05
      淼森波實(shí)驗(yàn)室 協(xié)會(huì) PCIE5.0 夾具 M.2 Gen5 CBB
      淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷(xiāo)售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
      更新時(shí)間:2025-11-05
      協(xié)會(huì) PCIE5.0 一致性測(cè)試 夾具 M.2 Gen5 CLB
      淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷(xiāo)售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
      更新時(shí)間:2025-11-05
      協(xié)會(huì) PCIE5.0 一致性測(cè)試 夾具 EDSFF(E1.S/E1.L) Gen5 CBB
      淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷(xiāo)售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
      更新時(shí)間:2025-11-05
      協(xié)會(huì) PCIE5.0 一致性測(cè)試 夾具 EDSFF(E1.S/E1.L) Gen5 CLB
      淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷(xiāo)售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
      更新時(shí)間:2025-11-05
      協(xié)會(huì) PCIE5.0  一致性測(cè)試 夾具 U.3 (NVME) Gen5 CBB
      淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷(xiāo)售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
      更新時(shí)間:2025-11-05
      協(xié)會(huì) PCIE5.0  一致性測(cè)試 夾具 U.3 (NVME) Gen5 CLB
      淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷(xiāo)售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
      更新時(shí)間:2025-11-05
      協(xié)會(huì) PCIE5.0  一致性測(cè)試 夾具 U.2 (NVME) Gen5 CBB
      淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷(xiāo)售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
      更新時(shí)間:2025-11-05
      協(xié)會(huì) PCIE5.0  一致性測(cè)試 夾具 U2 (NVME) Gen5 CLB
      淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷(xiāo)售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
      更新時(shí)間:2025-11-05
      淼森波實(shí)驗(yàn)室 協(xié)會(huì) PCIE5.0 夾具 OCP3.0 Gen5 CBB
      淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷(xiāo)售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
      更新時(shí)間:2025-11-05
      淼森波實(shí)驗(yàn)室 協(xié)會(huì) PCIE5.0 夾具 OCP3.0 Gen5 CLB
      淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷(xiāo)售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
      更新時(shí)間:2025-11-05
      淼森波實(shí)驗(yàn)室 協(xié)會(huì) PCIE5.0 夾具 M.2 Gen5 CBB
      淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷(xiāo)售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
      更新時(shí)間:2025-11-05
      淼森波實(shí)驗(yàn)室 協(xié)會(huì) PCIE5.0 夾具 M.2 Gen5 CLB
      淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷(xiāo)售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
      更新時(shí)間:2025-11-05
      淼森波實(shí)驗(yàn)室 協(xié)會(huì) PCIE5.0 夾具 EDSFF(E1.S/E1.L) Gen5 CBB
      淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷(xiāo)售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
      更新時(shí)間:2025-11-05
      淼森波實(shí)驗(yàn)室 協(xié)會(huì) PCIE5.0 夾具 EDSFF(E1.S/E1.L) Gen5 CLB
      淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷(xiāo)售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
      更新時(shí)間:2025-11-05
      淼森波實(shí)驗(yàn)室 協(xié)會(huì) PCIE5.0 夾具 U.3(NVME) Gen5 CBB
      淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷(xiāo)售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
      更新時(shí)間:2025-11-05
      淼森波實(shí)驗(yàn)室 協(xié)會(huì) PCIE5.0 夾具 U.3 (NVME) Gen5 CLB
      淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷(xiāo)售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
      更新時(shí)間:2025-11-05
      淼森波實(shí)驗(yàn)室 協(xié)會(huì) PCIE5.0 夾具 U2 (NVME) Gen5 CBB
      淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷(xiāo)售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
      更新時(shí)間:2025-11-05
      PCIE5.0 夾具 驗(yàn)證,調(diào)試和一到性測(cè)試解決方案
      淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷(xiāo)售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
      更新時(shí)間:2025-11-05
      淼森波實(shí)驗(yàn)室 協(xié)會(huì) PCIE5.0 夾具 U2 (NVME) Gen5 CLB
      淼森波實(shí)驗(yàn)室 “協(xié)匯“ pcie5.0 夾具,pcie5.0 夾具銷(xiāo)售(u.2(nvme) clb/cbb; u.3(nvme) clb/cbb; edsff(e1.s/e1.l) clb/cbb; m.2 clb/cbb; ocp3.0 clb/cbb; re-driver board)
      更新時(shí)間:2025-11-05
      三相氧化鋅避雷器帶電測(cè)試儀
      三相氧化鋅避雷器帶電測(cè)試儀氧化鋅避雷器帶線測(cè)試儀是用于檢測(cè)氧化鋅避雷器電氣性能的用儀器,該儀器適用于各種電壓等的氧化鋅避雷器的帶電或停電檢測(cè),從而及時(shí)發(fā)現(xiàn)設(shè)備內(nèi)部絕緣受潮及閥片老化等危險(xiǎn)缺陷。
      更新時(shí)間:2025-11-04
      精密電流源國(guó)產(chǎn)SMU源表
      普賽斯源表精確提供四象限電壓或電流,并同步測(cè)量電流和電壓;可以實(shí)現(xiàn)電源、萬(wàn)用表、電子負(fù)載、電源/測(cè)量組合功能;用途:精確提供和測(cè)量電壓和/或電流,廣泛應(yīng)用于各種電器特性參數(shù)測(cè)試中,如iv掃描
      更新時(shí)間:2025-11-03
      半導(dǎo)體分立器件電性能分析數(shù)字源表高精度IV曲線掃描
      s200型數(shù)字源表精確提供四象限電壓或電流,并同步測(cè)量電流和電壓;可以實(shí)現(xiàn)電源、萬(wàn)用表、電子負(fù)載、電源/測(cè)量組合功能;用途:精確提供和測(cè)量電壓和/或電流,廣泛應(yīng)用于各種電器特性參數(shù)測(cè)試中
      更新時(shí)間:2025-11-03
      國(guó)產(chǎn)數(shù)字源表-集5臺(tái)儀表功能于一體
      國(guó)產(chǎn)數(shù)字源表同時(shí)精確提供測(cè)量電壓和電流,減少了測(cè)試時(shí)間。如果被測(cè)設(shè)備實(shí)際電壓值或者電流值達(dá)到了用戶(hù)設(shè)置的限制值,那么電壓或者電流會(huì)被精確的限制住,避免了對(duì)被測(cè)設(shè)備造成損壞。
      更新時(shí)間:2025-11-03
      雙性電源數(shù)字源表
      雙性電源數(shù)字源表是普賽斯歷時(shí)多年打造的高精度、大動(dòng)態(tài)范圍、數(shù)字觸摸的率先國(guó)產(chǎn)化的源表,集電壓、電流輸入輸出及測(cè)量等多種功能,大輸出電壓達(dá) 300v,小測(cè)試電流達(dá) 100pa,支持四象限工作
      更新時(shí)間:2025-11-03
      數(shù)字源表國(guó)產(chǎn)品牌市場(chǎng)報(bào)價(jià)
      普賽斯數(shù)字源表精度高,測(cè)試效率高,可進(jìn)行超低電流和高電壓測(cè)試,國(guó)產(chǎn)自主研發(fā),替代進(jìn)口,價(jià)格實(shí)惠,數(shù)字源表國(guó)產(chǎn)品牌市場(chǎng)報(bào)價(jià)認(rèn)準(zhǔn)普賽斯儀表咨詢(xún)
      更新時(shí)間:2025-11-03
      電參數(shù)性能測(cè)試源表+源表精度
      普賽斯數(shù)字源表集電壓源、電流源、電壓表、電流表、電子負(fù)載功能于一體,支持四象限工作、微弱電流10pa輸出測(cè)量、3500v高壓下na測(cè)量、1000a脈沖大電流輸出,全系列產(chǎn)品豐富,電參數(shù)性能測(cè)試源表+源表精度認(rèn)準(zhǔn)普賽斯儀表咨詢(xún)
      更新時(shí)間:2025-11-03
      同步測(cè)量IV電流電壓數(shù)字源表價(jià)格多少
      普賽斯數(shù)字源表集電壓源、電流源、電壓表、電流表、電子負(fù)載功能于一體,支持四象限工作、微弱電流10pa輸出測(cè)量、3500v高壓下na測(cè)量、1000a脈沖大電流輸出,全系列產(chǎn)品豐富,同步測(cè)量iv電流電壓數(shù)字源表價(jià)格多少找普賽斯儀表
      更新時(shí)間:2025-11-03
      微弱電流100pA電壓300V掃描數(shù)字源表
      武漢普賽斯是國(guó)內(nèi)醉早生產(chǎn)源表的廠家,產(chǎn)品系列豐富:產(chǎn)品覆蓋不同的電壓、電流范圍,產(chǎn)已經(jīng)過(guò)了市場(chǎng)的考驗(yàn)、市面有近500臺(tái)源表在使用,市場(chǎng)應(yīng)用率高;sxxb系列高精度數(shù)字源表,相比于傳統(tǒng)s系列源表,直流更大、精度更高、準(zhǔn)確度提升至±0.03%,直流電流升至3a,可為半導(dǎo)體行業(yè)提供更加精準(zhǔn)、穩(wěn)定的測(cè)試方案,微弱電流100pa電壓300v掃描數(shù)字源表認(rèn)準(zhǔn)普賽斯儀表
      更新時(shí)間:2025-11-03
      國(guó)產(chǎn)源表全國(guó)聯(lián)保
      普賽斯s系列源表精度高,測(cè)試效率高,可進(jìn)行超低電流和高電壓測(cè)試,國(guó)產(chǎn)自主研發(fā),替代進(jìn)口,價(jià)格實(shí)惠!大輸出電壓達(dá)300v,小測(cè)試電流達(dá)100pa,支持四象限工作
      更新時(shí)間:2025-11-03
      源表品牌+源表國(guó)產(chǎn)廠家-普賽斯儀表
      與只能做單點(diǎn)測(cè)量的數(shù)字多用表不同,普賽斯數(shù)字源表由于其內(nèi)置了源功能,所以可以用來(lái)生成一組電流-電壓(i-v)特性曲線,大大提高了測(cè)試效率,s系列源表精度高,可進(jìn)行超低電流和高電壓測(cè)試,價(jià)格優(yōu)惠!
      更新時(shí)間:2025-11-03
      1200V半導(dǎo)體參數(shù)分析儀CV+IV測(cè)試儀
      spa-6100型1200v半導(dǎo)體參數(shù)分析儀cv+iv測(cè)試儀可以幫助用戶(hù)根據(jù)測(cè)試需要,靈活選配測(cè)量單元進(jìn)行升。產(chǎn)品支持z高1200v電壓、100a大電流、1pa小電流分辨率的測(cè)量,同時(shí)檢測(cè)10khz至1mhz范圍內(nèi)的多頻ac電容測(cè)量
      更新時(shí)間:2025-11-03

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